[發明專利]一種組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法在審
| 申請號: | 202310548773.2 | 申請日: | 2023-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN116542951A | 公開(公告)日: | 2023-08-04 |
| 發明(設計)人: | 楊曉;楊明翰;陳帥;張子恒;汪建業 | 申請(專利權)人: | 中國科學院合肥物質科學研究院 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T11/00;G06N3/0455;G06N3/082 |
| 代理公司: | 西安研實知識產權代理事務所(普通合伙) 61300 | 代理人: | 羅磊 |
| 地址: | 230031 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 組合 電氣 開關 絕緣材料 無損 檢測 中子 稀疏 層析 方法 | ||
1.一種組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法,其特征在于,所述方法包括如下步驟:
S1,通過預設神經網絡模型得到稀疏投影方案;
S2,根據所述稀疏投影方案對待測組合電氣開關進行稀疏投影;
S3,根據投影數據重建所述待測組合電氣開關的圖像;
S4,通過重建的所述圖像確定所述待測組合電氣開關的損壞情況。
2.根據權利要求1所述的組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法,其特征在于,所述預設神經網絡模型為耦合神經網絡模型,所述耦合神經網絡模型包括稀疏投影模塊和編碼-解碼模塊,所述稀疏投影模塊和所述編碼-解碼模塊串行連接。
3.根據權利要求2所述的組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法,其特征在于,所述稀疏投影模塊為一個多層全連接的二值神經網絡,所述二值神經網絡用于給出所述稀疏投影方案。
4.根據權利要求3所述的組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法,其特征在于,所述二值神經網絡的輸入為元素為1的n維向量編碼,其中,n表示用于待測組合電氣開關層析的最大投影數,所述二值神經網絡輸出所述稀疏投影方案,所述投影方案為投影方案編碼。
5.根據權利要求4所述的組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法,其特征在于,所述編碼-解碼模塊包括編碼網絡和解碼網絡,所述編碼網絡和解碼網絡用于重建斷層圖像。
6.根據權利要求5所述的組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法,其特征在于,所述步驟S1中還包括對所述預設神經網絡模型進行訓練,利用數據集,對所述編碼-解碼模塊進行無監督訓練,所述編碼-解碼模塊的輸入為計算得到的所述投影數據,根據所述數據集中的圖像得到計算的所述投影數據。
7.根據權利要求6所述的組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法,其特征在于,計算的所述投影數據根據radon變換得到,公式如下:其中,R表示radon算子,f表示目標圖像,(x,y)表示像素坐標,α表示投影角度,s表示掃描線上與遠點的距離,δ為狄拉克δ函數。
8.根據權利要求7所述的組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法,其特征在于,所述步驟S2中,可移動中子源根據所述稀疏投影方案對所述待測組合電子開關進行稀疏中子層掃描,透射過所述待測組合電子開關的中子被n/γ轉換屏接收并轉化為光子信號,所述光子信號被光學攝像頭,得到所述投影數據。
9.根據權利要求8所述的組合電氣開關絕緣材料無損檢測的中子稀疏層析方法,其特征在于,所述步驟S4中根據重建結果中表征固體絕緣材料結構的像素值的光滑程度及位置得到所述待測組合電氣開關的損壞情況。
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