[發(fā)明專利]一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310516794.6
• 申請日: 2023-05-09
• 公開（公告）號: CN116540074A
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陸小明
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢芯必達(dá)微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/40
• 代理公司: 南京縱橫知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224
• 代理人: 徐瑛

1.一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的方法，用于校準(zhǔn)所述內(nèi)部電壓源的輸出端電壓，其特征在于，包括：

獲取所述內(nèi)部電壓源的初始校準(zhǔn)值；

比較外部參考電壓與所述初始校準(zhǔn)值對應(yīng)的輸出端電壓，產(chǎn)生初始比較結(jié)果；

獲取所述內(nèi)部電壓源的更新校準(zhǔn)值，產(chǎn)生與更新校準(zhǔn)值對應(yīng)的更新比較結(jié)果；

若所述更新比較結(jié)果相對于初始比較結(jié)果發(fā)生了翻轉(zhuǎn)，則以所述更新校準(zhǔn)值作為內(nèi)部電壓源的最優(yōu)校準(zhǔn)值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的方法，其特征在于，若所述更新比較結(jié)果相對于初始比較結(jié)果沒有發(fā)生翻轉(zhuǎn)，則判斷是否遍歷完所述內(nèi)部電壓源的所有校準(zhǔn)值。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的方法，其特征在于，若未遍歷完所述內(nèi)部電壓源的所有校準(zhǔn)值，則重新獲取新的更新校準(zhǔn)值，產(chǎn)生與新的更新校準(zhǔn)值對應(yīng)的新的更新比較結(jié)果，并判斷新的更新比較結(jié)果相對于上一更新比較結(jié)果是否發(fā)生了翻轉(zhuǎn)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的方法，其特征在于，若已遍歷完所述內(nèi)部電壓源的所有校準(zhǔn)值，則將當(dāng)前芯片作為瑕疵品篩選出來。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的方法，其特征在于，若初始比較結(jié)果不符合預(yù)期，則直接結(jié)束校準(zhǔn)過程。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的方法，其特征在于，利用芯片內(nèi)置的模擬比較器來比較外部參考電壓與內(nèi)部電壓源的輸出端電壓。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的方法，其特征在于，所述外部參考電壓接入模擬比較器的正端，所述內(nèi)部電壓源的輸出端電壓接入模擬比較器的負(fù)端。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的方法，其特征在于，校準(zhǔn)時，按照從小到大的順序遍歷所述內(nèi)部電壓源的所有校準(zhǔn)值，每遍歷一次，讀取一次比較結(jié)果。

9.一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的裝置，用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-8中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述裝置包括模擬比較器，所述模擬比較器的正端連接外部參考電壓，負(fù)端連接待校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的輸出端電壓，輸出端連接寄存器；通過遍歷待校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的校準(zhǔn)值來調(diào)整輸出端電壓，以在模擬比較器的輸出端讀取到不同的比較結(jié)果，并通過比較結(jié)果的翻轉(zhuǎn)確定待校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的最優(yōu)校準(zhǔn)值。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述一種芯片出廠校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的裝置，其特征在于，所述模擬比較器包括電壓比較單元，所述電壓比較單元的輸入端分別連接正端通道選擇電路、負(fù)端通道選擇電路、比較使能寄存器，輸出端連接比較結(jié)果輸出寄存器；所述正端通道選擇電路連接正端通道選擇寄存器，所述負(fù)端通道選擇電路連接負(fù)端通道選擇寄存器；所述正端通道選擇電路的其中一通道連接外部標(biāo)準(zhǔn)電壓輸入管腳，所述負(fù)端通道選擇電路的其中一通道連接待校準(zhǔn)內(nèi)部電壓源的輸出端；所述待校準(zhǔn)的內(nèi)部電壓源還連接校準(zhǔn)值選擇寄存器。