[實用新型]一種芯片檢測不合格產品自動抓取替換裝置

有效

• 申請號: 202320814986.0
• 申請日: 2023-04-10
• 公開（公告）號: CN219253313U
• 公開（公告）日: 2023-06-27
• 發明（設計）人: 李明志;趙澤源;婁明林;肖海蓮;李彥東
• 申請（專利權）人: 山東貞明半導體技術有限公司
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105
• 代理人: 孫合通

本實用新型涉及芯片檢測處理設備技術領域，提供了一種芯片檢測不合格產品自動抓取替換裝置，包括工作臺，工作臺上安裝有芯片輸送架，芯片輸送架上傳動安裝有芯片輸送帶，工作臺上且位于芯片輸送架的一側安裝有CCD光學檢測裝置，工作臺上還安裝有移動導向機構，移動導向機構上安裝有多動作執行機構，多動作執行機構上安裝有吸嘴，吸嘴的吸氣方向朝向工作臺；工作臺上且位于芯片輸送架的一側還設有廢料輸出機構，廢料輸出機構將吸嘴吸取的不合格芯片進行旋轉并輸送至指定的存儲位置。本實用新型解決了目前的芯片在CCD光學檢測出不良產品后，需要人為的進行更換，由于芯片自身體積較小，導致取放不方便，影響芯片檢測效率的問題。

技術領域

本實用新型涉及芯片檢測處理設備技術領域，尤其涉及一種芯片檢測不合格產品自動抓取替換裝置。

背景技術

芯片一般指集成電路，集成電路是電路(主要包括半導體設備，也包括被動組件等)小型化的方式，采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。

芯片在加工完成之后需要進行外觀檢測，傳統的檢測方式是通過CCD光學檢測設備對加工好的芯片進行檢測，在檢測出不良產品后，設備需要停止運行，并由操作人員將不良產品取出，并重新放置上一顆新的芯片進行檢測，避免出現空位，影響后續的生產，由于芯片自身體積較小，人為取放不方便，影響芯片的檢測效率。

因此，開發一種芯片檢測不合格產品自動抓取替換裝置，不但具有迫切的研究價值，也具有良好的經濟效益和工業應用潛力。

實用新型內容

為了克服上述所指出的現有技術的缺陷，本實用新型提供一種芯片檢測不合格產品自動抓取替換裝置，以解決目前的芯片在CCD光學檢測出不良產品后，需要人為的進行更換，由于芯片自身體積較小，導致取放不方便，影響芯片檢測效率的問題。

為解決上述技術問題，本實用新型的技術方案是：

一種芯片檢測不合格產品自動抓取替換裝置，包括工作臺，所述工作臺上安裝有芯片輸送架，所述芯片輸送架上傳動安裝有芯片輸送帶，所述工作臺上且位于所述芯片輸送架的一側安裝有CCD光學檢測裝置，所述CCD光學檢測裝置的鏡頭朝向所述芯片輸送架上設置的檢測孔，所述工作臺上還安裝有移動導向機構，所述移動導向機構上安裝有多動作執行機構，所述多動作執行機構上安裝有吸嘴，所述吸嘴的吸氣方向朝向所述工作臺；

所述工作臺上且位于所述芯片輸送架的一側還設有廢料輸出機構，所述廢料輸出機構將所述吸嘴吸取的不合格芯片進行旋轉并輸送至指定的存儲位置。

作為一種改進的技術方案，所述移動導向機構包括第一導軌，所述第一導軌安裝于所述工作臺上，且與所述芯片輸送架平行設置，所述第一導軌上滑動安裝有第一滑塊，所述多動作執行機構安裝于所述第一滑塊上；

所述第一導軌的兩端端部還分別設置有限位塊，所述限位塊安裝于所述工作臺上。

作為一種改進的技術方案，所述多動作執行機構包括第一安裝架，所述第一安裝架安裝于所述第一滑塊上，所述第一安裝架上且位于所述第一導軌的一端連接有第一驅動裝置，所述第一驅動裝置安裝于所述工作臺上；

所述第一安裝架上安裝有第二導軌，所述第二導軌上滑動安裝有第二滑塊，所述第二滑塊上安裝有第二安裝架，所述第二安裝架上連接有第二驅動裝置，所述第二驅動裝置安裝于所述第一安裝架上；

所述第二安裝架上安裝有第三驅動裝置，所述第三驅動裝置的活塞桿上安裝有安裝塊，所述吸嘴安裝于所述安裝塊上。

作為一種改進的技術方案，所述第一驅動裝置、第二驅動裝置及第三驅動裝置均采用氣缸。