[實(shí)用新型]氣密性檢測(cè)裝置及測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202320318842.6 | 申請(qǐng)日: | 2023-02-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN219495586U | 公開(公告)日: | 2023-08-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃婷;張瑞朋;杜曉淳;黃雙浩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇正力新能電池技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01M3/20 | 分類號(hào): | G01M3/20 |
| 代理公司: | 蘇州市中南偉業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 李柏柏 |
| 地址: | 215000 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氣密性 檢測(cè) 裝置 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
本實(shí)用新型涉及一種氣密性檢測(cè)裝置及測(cè)試系統(tǒng),檢測(cè)裝置包括第一壓塊和第二壓塊,第一壓塊具有第一壓持面,在第一壓持面內(nèi)凹形成有至少一個(gè)氣體檢測(cè)腔,第一壓塊還形成有至少一個(gè)第一通孔,每一氣體檢測(cè)腔連通對(duì)應(yīng)的第一通孔;第二壓塊具有一第二壓持面,在第二壓持面內(nèi)凹形成有至少一個(gè)氣體腔室,第二壓塊還形成有用于輸入檢測(cè)氣體的第二通孔和用于氣體腔室排氣的第三通孔,第二通孔和第三通孔均連通于氣體腔室。本實(shí)用新型在現(xiàn)有腔體式氦檢夾具的基礎(chǔ)上增加與外部大氣相通的第三通孔,在噴射檢測(cè)氣體時(shí)能夠?qū)怏w腔室原本存在的氣體排出,以使檢測(cè)氣體充滿氣體腔室,從而能夠顯著提高檢測(cè)氣體的使用率和測(cè)試結(jié)果的可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電池氣密性測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,尤其是指一種氣密性檢測(cè)裝置及測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
電池原材頂蓋的氣密性驗(yàn)證,主要驗(yàn)證頂蓋上正負(fù)極柱與防爆閥的氣密性。頂蓋的氣密性是否符合漏率低于10^-7pa.m^3/s的標(biāo)準(zhǔn),會(huì)影響到電池在其使用壽命期間是否會(huì)出現(xiàn)電解液滲漏現(xiàn)象,影響電池性能及產(chǎn)品安全性能,因此電池頂蓋氣密性測(cè)試結(jié)果的可靠性十分重要。目前行業(yè)普遍使用氦質(zhì)譜檢漏儀對(duì)原材料頂蓋進(jìn)行氣密性測(cè)試,而頂蓋需要放在與其尺寸相匹配的氦檢夾具中進(jìn)行測(cè)試。
目前氦檢夾具一般設(shè)計(jì)為開放式夾具,即氦檢下夾具與產(chǎn)品形成與氦質(zhì)譜檢漏儀互通的密封腔體,上夾具主要起到下壓固定,增強(qiáng)產(chǎn)品與下夾具貼合的作用。這種夾具在測(cè)試過(guò)程中,氦氣是直接噴在產(chǎn)品從上方與上夾具之間的大氣環(huán)境中,因此受到環(huán)境因素的影響較大,噴在空氣中的氦氣很快溢散,影響測(cè)試結(jié)果的可靠性,且由于未對(duì)檢測(cè)部位進(jìn)行分隔,當(dāng)產(chǎn)品檢測(cè)結(jié)果不合格時(shí),不能很好的區(qū)分是頂蓋上的正負(fù)極柱部位氣密性不符合標(biāo)準(zhǔn),還是防爆閥部位氣密性不符合標(biāo)準(zhǔn)。
因此后來(lái)逐步采用腔體式氦檢夾具,腔體式氦檢夾具的上夾具可與產(chǎn)品形成單獨(dú)腔體的設(shè)計(jì),氦氣通過(guò)噴氦管道直接進(jìn)入該腔體,解決了氦氣受環(huán)境影響快速溢散的問題,并可以很快的確定不符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的部位,但由于該腔體內(nèi)部并非真空狀態(tài),當(dāng)氦氣通過(guò)管道噴進(jìn)腔體時(shí),已經(jīng)存在的氣體沒有流動(dòng)空間,因此氦氣并未進(jìn)入腔體無(wú)法被檢測(cè)到,那么測(cè)試數(shù)據(jù)就不具有參考價(jià)值。因此,迫切需要提供一種新的電池頂蓋氣密性測(cè)試夾具以克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上述技術(shù)缺陷。
實(shí)用新型內(nèi)容
為此,本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題在于克服現(xiàn)有技術(shù)中腔體式氦檢夾具由于密封腔體內(nèi)空氣無(wú)法流出導(dǎo)致氦氣沒有進(jìn)入腔體內(nèi)部,使測(cè)試結(jié)果不具有參考價(jià)值的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型提供了一種氣密性檢測(cè)裝置,用于檢測(cè)電池的氣密性,包括:
一第一壓塊,其具有一第一壓持面,在所述第一壓持面,所述第一壓塊內(nèi)凹形成有至少一個(gè)氣體檢測(cè)腔,所述第一壓塊還形成有用于連接質(zhì)譜檢漏儀的至少一個(gè)第一通孔,每一氣體檢測(cè)腔連通對(duì)應(yīng)的第一通孔;以及
一第二壓塊,其具有一第二壓持面,在所述第二壓持面,所述第二壓塊內(nèi)凹形成有至少一個(gè)氣體腔室,所述第二壓塊還形成有用于輸入檢測(cè)氣體的第二通孔和用于氣體腔室排氣的第三通孔,所述第二通孔和所述第三通孔均連通于所述氣體腔室;
其中,當(dāng)檢測(cè)標(biāo)的物的目標(biāo)區(qū)域的氣密性時(shí),所述第一壓持面和所述第二壓持面相對(duì)設(shè)置,所述標(biāo)的物被緊密地壓持在所述第一壓持面和所述第二壓持面之間,每一目標(biāo)區(qū)域被緊密地壓持在一個(gè)氣體腔室的范圍內(nèi)。
在本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例中,在檢測(cè)標(biāo)的物的氣密性時(shí),所述氣體腔室與其對(duì)應(yīng)的氣體檢測(cè)腔之間形成有氣壓差,其中,所述氣體檢測(cè)腔的氣壓小于所述氣體腔室的氣壓。
在本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例中,所述第三通孔和所述第二通孔設(shè)置于所述第二壓塊的不同端面上。
在本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例中,所述第三通孔和所述第二通孔設(shè)置于所述第二壓塊的同一端面。
在本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例中,所述第三通孔與所述氣體腔室中心軸的夾角、所述第二通孔與所述氣體腔室中心軸的夾角不大于30°。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江蘇正力新能電池技術(shù)有限公司,未經(jīng)江蘇正力新能電池技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202320318842.6/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種掉電自動(dòng)回收制卡的供電裝置
- 下一篇:卷尺傳感器裝置
- 同類專利
- 專利分類
G01M 機(jī)器或結(jié)構(gòu)部件的靜或動(dòng)平衡的測(cè)試;其他類目中不包括的結(jié)構(gòu)部件或設(shè)備的測(cè)試
G01M3-00 結(jié)構(gòu)部件的流體密封性的測(cè)試
G01M3-02 .應(yīng)用流體或真空
G01M3-38 .應(yīng)用光照
G01M3-40 .應(yīng)用電裝置,例如,觀察放電現(xiàn)象
G01M3-04 ..通過(guò)在漏泄點(diǎn)檢測(cè)流體的出現(xiàn)
G01M3-26 ..通過(guò)測(cè)量流體的增減速率,例如,用壓力響應(yīng)裝置,用流量計(jì)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





