[其他]狹縫X射線照像裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 85106558 | 申請日: | 1985-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN85106558A | 公開(公告)日: | 1987-03-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 西蒙·杜英克;雨果·夫拉斯布勞姆 | 申請(專利權(quán))人: | 老代爾夫特光學(xué)工業(yè)有限公司 |
| 主分類號: | G03B42/02 | 分類號: | G03B42/02 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會專利代理部 | 代理人: | 張衛(wèi)民 |
| 地址: | 荷蘭代爾夫特*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 狹縫 射線 裝置 | ||
1、一種狹縫X射線照像裝置,包括一個X射線源,利用該X射線源可以使通過一個狹縫光闌的一束基本上為平面扇形的X射線對一個接受輻射的物體進(jìn)行掃描,穿過該物體的掃描X射線束照射到一個X射線檢測器上,其特征在于:
該裝置包括與狹縫光闌協(xié)同動作的多個可控衰減元件,每一元件在由一個輻射檢測裝置產(chǎn)生的信號的控制下被用于影響掃描X射線束的一個部份;
該輻射檢測裝置被安置在接受輻射的物體和X射線檢測器之間;
該輻射檢測裝置包括至少一個輻射檢測器,該輻射檢測器在任何時刻都探伸到穿過物體的掃描X射線束之中并與X射線束的掃描運動進(jìn)行同步運動,該輻射檢測裝置被分隔為多個部份,以便對應(yīng)于可受衰減元件影響的掃描X射線束的各個部份,同時,在工作時,該輻射檢測裝置的每一部分都產(chǎn)生一個可用于控制衰減元件的信號。
2、根據(jù)權(quán)利要求1的裝置,其特征在于:該輻射檢測器包括一個X射線熒光屏,并且其輻射檢測裝置另外包括置于掃描X射線束范圍之外的多個并行排列的透鏡,每一透鏡用于收集在掃描X射線束的作用下X射線熒光屏的一個給定部份上產(chǎn)生的光線,并將上述光線引向一個附屬的光檢測器,將光信號轉(zhuǎn)換為電信號。
3、根據(jù)權(quán)利要求2的裝置,其特征在于:其X射線熒光屏被分成多個并行排列并且相互隔離的部份。
4、根據(jù)權(quán)利要求2的裝置,其特征在于:其X射線熒光屏以銳角伸入掃描X射線束。
5、根據(jù)權(quán)利要求1的裝置,其特征在于:其輻射檢測器包括多個并行排列的發(fā)光晶體元件,每一個元件的處于掃描X射線束以外的一面與產(chǎn)生電信號的光檢測器進(jìn)行光耦合。
6、根據(jù)權(quán)利要求5的裝置,其特征在于:每一發(fā)光晶體元件在除了與光檢測器耦合的部份外的全部外表面都涂有向內(nèi)側(cè)的反射層。
7、根據(jù)權(quán)利要求1的裝置,其特征在于:其輻射檢測器包括多個并行排列的電離室,每個電離室具有兩個彼此相對的電極,在工作時電極導(dǎo)通電流,從中導(dǎo)出用于衰減元件的控制信號。
8、根據(jù)權(quán)利要求7的裝置,其特征在于:其多個電離室結(jié)合成一個長條形電離室,該電離室具有多個分離安置的第一電極和一個共用的第二電極。
9、根據(jù)權(quán)利要求8的裝置,其特征在于:在長條形的電離室內(nèi)每一對相鄰的第一電極之間安置了一個隔離件。
10、根據(jù)權(quán)利要求9的裝置,其特征在于:各個隔離件中,每一個都指向X射線源的焦點。
11、根據(jù)權(quán)利要求1的裝置,其特征在于:其輻射檢測裝置固定在一個臂上,該臂由狹縫光闌向X射線探測器方向伸展并超過接受輻射的物體,上述臂能夠分別在一個垂直的和水平的平面內(nèi)旋轉(zhuǎn),這些平面分別對應(yīng)于通過X射線源焦點的沿水平和垂直方向伸展的直線,并且上述臂在其靠近X射線檢測器的一端裝有一個帶有輻射檢測器的附加臂。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于老代爾夫特光學(xué)工業(yè)有限公司,未經(jīng)老代爾夫特光學(xué)工業(yè)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/85106558/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





