[其他]測量樣品折射率的方法

無效

• 申請號: 85102907
• 申請日: 1985-07-16
• 公開（公告）號: CN85102907B
• 公開（公告）日: 1988-12-07
• 發明（設計）人: 冷長庚
• 申請（專利權）人: 冷長庚
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41
• 代理公司: 電子工業部專利服務中心
• 代理人: 張桂霞

1、一種測量樣品折射率的方法，使用由激光器、棱鏡、探測器、電路和測量系統所構成的折射儀測量，該折射儀的激光器是氣體激光器或固體激光器或可調諧激光器，該折射儀的棱鏡為一個等腰三角形或等腰梯形，該棱鏡是由玻璃或晶體制作的固體棱鏡或是由帶有兩個透明通光口和一個水平樣品臺的棱鏡形狀的金屬容器內盛液體所構成的液體棱鏡或是由容器和高壓氣體構成的氣體棱鏡，其特征在于：

（一）測定固體或液體或氣體樣品折射率的真值，確定其變化范圍;

（二）將激光器的一束光，垂直投射到折射率為n_o的棱鏡的一個面上，測量前利用γ形曲線的校準段對折射儀進行自校準，使測量系統〔5〕上的讀數為100%，此時折射儀處于全反射狀態;

（三）對于折射率n小于n₀大于n₀Sinφ（φ是入射角）的樣品，利用γ形曲線的精測段測量，對于折射率n大于n₀的樣品，利用γ形曲線的粗測段測量;

2、按照權利要求1所述的測量樣品折射率的方法，其特征在于：

步驟（二）中使用了激光器的兩束光，其中垂直投射到折射率為n₀的棱鏡的一個鏡面上是激光器〔1〕的一個光束，由探測器〔3〕探測，第二束的光強由同型號的另一個探測器〔3′〕探測，測量前調整兩個探測器信號的放大倍數，使兩個信號放大后相等，在每次測量中，測量系統〔5〕都將探測器〔3〕的信號除以探測器〔3′〕的信號，以補償由于電源電壓、溫度等外界條件的變化所引起的光源輸出功率的波動。

3、按照權利要求1所述的測量樣品折射率的方法，其特征在于：步驟（一）用上述折射儀測定樣品折射率的真值

（1）對固體樣品：當用其折射率稍低于n₁的已知固體樣品替換時，若讀數增大，則n＝n₁;若讀數減小，則n＝n_r，當用其折射率稍高于n_r的已知樣品替換時，若讀數減小，則n＝n₁;若讀數增大，則n＝n_r。

（2）對液體樣品：當用少量的已知的折射率稍低于n₁的液體稀釋被測樣品時，若讀數增大，則n＝n₁;若讀數減小，則n＝n_r。或者，當用少量的已知的折射率稍高于n_r的液體“加稠”被測樣品時，若讀數減小，則n＝n₁;若讀數增大，則n＝n_r。

（3）對氣體樣品：當氣體的濃度（或壓力）減小時，若讀數增大，則n＝n₁;若讀數減小，則n＝n_r。或者，當氣體濃度增大時，若讀數減小，則n＝n₁;若讀數增大，則n＝n_r。