[發明專利]頂部間歇性摻雜的單晶爐及其摻雜方法有效
| 申請號: | 202310572905.5 | 申請日: | 2023-05-22 |
| 公開(公告)號: | CN116288658B | 公開(公告)日: | 2023-10-24 |
| 發明(設計)人: | 陳偉;李林東;高偉杰;吳超慧;陳志軍;張鵬;丁云飛;許堃 | 申請(專利權)人: | 蘇州晨暉智能設備有限公司 |
| 主分類號: | C30B15/04 | 分類號: | C30B15/04;C30B29/06 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇知識產權代理有限公司 11463 | 代理人: | 劉鋒 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市自由貿易試驗區中國*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 頂部 間歇性 摻雜 單晶爐 及其 方法 | ||
1.一種頂部間歇性摻雜的單晶爐,其特征在于,所述單晶爐包括:
爐體(1);
間隙性摻雜器(2),安裝在所述爐體(1)的喉口位置,所述間隙性摻雜器(2)包括相互連接、且可相對轉動的上盤(21)和下盤(22),所述上盤(21)上開設有多個第一通孔(211),所述第一通孔(211)內用于裝載摻雜劑,所述下盤(22)上開設有第二通孔(221),控制所述下盤(22)相對所述上盤(21)轉動,以使所述第二通孔(221)移動至所述第一通孔(211)的下方、釋放所述第一通孔(211)內的所述摻雜劑。
2.根據權利要求1所述的頂部間歇性摻雜的單晶爐,其特征在于,所述上盤(21)與所述下盤(22)同軸設置,所述下盤(22)可相對所述上盤(21)自轉,多個所述第一通孔(211)圍繞所述上盤(21)的中心間隔均勻設置,所述第二通孔(221)的數量為一個,所述第二通孔(221)與所述下盤(22)的中心的距離等于所述第一通孔(211)與所述上盤(21)的中心的距離。
3.根據權利要求2所述的頂部間歇性摻雜的單晶爐,其特征在于,所述下盤(22)相對于所述上盤(21)自轉的轉速范圍為:0.4轉/min~0.6轉/min。
4.根據權利要求1所述的頂部間歇性摻雜的單晶爐,其特征在于,所述單晶爐還包括:
進氣管,所述進氣管位于所述上盤(21)的上方,在所述第一通孔(211)與所述第二通孔(221)連通時,所述進氣管用于將所述第一通孔(211)內的所述摻雜劑向下吹落。
5.根據權利要求4所述的頂部間歇性摻雜的單晶爐,其特征在于,所述進氣管用于吹出氬氣,所述進氣管的流量范圍為:80slpm~120slpm。
6.一種頂部間歇性摻雜方法,其特征在于,所述頂部間歇性摻雜方法采用權利要求1所述的頂部間歇性摻雜的單晶爐,所述頂部間歇性摻雜方法包括:
S1:在所述第一通孔(211)中裝入摻雜劑,此時,所述第二通孔(221)不與任一個所述第一通孔(211)連通,所述下盤(22)的本體充當全部所述第一通孔(211)的底部;
S2:在摻雜過程中,控制所述下盤(22)相對于所述上盤(21)自轉,以使所述第二通孔(221)逐個釋放所述第一通孔(211)內的所述摻雜劑。
7.根據權利要求6所述的頂部間歇性摻雜方法,其特征在于,S1包括:
模擬計算出逐次摻雜所需的摻雜量;
將逐次所需的摻雜量逐個裝入所述第一通孔(211)中;
S2包括:
根據逐次摻雜所需的摻雜量,控制所述第一通孔(211)逐個釋放所述摻雜劑。
8.根據權利要求6所述的頂部間歇性摻雜方法,其特征在于,S1包括:
所述第一通孔(211)內所述摻雜劑的重量按照8%~12%的比例逐個減少。
9.根據權利要求6所述的頂部間歇性摻雜方法,其特征在于,S2還包括:
在所述第一通孔(211)與所述第二通孔(221)連通的狀態下,向所述間隙性摻雜器(2)從上至下通入氣體,流量范圍為:80slpm~120slpm,用于將所述第一通孔(211)內的所述摻雜劑向下吹落。
10.根據權利要求6所述的頂部間歇性摻雜方法,其特征在于,所述摻雜劑為重摻摻雜劑或合金摻雜劑,所述重摻摻雜劑的粒徑范圍為:2mm~8mm,所述合金摻雜劑的線性尺寸范圍為:5mm~20mm、厚度不超過30mm。
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