[發明專利]硬盤測試方法、系統、裝置、電子設備、存儲介質及產品

在審

• 申請號: 202310778984.5
• 申請日: 2023-06-28
• 公開（公告）號: CN116662095A
• 公開（公告）日: 2023-08-29
• 發明（設計）人: 宿燕鳴
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 戴雷燕

本發明提供的硬盤測試方法、系統、裝置、電子設備、存儲介質及產品，屬于測試技術領域，包括：向第二主機發送各目標配置指令；在接收到第二主機返回的與目標配置指令對應的配置完成信息的情況下，向第二主機發送目標測試用例的測試指令；測試指令用于指示第二主機根據目標測試用例進行硬盤測試；在確定多個測試用例均測試完成的情況下，生成測試結果。本發明提供的硬盤測試方法、系統、裝置、電子設備、存儲介質及產品，通過利用主機自動遍歷基本輸入輸出系統中關于待測硬盤功能的選項配置，能夠自動實現對硬盤的遍歷測試，減少了工作人員的操作，降低測試難度，節省人力物力資源。

技術領域

本發明涉及測試技術領域，尤其涉及一種硬盤測試方法、系統、裝置、電子設備、存儲介質及產品。

背景技術

在系統加電時，基本輸入輸出系統(Basic?Input?Output?System，BIOS)會通過高速串行計算機擴展總線標準(Peripheral?Component?Interconnect?express，PCIe)總線檢測，確定所有連接在PCIe總線上的設備以及各個設備的配置要求，并進行系統配置和管理，其中包括非易失性內存主機控制器接口規范(Non-Volatile?Memory?express，NVMe)盤作。

在對于BIOS中NVMe相關功能的測試的過程中，一般是設置BIOS中的選項，使其重啟生效后，進入操作系統開始NVMe基本功能的驗證。由于BIOS中有很多個關于PCIe設置的選項，因此，進行測試時首先要識別出所有與NVMe相關的功能，在測試機上進行寄存器支持性的檢查，退出測試機，進行BIOS的設置，并重啟生效。

然而，對NVMe功能的驗證測試需要進行上下電、數據校驗、功耗測試、性能測試等操作，需要頻繁修改BIOS的選項并多次重啟，而在多種選項需要遍歷的情況下，測試過程中操作更加繁瑣，整個過程需要測試人員一直跟蹤執行，極大地消耗了人力物力。

發明內容

本發明提供的硬盤測試方法、系統、裝置、電子設備、存儲介質及產品，用以解決現有技術中測試過程中操作繁瑣，整個過程需要測試人員一直跟蹤執行，極大地消耗了人力物力的缺陷，實現通過利用主機自動遍歷BIOS中關于待測硬盤功能的選項配置，能夠自動實現對硬盤的遍歷測試，減少了工作人員的操作，降低測試難度，節省人力物力資源。

本發明提供一種硬盤測試方法，應用于第一主機，方法包括：

向第二主機發送各目標配置指令；其中，所述目標配置指令是多個配置指令中的任一個；每個配置指令是基于多個測試用例中的任一測試用例生成的；所述目標配置指令用于指示所述第二主機根據所述目標配置指令對應的目標測試用例，對所述第二主機的基本輸入輸出系統選項進行配置；

在接收到所述第二主機返回的與所述目標配置指令對應的配置完成信息的情況下，向所述第二主機發送所述目標測試用例的測試指令；所述測試指令用于指示所述第二主機根據所述目標測試用例進行硬盤測試；

在確定所述多個測試用例均測試完成的情況下，生成測試結果。

根據本發明提供的一種硬盤測試方法，在向第二主機發送各目標配置指令之前，還包括：

向所述第二主機發送生成指令；

接收所述第二主機返回的返回值；

所述生成指令，用于指示第二主機生成所述各測試用例的用例文檔，并在確定所述各測試用例的用例文檔生成完成的情況下，生成返回值；所述用例文檔，用于在所述第二主機接收到所述目標配置指令的情況下，所述第二主機將所述用例文檔導入至所述第二主機的SCE工具，以對所述基本輸入輸出系統選項進行配置；

所述用例文檔是所述第二主機根據各測試用例對所述基本輸入輸出系統的選項配置需求確定的。

根據本發明提供的一種硬盤測試方法，在接收所述第二主機返回的返回值之后，還包括：