[發明專利]一種位姿確定方法、裝置、計算機設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202310854497.2 | 申請日: | 2023-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN116576850B | 公開(公告)日: | 2023-10-20 |
| 發明(設計)人: | 周沛東 | 申請(專利權)人: | 北京集度科技有限公司 |
| 主分類號: | G01C21/16 | 分類號: | G01C21/16;G01C21/20;G06T7/73 |
| 代理公司: | 北京中知恒瑞知識產權代理有限公司 11889 | 代理人: | 王文紅 |
| 地址: | 100176 北京市大興區北京經濟技術開發區宏達北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 確定 方法 裝置 計算機 設備 存儲 介質 | ||
1.一種位姿確定方法,其特征在于,包括:
基于目標設備上部署的慣性測量單元在目標時間段內輸出的測量數據,生成所述目標時間段對應的初始位姿樣條;所述初始位姿樣條用于指示所述目標設備在所述目標時間段中不同時間點的位姿信息;
獲取所述目標設備上部署的多種光學傳感器在所述目標時間段內輸出的光學圖像;
基于所述初始位姿樣條及所述光學圖像,生成所述光學圖像對應的多種位姿校準殘差;
基于生成的各種位姿校準殘差,對所述初始位姿樣條的參數進行更新,得到目標位姿樣條。
2.根據權利要求1所述的方法,所述光學圖像包括可見光傳感器輸出的可見光圖像,以及熱紅外傳感器輸出的熱紅外圖像;
所述位姿校準殘差包括可見光校準殘差、熱紅外校準殘差、以及結合可見光與熱紅外的聯合校準殘差。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述初始位姿樣條及所述光學圖像,生成可見光校準殘差,包括:
針對任意兩幀可見光圖像,對所述可見光圖像進行特征點匹配,得到多個特征點對,并確定所述特征點對對應的三維路標點在世界坐標系下的位置信息;
針對任一幀可見光圖像,基于所述初始位姿樣條指示的與所述可見光圖像匹配的位姿信息,將所述世界坐標系下的所述三維路標點投影至所述可見光圖像中,得到所述三維路標點對應的第一投影點在所述可見光圖像中的像素位置;
基于所述第一投影點的像素位置,以及所述三維路標點在所述可見光圖像中對應的特征點的像素位置,確定所述可見光圖像對應的可見光校準殘差。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述初始位姿樣條及所述光學圖像,生成熱紅外校準殘差,包括:
針對任意兩幀熱紅外圖像,對所述熱紅外圖像進行特征點匹配,得到多個特征點對;其中,所述特征點對包括所述兩幀熱紅外圖像中第一熱紅外圖像的第一特征點,以及所述兩幀熱紅外圖像中第二熱紅外圖像的第二特征點;
基于所述初始位姿樣條指示的與所述第一熱紅外圖像匹配的位姿信息,將所述第一特征點投影至世界坐標系中,得到第二投影點,并將所述第二投影點投影至所述第二熱紅外圖像中,得到所述第二投影點對應的第三投影點;
確定所述第一特征點在所述第一熱紅外圖像中的熱輻射值,以及所述第三投影點在所述第二熱紅外圖像中的熱輻射值;
基于所述第一特征點以及所述第三投影點分別對應的熱輻射值,確定所述兩幀熱紅外圖像對應的熱紅外校準殘差。
5.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述初始位姿樣條及所述光學圖像,生成所述聯合校準殘差,包括:
針對所述可見光圖像中的任一幀目標可見光圖像,以及所述熱紅外圖像中的任一幀目標熱紅外圖像,確定同時被所述目標可見光圖像以及所述熱紅外圖像捕捉到的目標三維路標點;
基于所述初始位姿樣條指示的與所述目標可見光圖像匹配的位姿信息,將所述目標三維路標點投影至所述目標可見光圖像中,得到所述目標可見光圖像中的第四投影點;以及,基于所述初始位姿樣條指示的與所述目標熱紅外圖像匹配的位姿信息,將所述目標三維路標點投影至所述目標熱紅外圖像中,得到所述目標熱紅外圖像中的第五投影點;
基于所述第四投影點對應的光照強度值,以及所述第五投影點對應的熱輻射值,確定所述第四投影點與所述第五投影點之間的歸一化信息距離;
基于所述歸一化信息距離以及所述初始位姿樣條,確定所述聯合校準殘差。
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