[發明專利]產品理化成分探測裝置

在審

• 申請號: 202310463262.0
• 申請日: 2023-04-26
• 公開（公告）號: CN116609266A
• 公開（公告）日: 2023-08-18
• 發明（設計）人: 張培源;艾欣;吳崢
• 申請（專利權）人: 北京錦繡年華信息科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/3586
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 劉賀秋

本發明提供了一種產品理化成分探測裝置，包括：激光光源，用于發射第一激光；分離器，用于將第一激光分離為第二激光和第三激光；第一延時模塊，用于對第二激光進行延時處理；太赫茲發射器，用于利用第一延時激光產生第一太赫茲波，以及將第一太赫茲波照射至被測樣品后產生第二太赫茲波；第二延時模塊，用于對第三激光進行延時處理；匯聚模塊，位于第二延時激光的傳播路徑和第二太赫茲波的傳播路徑的相交位置，用于匯聚第二延時激光和第二太赫茲波，得到目標激光；太赫茲探測器，位于目標激光的傳播路徑中，用于基于目標激光生成太赫茲時域信號。本發明提供的探測裝置具有結構簡單、故障率低、檢測精度以及檢測效率高的技術效果。

技術領域

本發明涉及太赫茲波檢測領域，具體涉及一種產品理化成分探測裝置。

背景技術

在食品飲料、母嬰產品、美妝個護、居家用品等產品的實時理化成分檢測過程中，一般會采用太赫茲探測方法，對液體、固體、氣體產品進行檢測，例如連續波太赫茲成像(CWTHz)、脈沖太赫茲成像(THz-TDS)、傅里葉變換光譜(FTS)等。應用上述太赫茲探測方法的產品理化成分探測裝置由于其內部需要大量光學設備對光路進行調整，致使其裝置內部龐大且復雜，容易出現故障，造成測量數據誤差大的問題。

在利用上述產品理化成分探測裝置進行成分檢測的過程中，存在由于其裝置結構復雜，故障率高，造成極大的測量誤差的問題。

發明內容

基于此，有必要提供一種結構簡單、不易出現故障的產品理化成分探測裝置，避免造成較大測量誤差的出現，以提高被測樣品的檢測精度和檢測效率。

為了實現上述目的，本發明實施例的第一方面，提供一種產品理化成分探測裝置，包括：

激光光源，用于發射第一激光；

分離器，位于所述第一激光的傳播路徑中，用于將所述第一激光分離為第二激光和第三激光；

第一延時模塊，位于所述第二激光的傳播路徑中，用于對所述第二激光進行延時處理；

太赫茲發射器，位于第一延時激光的傳播路徑中，所述第一延時激光為延時處理后的第二激光；所述太赫茲發射器用于利用所述第一延時激光產生第一太赫茲波，以及將所述第一太赫茲波照射至被測樣品后產生第二太赫茲波；

第二延時模塊，位于所述第三激光的傳播路徑中，用于對所述第三激光進行延時處理；

匯聚模塊，位于第二延時激光的傳播路徑和第二太赫茲波的傳播路徑的相交位置，所述第二延時激光為延時處理后的第三激光，所述匯聚模塊用于匯聚所述第二延時激光和所述第二太赫茲波，得到目標激光；

太赫茲探測器，位于所述目標激光的傳播路徑中，用于基于目標激光生成太赫茲時域信號。

本發明提供的產品理化成分探測裝置，通過激光光源、分離器、第一延時模塊、第二延時模塊、匯聚模塊、太赫茲發射器以及太赫茲探測器，能夠具備結構簡單、故障率低、檢測精度以及檢測效率高的優點。

可選地，在第一方面的一種可能實現方式中,所述第一延時模塊包括一個或多個第一反射鏡，用于通過所述一個或多個第一反射鏡改變所述第二激光的傳播距離，進而調整所述第二激光的傳播時間。

可選地，在第一方面的一種可能實現方式中,所述多個第一反射鏡包括第一子反射鏡、第二子反射鏡和第三子反射鏡；

其中，所述第一子反射鏡與所述第二子反射鏡平行設置，并且所述第一子反射鏡與所述第二子反射鏡位于同一水平方向；

所述第二子反射鏡與所述第三子反射鏡相對設置，并且所述第二子反射鏡與所述第三子反射鏡位于同一豎直方向。