[其他]激光測(cè)量錐腔型探測(cè)器

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 85100696
• 申請(qǐng)日: 1985-04-01
• 公開（公告）號(hào): CN85100696A
• 公開（公告）日: 1986-10-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王樹鐸;何啟楦;榮淑芹
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院物理研究所
• 主分類號(hào): G01J1/04
• 分類號(hào): G01J1/04
• 代理公司: 中國(guó)科學(xué)院物理研究所專利辦公室
• 代理人: 高存秀

1、一種由吸收體、微型金屬熱電偶組成的激光測(cè)量用錐腔型探測(cè)器，其特征在于：所說的錐腔體是用使碳原子定向沉積在一個(gè)預(yù)制好的模具上，經(jīng)脫模而制成的。

2、一種按權(quán)利要求1所述的激光測(cè)量用錐腔型探測(cè)器，其特征在于：錐腔體是在高溫、負(fù)壓、氮?dú)夥障拢商細(xì)浠衔锪呀夂?，使碳原子定向沉積在園錐型金屬模具壁上，其模具底園的直徑為10mm～60mm之間。

3、一種按權(quán)利要求1、2所述的激光測(cè)量用錐腔型探測(cè)器，其特征在于：用真空蒸鍍的方法在錐腔體外壁上形成一層導(dǎo)熱良好而絕緣的介質(zhì)膜，膜厚可在0.5～5微米之間。