[發(fā)明專利]DDR控制器的配置參數(shù)調(diào)節(jié)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310717635.2 | 申請(qǐng)日: | 2023-06-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116450056B | 公開(公告)日: | 2023-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳力;薛紅軍;劉婧天;劉昆;張亞軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京得瑞領(lǐng)新科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F3/06 | 分類號(hào): | G06F3/06;G06N3/006;G06N3/126;G06F11/22 |
| 代理公司: | 北京慧智興達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11615 | 代理人: | 李麗穎 |
| 地址: | 100192 北京市海淀區(qū)西小口路66號(hào)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | ddr 控制器 配置 參數(shù) 調(diào)節(jié) 方法 裝置 存儲(chǔ) 介質(zhì) 系統(tǒng) | ||
1.一種DDR控制器的配置參數(shù)調(diào)節(jié)方法,其特征在于,所述方法包括:
S1、獲取DDR控制器的配置參數(shù)種群,并基于文化基因算法根據(jù)所述配置參數(shù)種群生成一個(gè)或多個(gè)子代種群個(gè)體;
S2、將所述子代種群個(gè)體分別發(fā)送給與主機(jī)連接的各個(gè)嵌入式設(shè)備,以使各個(gè)嵌入式設(shè)備根據(jù)接收到的子代種群個(gè)體包含的配置參數(shù)配置各自的DDR控制器并在DDR控制器完成參數(shù)配置后對(duì)DDR進(jìn)行讀寫壓力測(cè)試,以獲得與各個(gè)子代種群個(gè)體對(duì)應(yīng)的壓力測(cè)試結(jié)果;
S3、接收由各個(gè)嵌入式設(shè)備發(fā)送的與子代種群個(gè)體對(duì)應(yīng)的壓力測(cè)試結(jié)果,并根據(jù)所述壓力測(cè)試結(jié)果計(jì)算各個(gè)子代種群個(gè)體的個(gè)體適應(yīng)度;
S4、判斷是否存在個(gè)體適應(yīng)度滿足預(yù)設(shè)的適應(yīng)度要求的子代種群個(gè)體;
若不存在個(gè)體適應(yīng)度滿足預(yù)設(shè)的適應(yīng)度要求的子代種群個(gè)體,則重復(fù)執(zhí)行步驟S1-步驟S4的操作,若存在個(gè)體適應(yīng)度滿足預(yù)設(shè)的適應(yīng)度要求的子代種群個(gè)體,則執(zhí)行步驟S5;
S5、將所述個(gè)體適應(yīng)度滿足適應(yīng)度要求的子代種群個(gè)體包含的配置參數(shù)作為DDR控制器的最優(yōu)配置參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在獲取DDR控制器的配置參數(shù)種群之前,所述方法還包括:
對(duì)DDR控制器的預(yù)設(shè)的關(guān)鍵配置參數(shù)進(jìn)行編碼得到配置參數(shù)列表;
根據(jù)預(yù)設(shè)的各個(gè)配置參數(shù)的取值范圍為配置參數(shù)列表中的各個(gè)配置參數(shù)進(jìn)行隨機(jī)取值以得到一個(gè)初始種群個(gè)體,重復(fù)執(zhí)行上述操作以獲得預(yù)設(shè)的第一數(shù)量的初始種群個(gè)體作為初始配置參數(shù)種群。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于文化基因算法根據(jù)所述配置參數(shù)種群生成一個(gè)或多個(gè)子代種群個(gè)體包括:
S11、在所述配置參數(shù)種群中選取兩個(gè)種群個(gè)體作為父代種群個(gè)體;
S12、對(duì)兩個(gè)所述父代種群個(gè)體通過執(zhí)行單點(diǎn)交叉的操作獲得兩個(gè)第一新生種群個(gè)體子代;
S13、對(duì)兩個(gè)所述第一新生種群個(gè)體子代分別選擇一個(gè)或多個(gè)配置參數(shù)執(zhí)行變異操作獲得兩個(gè)第二新生種群個(gè)體子代;
S14、對(duì)所述第二新生種群個(gè)體子代分別執(zhí)行局部搜索以將存在配置參數(shù)不滿足與該配置參數(shù)相對(duì)應(yīng)的取值范圍的第二新生種群個(gè)體子代遺棄;
執(zhí)行一次或重復(fù)執(zhí)行多次步驟S11-步驟S14的操作,以獲得一個(gè)或多個(gè)第二新生種群個(gè)體子代作為子代種群個(gè)體。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,在獲得一個(gè)或多個(gè)第二新生種群個(gè)體子代作為子代種群個(gè)體之后,所述方法還包括:
在所述子代種群個(gè)體中逐次選取一個(gè)子代種群個(gè)體作為目標(biāo)子代種群個(gè)體;
對(duì)所述目標(biāo)子代種群個(gè)體進(jìn)行配置參數(shù)搜索,判斷所述目標(biāo)子代種群個(gè)體中的各個(gè)配置參數(shù)是否與DDR控制器控制的各個(gè)DDR顆粒滿足參數(shù)分組對(duì)應(yīng)關(guān)系;
若不滿足則將所述目標(biāo)子代種群個(gè)體遺棄。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,若所述目標(biāo)子代種群個(gè)體中的各個(gè)配置參數(shù)與DDR控制器控制的各個(gè)DDR顆粒滿足參數(shù)分組對(duì)應(yīng)關(guān)系,所述方法還包括:
獲取所述目標(biāo)子代種群個(gè)體中的與DDR控制器控制的各個(gè)DDR顆粒的配置參數(shù)組合對(duì)應(yīng)的信號(hào)眼圖質(zhì)量關(guān)系,其中所述信號(hào)眼圖質(zhì)量關(guān)系為壓力測(cè)試結(jié)果中的一項(xiàng);
選取信號(hào)眼圖質(zhì)量關(guān)系最優(yōu)的一組或多組DDR顆粒的配置參數(shù)組合作為目標(biāo)配置參數(shù)組合;
根據(jù)所述目標(biāo)配置參數(shù)組合中各個(gè)配置參數(shù)的取值對(duì)所述目標(biāo)子代種群個(gè)體中其他配置參數(shù)組合內(nèi)的配置參數(shù)進(jìn)行修正。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述在所述配置參數(shù)種群中選取兩個(gè)種群個(gè)體作為父代種群個(gè)體包括:
采用輪盤賭選擇法在所述配置參數(shù)種群中選擇兩個(gè)種群個(gè)體作為父代種群個(gè)體。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京得瑞領(lǐng)新科技有限公司,未經(jīng)北京得瑞領(lǐng)新科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202310717635.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出
- 支持DDR2和DDR3雙內(nèi)存模式的AMD平臺(tái)主板
- DDR2轉(zhuǎn)DDR3子卡
- DDR信號(hào)布線封裝基板以及DDR信號(hào)布線封裝方法
- 用于DDR控制器的訪問控制方法、裝置及電路
- 一種自動(dòng)生成DDR芯片測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告的方法及系統(tǒng)
- 一種檢測(cè)DDR內(nèi)存模塊中異常DDR內(nèi)存的方法
- 一種命令處理器與DDR讀寫訪問電路
- DDR控制系統(tǒng)及DDR存儲(chǔ)系統(tǒng)
- DDR調(diào)試方法及系統(tǒng)、可讀存儲(chǔ)介質(zhì)、電子設(shè)備
- 一種快速判定DDR芯片失效的裝置





