[發明專利]保險杠材料復介電常數的測試方法、裝置、設備及介質

有效

• 申請號: 202310700254.3
• 申請日: 2023-06-14
• 公開（公告）號: CN116430124B
• 公開（公告）日: 2023-09-22
• 發明（設計）人: 王俊濤;何凌強;黃志強;李旭陽;周愷
• 申請（專利權）人: 賽恩領動（上海）智能科技有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 上海旭新專利代理事務所(普通合伙) 31474
• 代理人: 賀永興

1.一種保險杠材料復介電常數的測試方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取測試樣板，依次測量測試樣板上預設測試位置的S參數以及所述預設測試位置處各介質材料的材料厚度；其中，所述測試樣板包括多層樣板，所述多層樣板上包括至少一層所述介質材料；

基于所述預設測試位置對應的所述S參數以及所述預設測試位置對應的各所述介質材料的材料厚度，計算所述預設測試位置處各所述介質材料在預設頻率范圍內的至少一個回波損耗，具體包括：

基于所述預設頻率范圍內的頻率與所述S參數的對應關系，將所述S參數劃分為至少一個頻段，獲得至少一個子頻率范圍，其中，所述子頻率范圍包括至少一個頻點；

基于回波損耗計算公式和各所述介質材料的材料厚度，計算所述子頻率范圍內各所述頻點對應的所述回波損耗；

基于各所述介質材料在預設頻率范圍內的至少一個回波損耗，計算各所述介質材料對應的損耗正切和介電常數，具體包括：基于所述子頻率范圍內各所述頻點對應的所述回波損耗，以及各所述頻點對應的回波損耗實測值，計算所述子頻率范圍對應的損耗正切初始值和介電常數初始值；

對所述子頻率范圍對應的所述損耗正切初始值和所述介電常數初始值進行曲線擬合，獲得各所述頻點對應的損耗正切擬合值和介電常數擬合值；

基于各所述頻點對應的所述損耗正切擬合值和所述介電常數擬合值，計算各所述介質材料對應的所述損耗正切和介電常數；

所述測試樣板包括基材樣板，基材-底漆樣板、基材-底漆-色漆樣板以及基材-底漆-色漆-清漆樣板；

所述介質材料包括基材、底漆、色漆和清漆；

在所述測試樣板包括多層所述介質材料時，基于已測介質材料的所述介電常數和所述損耗正切、待測介質材料的材料厚度以及所述預設測試位置對應的所述S參數，計算所述預設測試位置處所述待測介質材料在所述預設頻率范圍內的至少一個回波損耗。

2.根據權利要求1所述的保險杠材料復介電常數的測試方法，其特征在于，所述基于所述預設測試位置對應的所述S參數以及所述預設測試位置對應的各所述介質材料的材料厚度，計算所述預設測試位置處各所述介質材料在預設頻率范圍內的至少一個回波損耗之前，還包括：

獲取所述介質材料的傳輸矩陣；

基于所述傳輸矩陣和所述S參數的轉換關系，獲取回波損耗計算公式；

其中，所述傳輸矩陣為：

其中，t為介質材料的層數，為第i層介質材料層的等效電氣長度，為第i層介質材料厚度，為電磁波波長，=c/f，c為光速，f為電磁波頻率，為第i層介質材料的復介電常數，，θ為入射角，j表示虛數單位，為第i層介質材料的介電常數，為第i層介質材料的損耗正切，為第i層介質材料相對于自由空間的歸一化等效特性阻抗：

其中，所述傳輸矩陣與所述S參數的轉換關系為：

其中，所述回波損耗計算公式為：

其中，所述RL為回波損耗。

3.根據權利要求1所述的保險杠材料復介電常數的測試方法，其特征在于，所述基于各所述頻點對應的所述損耗正切擬合值和所述介電常數擬合值，計算各所述介質材料對應的所述損耗正切和介電常數，包括：

獲取各所述預設測試位置對應計算的各所述損耗正切擬合值和所述介電常數擬合值；

計算對應同一頻點的所述損耗正切擬合值的均值，獲得所述介質材料的所述損耗正切；

計算對應同一頻點的所述介電常數擬合值的均值，獲得所述介質材料的所述介電常數。