[實(shí)用新型]一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202320388117.6
• 申請(qǐng)日: 2023-03-06
• 公開（公告）號(hào): CN219573904U
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韓錦澎;吳家威
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東莞市光研科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/25
• 分類號(hào): G01N21/25;G01N21/59;G01N21/55;G01N21/01
• 代理公司: 東莞市鑫創(chuàng)意知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 44894
• 代理人: 葉偉斌

1.一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，包括基板、發(fā)射器件、檢測(cè)臺(tái)、反射組件、透射組件、接收組件、接收器件及控制器，所述檢測(cè)臺(tái)固定設(shè)置在所述基板上，所述透射組件設(shè)置在所述檢測(cè)臺(tái)上并位于樣品檢測(cè)區(qū)域的下方，所述反射組件設(shè)置在所述檢測(cè)臺(tái)的一側(cè)，且所述反射組件用于反射的端部延伸至所述檢測(cè)臺(tái)上方，所述接收組件設(shè)置在所述檢測(cè)臺(tái)的另一側(cè)，且所述接收組件的用于接收的端部延伸至所述檢測(cè)臺(tái)上方，所述接收組件與所述反射組件或與所述透射組件匹配設(shè)置，所述發(fā)射器件分別與所述反射組件及所述透射組件電性連接，所述接收器件與所述接收組件電性連接，所述控制器分別與所述反射組件及所述接收組件電性連接，所述控制器驅(qū)動(dòng)所述反射組件及所述接收組件調(diào)節(jié)角度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，所述反射組件包括第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)、反射支架、第二旋轉(zhuǎn)電機(jī)、半透半反鏡片以及第一鏡片調(diào)節(jié)支架，所述第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)水平安裝在所述基板上，所述反射支架設(shè)置在所述第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸上，所述第二旋轉(zhuǎn)電機(jī)豎直安裝在所述反射支架的側(cè)面上，所述第一鏡片調(diào)節(jié)支架設(shè)置在所述第二旋轉(zhuǎn)電機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸上，且所述第一鏡片調(diào)節(jié)支架的端部延伸至所述檢測(cè)臺(tái)上方，所述半透半反鏡片傾斜設(shè)置在所述第一鏡片調(diào)節(jié)支架的端部上。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，所述發(fā)射器件通過(guò)光纖與所述第一鏡片調(diào)節(jié)支架連接并朝著所述半透半反鏡片發(fā)射光線。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，所述控制器分別與所述第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)以及所述第二旋轉(zhuǎn)電機(jī)電性連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，所述接收組件包括接收器支架、第三旋轉(zhuǎn)電機(jī)、第二鏡片調(diào)節(jié)支架以及第一反射鏡片，所述接收器支架固定設(shè)置在所述基板上，所述第三旋轉(zhuǎn)電機(jī)豎直安裝在所述接收器支架的側(cè)面上，所述第二鏡片調(diào)節(jié)支架設(shè)置在所述第三旋轉(zhuǎn)電機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸上，且所述第二鏡片調(diào)節(jié)支架的端部延伸至所述檢測(cè)臺(tái)上方，所述第一反射鏡片傾斜設(shè)置在所述第二鏡片調(diào)節(jié)支架的端部上。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，所述接收器件通過(guò)光纖與所述第二鏡片調(diào)節(jié)支架連接并接收所述反射組件的光線。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，所述控制器與所述第三旋轉(zhuǎn)電機(jī)電性連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，所述檢測(cè)臺(tái)包括檢測(cè)支架及樣品支架，所述檢測(cè)支架固定設(shè)置在所述基板上，所述樣品支架設(shè)置在所述檢測(cè)支架上，所述樣品支架上設(shè)有樣品檢測(cè)區(qū)域。

9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，所述透射組件包括第三鏡片調(diào)節(jié)支架及第二反射鏡片，所述第三鏡片調(diào)節(jié)支架設(shè)置在所述檢測(cè)臺(tái)上，且所述第三鏡片調(diào)節(jié)支架的端部延伸至所述檢測(cè)臺(tái)的樣品檢測(cè)區(qū)域下方，所述第二反射鏡片傾斜設(shè)置在所述第二鏡片調(diào)節(jié)支架的端部上。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種含透反射測(cè)試的角分辨率分析儀，其特征在于，所述發(fā)射器件通過(guò)光纖與所述第三鏡片調(diào)節(jié)支架連接并朝著所述第二反射鏡片發(fā)射光線。