[發明專利]一種用于場致變色功能薄膜的光電測試系統

有效

• 申請號: 202310560901.5
• 申請日: 2023-05-18
• 公開（公告）號: CN116337784B
• 公開（公告）日: 2023-08-18
• 發明（設計）人: 包山虎;梁銳生;許生;楊春林
• 申請（專利權）人: 深圳豪威顯示科技有限公司
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;G01N21/01
• 代理公司: 深圳市錕劍恒富知識產權代理有限公司 44769
• 代理人: 溫玉珍

1.一種基于場致變色功能薄膜的光電測試系統的測試方法，其特征在于，所述光電測試系統包括：單波長激光光源、直流電源供給模塊、光電轉換器、電流檢測模塊以及主控模塊，將場致變色功能薄膜設置于所述單波長激光光源和光電轉換器之間，通過所述直流電源供給模塊施加預設的直流電源至所述場致變色功能薄膜，所述單波長激光光源透過所述場致變色功能薄膜后通過所述光電轉換器實現光電轉換，所述光電轉換器連接至所述電流檢測模塊，所述主控模塊通過所述電流檢測模塊檢測并記錄所述光電轉換器所產生的電流大小，并計算直流電源所對應的光學變化率的大小；

所述單波長激光光源的單波長范圍為550nm、630nm、650nm、900nm以及920nm中的任意一種；單波長激光光源的功率范圍為5mW至30mW；

所述主控模塊計算直流電源所對應的光學變化率的大小包括以下步驟：

步驟S1，關閉所述單波長激光光源，記錄此時的暗電流I₀；

步驟S2，開啟所述單波長激光光源，取下所述場致變色功能薄膜，記錄在沒有所述場致變色功能薄膜環境下的激光光源電流I₁₀₀；

步驟S3，將所述場致變色功能薄膜設置于所述單波長激光光源和光電轉換器之間，根據預設的測試參數開啟單波長激光光源和直流電源供給模塊，記錄通過所述場致變色功能薄膜的激光光源所產生的光電轉換器的電流I_i；

步驟S4，計算施加了直流電壓所對應的光學變化率的大小T%；

步驟S5，根據時間軸實時記錄計算所得的光學變化率的大小T%，當所述光學變化率的大小T%達到預設穩定值的90%時，記錄所述光學變化率的大小T%達到預設穩定值的90%這一過程所對應的時間變化作為所述場致變色功能薄膜的光學響應時間；根據光學變化率的大小T%與時間之間對應關系的函數變化、以及電流與時間之間對應關系的函數變化，以這兩個函數變化作為所述場致變色功能薄膜的光密度與電化學容量之間的關系特征；

步驟S6，根據時間軸實時記錄計算所得的光學變化率的大小T%，當所述光學變化率的大小T%與預設穩定值之間的差值小于5%時，記錄所持續的時間周期作為所述場致變色功能薄膜的耐久性參數；

還包括步驟S31，將所述場致變色功能薄膜設置于所述單波長激光光源和光電轉換器之間，開啟單波長激光光源，記錄在透明狀態下通過所述場致變色功能薄膜的激光光源所產生的光電轉換器的電流I_i；并計算在透明狀態下所對應的光學變化率的大小T%_透明態；通過公式△T=T%_透明態-T%_著色態計算施加直流電源前后狀態下該場致變色功能薄膜的光學變化幅度△T，T%_著色態為施加所述直流電壓后所述場致變色功能薄膜的光學變化率的大小，T%_透明態為施加所述直流電壓前所述場致變色功能薄膜的光學變化率的大小；

還通過記錄時間與電流之間的對應關系計算所述場致變色功能薄膜的陰極材料的光電特征，包括以下步驟：

步驟A1，將所述場致變色功能薄膜的ITO導電部分連接至所述直流電源供給模塊的負極作為陰極，將其鉑金電極連接至所述直流電源供給模塊的正極作為陽極，并置于高氯酸鋰溶液中；

步驟A2，根據預設時間范圍對所述場致變色功能薄膜依次施加預設的直流電壓；其中，所述預設時間范圍為10秒至300秒，所述預設的直流電壓包括依次從高到低施加的3.0V?、2.5V、2.0V、1.5V以及1.0V的直流電壓；

步驟A3，通過所述電流檢測模塊檢測實時的電流，并記錄時間、直流電壓以及電流之間的對應關系；

步驟A4，通過對電流的變化值進行積分計算，獲取所述場致變色功能薄膜內部的遷移電荷總量；

還通過記錄時間與電流之間的對應關系計算所述場致變色功能薄膜的漏電電流，包括以下步驟：

步驟C1，將所述場致變色功能薄膜的上下ITO導電部分分別連接至所述直流電源供給模塊的正負極上；

步驟C2，根據預設時間范圍對所述場致變色功能薄膜依次施加預設的直流電壓；

步驟C3，通過所述電流檢測模塊檢測實時的電流，并記錄時間、直流電壓以及電流之間的對應關系；

步驟C4，當所述光學變化率的大小T%達到預設穩定值時，以對應的電流作為所述場致變色功能薄膜的總漏電電流；

步驟C5，根據所述場致變色功能薄膜的尺寸大小計算所述場致變色功能薄膜的單位漏電電流。