[發明專利]一種數據采集設備的擬合式校正方法及裝置

有效

• 申請號: 202310897396.3
• 申請日: 2023-07-21
• 公開（公告）號: CN116626575B
• 公開（公告）日: 2023-09-26
• 發明（設計）人: 陳燚平;陳成;華麟;李浩;彭春華;李東升
• 申請（專利權）人: 深圳和潤達科技有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01D18/00
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 江銀會

1.一種數據采集設備的擬合式校正方法，其特征在于，所述方法包括：

針對待校正分析的批次設備，確定其所對應的校正數據類型以及所述校正數據類型對應的批量抽樣數據，并根據所述批量抽樣數據，確定與所述校正數據類型相匹配的多個校正點，所述校正數據類型用于表示待校正數據的類型；

根據所述校正數據類型，確定每個待校正設備在每一所述校正點對應的待校正數據及標準數據，所述待校正數據包括相應待校正設備采集到的數據，所述標準數據包括標準儀器采集到的數據；

針對每個所述待校正設備，根據與所述校正數據類型相匹配的擬合方式、所述待校正設備在每個所述校正點對應的待校正數據及標準數據，對所述待校正設備執行校正操作；所述待校正設備為所述批次設備中的設備；

以及，所述根據所述批量抽樣數據，確定與所述校正數據類型相匹配的多個校正點，包括：

當所述校正數據類型包括電參數類型時，根據所述批次設備，確定其所對應的電路狀態，并根據所述電參數類型及所述電路狀態，確定至少一個校正電路通道；對于每一所述校正電路通道，根據所述批量抽樣數據，確定所述校正電路通道對應的多個校正點；根據所有所述校正電路通道對應的校正點，確定與所述校正數據類型相匹配的多個校正點；

當所述校正數據類型包括其它參數類型時，根據所述批量抽樣數據，確定多個第一偏差點；根據所有所述第一偏差點對應的偏差情況，確定滿足第一分布條件的目標第一偏差點；根據所有所述目標第一偏差點，確定與所述校正數據類型相匹配的多個校正點；

以及，對于每一所述校正電路通道，所述根據所述批量抽樣數據，確定所述校正電路通道對應的多個校正點，包括：

根據所述批量抽樣數據，確定所述校正電路通道對應的多個第二偏差點；

根據所有所述第二偏差點對應的偏差情況，確定滿足第二分布條件的目標第二偏差點；

根據所有所述目標第二偏差點，確定所述校正電路通道對應的多個校正點。

2.根據權利要求1所述的一種數據采集設備的擬合式校正方法，其特征在于，所述根據所述電參數類型及所述電路狀態，確定至少一個校正電路通道，包括：

當所述電參數類型包括電壓類型時，將所述批次設備所對應電路中的任一電路通道確定為校正電路通道；

當所述電參數類型包括電流類型時，根據所述電路狀態，確定至少一個校正電路通道。

3.根據權利要求2所述的一種數據采集設備的擬合式校正方法，其特征在于，所述根據所述電路狀態，確定至少一個校正電路通道，包括：

當所述電路狀態為串聯狀態時，將所述批次設備所對應電路中的任一電路通道確定為校正電路通道；

當所述電路狀態為并聯狀態時，將所述批次設備所對應電路中的每一通道確定為校正電路通道。

4.根據權利要求1-3任一項所述的一種數據采集設備的擬合式校正方法，其特征在于，針對每個所述待校正設備，所述根據與所述校正數據類型相匹配的擬合方式、所述待校正設備在每個所述校正點對應的待校正數據及標準數據，對所述待校正設備執行校正操作，包括：

根據所述待校正設備在每個所述校正點對應的待校正數據及標準數據，確定每個所述校正點對應的損失值；

根據與所述校正數據類型相匹配的擬合方式及所有所述校正點對應的損失值，對所述待校正設備執行校正操作。

5.根據權利要求4所述的一種數據采集設備的擬合式校正方法，其特征在于，所述根據與所述校正數據類型相匹配的擬合方式及所有所述校正點對應的損失值，對所述待校正設備執行校正操作，包括：

根據與所述校正數據類型相匹配的擬合方式及所有所述校正點對應的損失值，確定校正系數；

根據所述校正系數，對所述待校正設備執行校正操作；

以及，所述根據所述校正系數，對所述待校正設備執行校正操作，包括：

將所述校正系數提供給所述待校正設備，以使所述待校正設備結合所述校正系數進行數據采集操作，得到與所述校正數據類型相匹配的新的數據采集結果。