[發明專利]一種芯片的測試模式控制電路及控制方法有效
| 申請號： | 202310540268.3 | 申請日： | 2023-05-15 |
| 公開（公告）號： | CN116256622B | 公開（公告）日： | 2023-08-08 |
| 發明（設計）人： | 請求不公布姓名 | 申請（專利權）人： | 蘇州貝克微電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250 | 代理人： | 陳剛 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 芯片 測試 模式 控制電路 控制 方法 | ||
1.一種芯片的測試模式控制電路，其特征在于，在所述控制電路中，芯片使能端通過第一齊納二極管Z1、第一電阻R1、第一開關管M1連接至第一節點A；
所述芯片使能端還通過第一齊納二極管Z1、第一電阻R1、第二齊納二極管Z2連接至電源電壓端VIN；所述電源電壓端VIN還連接至所述第一開關管M1的控制端；
所述第一節點A分別通過第二電阻以及第三齊納二極管Z3接地；
所述第一節點A還通過施密特觸發器B1以及第一反相器A1連接至所述控制電路中的模式選擇電路；所述模式選擇電路用于根據所述第一反相器A1的輸出信號向測試電路輸出模式選擇信號；
其中，芯片使能端連接至第一齊納二極管Z1的負極；所述第一齊納二極管Z1的正極通過所述第一電阻R1連接至所述第一開關管M1的源極或發射極；所述第一開關管M1的漏極或集電極連接至所述第一節點A；
所述第一齊納二極管Z1的正極還通過所述第一電阻R1連接至所述第二齊納二極管Z2的負極；所述第二齊納二極管Z2的正極連接至所述電源電壓端VIN；
所述第一節點A還連接至所述第三齊納二極管Z3的負極；所述第三齊納二極管Z3的正極接地。
2.根據權利要求1所述的控制電路，其特征在于，所述模式選擇電路中包括第一D觸發器B2、第二D觸發器B3以及第三D觸發器B4；
所述第一反相器A1的輸出端連接至所述第一D觸發器的時鐘信號端；所述第一D觸發器的Q輸出端通過第二反相器A2分別與第一D觸發器的數據輸入端以及第二D觸發器的時鐘信號端連接；
所述第二D觸發器的Q輸出端通過第三反相器A3分別與第二D觸發器的數據輸入端以及第三D觸發器的時鐘信號端連接；
所述第三D觸發器的Q輸出端通過第四反相器A4與第三D觸發器的數據輸入端連接；
所述模式選擇電路用于根據第一D觸發器的Q輸出端的電平、第二D觸發器的Q輸出端的電平以及第三D觸發器的Q輸出端的電平向測試電路輸出模式選擇信號。
3.根據權利要求2所述的控制電路，其特征在于，所述模式選擇電路中還包括第一與門B5、第二與門B6、第三與門B7和第四與門B8；
所述第一與門B5的輸入端分別與第一D觸發器的Q輸出端、第三反相器A3的輸出端以及第四反相器的輸出端連接；所述第一與門B5的輸出端用于輸出第一模式選擇信號；
所述第二與門B6的輸入端分別與第二反相器A2的輸出端、第二D觸發器的Q輸出端以及第四反相器的輸出端連接；所述第二與門B6的輸出端用于輸出第二模式選擇信號；
所述第三與門B7的輸入端分別與第一D觸發器的Q輸出端、第二D觸發器的Q輸出端以及第四反相器的輸出端連接；所述第三與門B7輸出端用于輸出第三模式選擇信號；
所述第四與門B8的輸入端分別與第二反相器A2的輸出端、第三反相器A3的輸出端以及第三D觸發器的Q輸出端連接；所述第四與門B8用于輸出第四模式選擇信號。
4.根據權利要求1至3任一所述的控制電路，其特征在于，所述第一開關管為普通型PMOS管或PNP三極管。
5.根據權利要求4所述的控制電路，其特征在于，當所述第一開關管M1為普通型PMOS管時，所述第一開關管M1的背柵與其源極相連。
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