[發明專利]交叉倉所覆蓋的交叉項數量的獲取方法、電子設備和介質有效
| 申請號: | 202310920129.3 | 申請日: | 2023-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN116663492B | 公開(公告)日: | 2023-10-13 |
| 發明(設計)人: | 冀偉安 | 申請(專利權)人: | 北京云樞創新軟件技術有限公司;上海合見工業軟件集團有限公司;成都融見軟件科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/398 | 分類號: | G06F30/398;G06F111/04;G06F115/10 |
| 代理公司: | 北京鍾維聯合知識產權代理有限公司 11579 | 代理人: | 丁慧玲 |
| 地址: | 100193 北京市海淀區東北旺北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 交叉 覆蓋 數量 獲取 方法 電子設備 介質 | ||
本發明涉及芯片驗證技術領域,尤其涉及一種交叉倉所覆蓋的交叉項數量的獲取方法、電子設備和介質,方法包括步驟S1、獲取用戶定義的交叉倉對應的變量;步驟S2、構建變量取值和變量倉id的映射關系,建立N維坐標系,每一維度對應一個變量Asubgt;n/subgt;;步驟S3、獲取覆蓋組中的用戶定義的交叉倉;步驟S4、確定每一Bsubgt;m/subgt;中每一Asubgt;n/subgt;對應的變量倉id集合;步驟S5、生成Bsubgt;m/subgt;對應的N維矩形集合,在N維坐標系中構建每一Bsubgt;m/subgt;對應的N維矩形生成所有Bsubgt;m/subgt;對應的N維矩形所覆蓋的區域;步驟S6、基于掃描線算法獲取所有Bsubgt;m/subgt;對應的N維矩形所覆蓋的區域對應的交叉點數,確定交叉倉所覆蓋的交叉項數量。本發明能夠快速準確獲取交叉倉所覆蓋的交叉項數量。
技術領域
本發明涉及芯片驗證技術領域,尤其涉及一種交叉倉所覆蓋的交叉項數量的獲取方法、電子設備和介質。
背景技術
在芯片的軟件仿真驗證過程中,?芯片驗證語言system?verilog?的功能覆蓋率(functional?coverage)模塊尤為重要,它涉及到驗證設計是否按照預期工作。驗證工程師需要通過編寫功能覆蓋組(covergroup)去覆蓋數據、地址和控制信號等以驗證激勵是否達到目的。交叉覆蓋(cross)是功能覆蓋組的一個重要概念。交叉覆蓋的功能覆蓋組中存在用戶定義一個或多個交叉倉(cross?bin),每個用戶定義的交叉倉會覆蓋一部分交叉項(cross?product),對于沒有被與用戶定義的交叉倉覆蓋到的交叉項都會獨立創建一個自動的倉(bin)。
當需要獲取交叉覆蓋組的覆蓋率時,需要先確定被命中(hit)的交叉倉的數量、用戶定義的交叉倉的數量、自動生成的交叉倉的數量以及用戶定義的交叉倉所覆蓋的交叉項的數量。其中,被命中的交叉倉的數量、用戶定義的交叉倉的數量均能快速準確獲取,自動生成的交叉倉的數量需要根據所有覆蓋點所被交叉的倉的數量和用戶定義的交叉倉所覆蓋的交叉項的數量獲取。所有覆蓋點所被交叉的倉的數量也能夠能快速準確獲取,但用戶定義的交叉倉中可能存在多個重復的交叉項,因此,用戶定義的交叉倉所覆蓋的交叉項的數量無法直接獲取。由此可知,如何快速準確獲取用戶定義的交叉倉所覆蓋的交叉項的數量,來確定交叉覆蓋組的覆蓋率,成為亟待解決的技術問題。
發明內容
本發明目的在于,提供一種交叉倉所覆蓋的交叉項數量的獲取方法、電子設備和介質,能夠快速準確獲取交叉倉所覆蓋的交叉項數量,進而快速準確地確定交叉覆蓋組的覆蓋率。
根據本發明第一方面,提供了一種交叉倉所覆蓋的交叉項數量的獲取方法,包括:
步驟S1、獲取用戶定義的交叉倉所對應的N個變量{A1,A2,…,An,…,AN},An為用戶定義的交叉倉所對應的第n個變量,n的取值范圍為1到N;
步驟S2、將每一An劃分為f(n)個變量倉,每一變量倉對應一個變量倉id,構建變量取值和變量倉id的映射關系,建立N維坐標系,每一維度對應一個變量An,在An對應的坐標軸上,每一整數值對應一個An的變量倉id;
步驟S3、獲取覆蓋組中的用戶定義的M個交叉倉{B1,B2,…,Bm,…,BM},Bm為覆蓋組中的第m個用戶定義的交叉倉,m的取值范圍為1到M,Bm中設置了A1,A2,…,An,…,AN對應的取值范圍;
步驟S4、基于變量取值和變量倉id的映射關系確定每一Bm中每一An對應的變量倉id集合;
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