[其他]取法生產熒光級氧化鑭的工藝方法無效
| 申請號: | 85100148 | 申請日: | 1985-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN85100148B | 公開(公告)日: | 1987-08-26 |
| 發明(設計)人: | 莊永能;徐景明;孟祖貴;宋崇立;張偉;朱永∴ | 申請(專利權)人: | 清華大學 |
| 主分類號: | C01F17/00 | 分類號: | C01F17/00;B01D11/04 |
| 代理公司: | 清華大學專利事務所 | 代理人: | 張志東,姚桂芬 |
| 地址: | 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 取法 生產 熒光 氧化 工藝 方法 | ||
本發明屬于化學工藝方法
熒光級氧化鑭作為X-光增感屏,投影電視熒光粉等的原料,應用日趨廣泛。生產熒光級氧化鑭可以用離子交換,溶劑萃取等方法。但離子交換法成本高、產量小、工業生產很少應用。法國羅納·普朗克公司和美國鉬公司用溶劑萃取法生產熒光級氧化鑭,但其具體技術未見專利和文獻報導。
本發明適用于從獨居石和其它稀土礦物所得氧化鑭的深度加工,即生產熒光級氧化鑭。
以獨居石為原料生產的氧化鑭中,含有放射性元素及多種非放射性雜質(其它稀土、鈣、鐵、銅、硅等)。用工業上現有的工藝方法,可使非放射性雜質含量達到熒光級標準,而放射性的去除一直是比較困難的問題。氧化鑭中總α放射性強度約為n×10-6居里/公斤氧化鑭,比要求高出兩個數量級以上。因此,生產熒光級產品的關鍵是氧化鑭中放射性的去除。
我們用多種方法研究了氧化鑭中放射性的組成情況。發現其中含有三天然放射系的諸核素如U285、U234、Th228、Pa231、Ra228,Ra226、Ac227、Pb210o210在這些核素中,Ac227的子體是造成氧化鑭α放射性污染的主要原因。
本發明選用的萃取劑為酸性磷類萃取劑:HEH-EHP(P507)HDEHP(P204),其結構式為
HEHEHP(P507)
HDEHP(P204)
式中R為2-乙基己基
萃取采用的有機相為萃取劑的煤油溶液,根據需要,萃取劑配成不同的濃度,并用氨水進行均相皂化,使其具有一定的皂化度。水相料液為鑭的硝酸水溶液。
當有機相和水相充分接觸時,在一定條件下,鈾、釷、鑭等元素按陽離子交換機理被萃入有機相。
Mn++n(HA)2M(HA2)n〉+nH+
而錒、鐳、鈣、鉛等仍留在水相。用合適的稀硝酸反萃液化萃有機相,鑭反萃下來而鈾、釷、鏷留在有機相,鑭反萃液用草酸沉淀、灼燒,得到熒光級氧化鑭產品。
本發明給出了HEHEHP煤油-HNO3體系、HDEHP煤油-HNO3體系下鑭、錒的分配比,分離系數數學模型公式:
一、HEHEHP煤油-HNO3體系
a)當PN=1.15~20C=0.032~0.83M時
DLa=0.076×1.52P×C(1.04-0.96×P)
×(0.033×H×P-P2+0.044×H)
DAC=0.013×1.001P×C(0.83-0.894×P)
×(0.048×H×P-P2+0.0063×H)
b)當PN=0.5~1.15C=0.096~0.9M時
DLa=0.015×0.53P〉×C(1.16-1.13×P)
×(0.033×H×P-P2+0.044×H)
DAC=0.002×5.43P×C(0.357-0.275×P)
×(0.048×H×P-P2+0.0063×H)
式中:P為平衡水相pH值
C為平衡水相鑭濃度M
H為有機相中萃取劑體積百分比濃度H%
二、50%HDEHP煤油-HNO3體系,P=0.4~1.5C=0.05~0.8M
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