[發明專利]一種顯示屏幕檢測方法及裝置在審
| 申請號: | 202310422279.1 | 申請日: | 2023-04-19 |
| 公開(公告)號: | CN116468693A | 公開(公告)日: | 2023-07-21 |
| 發明(設計)人: | 魏一振;申屠晗;鐘家躍;張卓鵬 | 申請(專利權)人: | 杭州光??萍加邢薰?/a> |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06V10/75;G09G3/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 310000 浙江省杭州市西湖區西溪*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 顯示 屏幕 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種顯示屏幕檢測方法,其特征在于,包括:
獲取被檢測屏幕被點亮時的圖像和合格屏幕被點亮時的圖像;
分別從所述被檢測屏幕的圖像中和所述合格屏幕的圖像中計算所述被檢測屏幕的多個像素點對應的第一行列坐標和所述合格屏幕的多個像素點對應的第二行列坐標;
根據所述第一行列坐標和第二行列坐標計算每個像素區域的中心坐標和/或區域大小,其中,所述像素區域由多個像素點組成;并
根據所述第一行列坐標和第二行列坐標的中心坐標和/或區域大小建立所述被檢測屏幕的評價公式,用于評價所述被檢測屏幕是否合格。
2.根據權利要求1所述的顯示屏幕檢測方法,其特征在于,計算第一行列坐標和第二行列坐標包括:
將所述被檢測屏幕被點亮時的圖像和所述合格屏幕被點亮時的圖像分別進行灰度處理、二值化處理、去噪處理得到二值化圖;
選取所述二值化圖中灰度值為255的像素點,得到多個所述像素點對應的第一行列坐標和第二行列坐標。
3.根據權利要求1所述的顯示屏幕檢測方法,其特征在于,所述根據所述第一行列坐標和第二行列坐標計算每個像素區域的中心坐標和/或區域大小包括:
根據所述第一行列坐標和所述第二行列坐標統計每個所述像素區域的行列坐標的最大最小值,確定所述被檢測屏幕中每個所述像素區域的區域大小和所述合格屏幕中每個所述像素區域的區域大小。
4.根據權利要求3所述的顯示屏幕檢測方法,其特征在于,所述根據所述第一行列坐標和第二行列坐標的中心坐標和/或區域大小建立所述被檢測屏幕的評價公式,用于評價所述被檢測屏幕是否合格,包括:
建立所述被檢測屏幕的評價公式為其中,s1為被檢測屏幕和合格屏幕的匹配度,n1為所述被檢測屏幕中一個或多個所述像素區域的區域大小,n是所述合格屏幕中一個或多個所述像素區域的區域大小,是被檢測屏幕和合格屏幕的相對誤差,β是設定的參數。
5.根據權利要求3所述的顯示屏幕檢測方法,其特征在于,所述根據所述第一行列坐標和第二行列坐標的中心坐標和/或區域大小建立所述被檢測屏幕的評價公式,用于評價所述被檢測屏幕是否合格,包括:
建立所述被檢測屏幕的評價公式為其中,s2為被檢測屏幕的重影度,pi和qi分別表示被檢測屏幕中每個像素區域的長和寬,wi和hi分別表示合格屏幕中每個像素區域的長和寬,abs表示取絕對值,是設定的參數,被表示求和。
6.根據權利要求1所述的顯示屏幕檢測方法,其特征在于,所述根據所述第一行列坐標和第二行列坐標計算每個像素區域的中心坐標和/或區域大小包括:
根據所述第一行列坐標和所述第二行列坐標分別統計每個所述像素區域的行列坐標的最大最小值,計算所述最大最小值的平均值確定為所述被檢測屏幕中每個所述像素區域的中心坐標和所述合格屏幕中每個所述像素區域的中心坐標。
7.根據權利要求6所述的顯示屏幕檢測方法,其特征在于,所述根據所述第一行列坐標和第二行列坐標的中心坐標和/或區域大小建立所述被檢測屏幕的評價公式,用于評價所述被檢測屏幕是否合格,包括:建立所述被檢測屏幕的評價公式為其中,是被檢測屏幕和合格屏幕中的一個或多個像素區域的中心坐標的偏移度大小,是設定的參數,(x1,y1)、(x,y)分別表示合格屏幕中每個所述像素區域的中心坐標和被檢測屏幕中每個所述像素區域的中心坐標。
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