[發(fā)明專利]共模傳導(dǎo)干擾抑制電路及反激式開關(guān)電源

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• 申請?zhí)枺?/td>: 202310703049.2
• 申請日: 2023-06-13
• 公開（公告）號: CN116566184A
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 萬今明;吳洪清;吳啟添;吳勇;雷云菁
• 申請（專利權(quán)）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: H02M1/12
• 分類號: H02M1/12;H02M1/44;H02M3/335
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 汪凡

本發(fā)明公開了一種共模傳導(dǎo)干擾抑制電路及反激式開關(guān)電源。其中，該電路包括：第一電容，一端與反激式開關(guān)電源中的開關(guān)管的漏極連接，另外一端接地，以與第一繞組形成閉合回路；第一繞組，一端與反激式開關(guān)電源中的第二繞組連接，另外一端通過反激式開關(guān)電源中的第二電容接地，用于與第一電容一起形成閉合回路，在反激式開關(guān)電源中的開關(guān)管動(dòng)作時(shí)，過濾開關(guān)管動(dòng)作過程中生成的共模干擾信號；諧振子電路，一端與第一電容和第二電容連接，另外一端接地，用于降低共模干擾。本發(fā)明解決了相關(guān)技術(shù)中反激式開關(guān)電源容易受其內(nèi)部的開關(guān)管產(chǎn)生的電磁的干擾，進(jìn)而會導(dǎo)致對反激式開關(guān)電源進(jìn)行電磁兼容測試時(shí)測試結(jié)果可靠性較低的技術(shù)問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及開關(guān)電源技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種共模傳導(dǎo)干擾抑制電路及反激式開關(guān)電源。

背景技術(shù)

反激式開關(guān)電源作為產(chǎn)品中主要的干擾源之一，其內(nèi)開關(guān)管產(chǎn)生的電磁干擾較大，是導(dǎo)致電磁兼容測試不合格的原因之一，會對電網(wǎng)會造成一定的污染。針對這一問題，目前基本上都是通過在其開關(guān)管源漏極之間增加電阻-電容RC吸收回路，同時(shí)需要在電源線上采用鐵氧體磁環(huán)，繞制一定圈數(shù)套在電源電纜上。

現(xiàn)有技術(shù)中國通過增加鐵氧體磁環(huán)，相當(dāng)于在線路上增加一個(gè)非線性阻抗，使其回路阻抗增大，從而增加能量的損耗，阻尼其傳播，對干擾電流起到抑制作用，但在高頻時(shí)，由于磁環(huán)匝間等寄生電容的存在，導(dǎo)致磁環(huán)高頻性能下降，無法達(dá)到預(yù)期的效果。而當(dāng)干擾太大時(shí)，僅通過RC回路也無法完全濾除干擾，其取值具有局限性，且電阻選型過大時(shí)，溫升過高，不滿足電氣安全的要求。圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的抑制傳導(dǎo)干擾電路的示意圖，如圖1所示，在高頻狀態(tài)下，EMI共模干擾主要為開關(guān)管Q1產(chǎn)生，通過對地寄生電容C11形成閉合回路。通過增加一個(gè)與繞組1并聯(lián)的、匝數(shù)相同的繞組2，新增繞組2的同名端與繞組1的同名端相接，另一端串聯(lián)一電容C2連接到地，使得產(chǎn)生的干擾能夠與新增的

又例如，現(xiàn)有技術(shù)中提供了一種抗共模干擾的功率因數(shù)校正器，圖2是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)中的另一抑制傳導(dǎo)干擾電路的示意圖，如圖2所示，其通過增加同匝數(shù)的繞組，感應(yīng)出與干擾方向相反的電壓，從而形成回路使干擾抵消掉，降低干擾。但是，在散熱器與地之間存在寄生電容，產(chǎn)生的高頻干擾可通過該寄生電容形成回路，特別是當(dāng)干擾較大時(shí)，整個(gè)地平面都會受到影響，造成測試不合格。

針對上述相關(guān)技術(shù)中反激式開關(guān)電源容易受其內(nèi)部的開關(guān)管產(chǎn)生的電磁的干擾，進(jìn)而會導(dǎo)致對反激式開關(guān)電源進(jìn)行電磁兼容測試時(shí)測試結(jié)果可靠性較低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種共模傳導(dǎo)干擾抑制電路及反激式開關(guān)電源，以至少解決相關(guān)技術(shù)中反激式開關(guān)電源容易受其內(nèi)部的開關(guān)管產(chǎn)生的電磁的干擾，進(jìn)而會導(dǎo)致對反激式開關(guān)電源進(jìn)行電磁兼容測試時(shí)測試結(jié)果可靠性較低的技術(shù)問題。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種共模傳導(dǎo)干擾抑制電路，包括：第一電容，一端用于與反激式開關(guān)電源中的開關(guān)管的漏極連接，另外一端接地，以與第一繞組形成閉合回路，在所述反激式開關(guān)電源中的開關(guān)管動(dòng)作時(shí)，過濾所述開關(guān)管動(dòng)作過程中生成的共模干擾信號；所述第一繞組，一端與所述反激式開關(guān)電源中的第二繞組連接，另外一端通過所述反激式開關(guān)電源中的第二電容接地，用于與所述第一電容一起形成所述閉合回路，在所述反激式開關(guān)電源中的所述開關(guān)管動(dòng)作時(shí)，過濾所述開關(guān)管動(dòng)作過程中生成的所述共模干擾信號；諧振子電路，一端與所述第一電容和所述第二電容連接，另外一端接地，用于降低所述共模干擾。

可選地，所述第一繞組與所述第二繞組的匝數(shù)相同，并且所述第一繞組的同名端與所述第二繞組的同名端連接。

可選地，所述諧振子電路包括：第一電感，一端與所述第一電容以及所述第二電容連接，另外一端與電阻連接；所述電阻，一端與所述第一電感連接，另外一端節(jié)點(diǎn)，與所述第一電感一起降低所述共模干擾。

可選地，該共模傳導(dǎo)干擾抑制電路還包括：第三電容，一端與所述反激式開關(guān)電源中的所述開關(guān)管的漏極連接，另外一端通過所述諧振子電路接地，以形成閉合回路。