[發明專利]一種電力電子裝置降額測試平臺參數確定方法

在審

• 申請號: 202310422147.9
• 申請日: 2023-04-19
• 公開（公告）號: CN116466163A
• 公開（公告）日: 2023-07-21
• 發明（設計）人: 肖華鋒;王曉標
• 申請（專利權）人: 東南大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/26
• 代理公司: 北京同輝知識產權代理事務所(普通合伙) 11357
• 代理人: 張恩慧

1.一種電力電子裝置降額測試平臺參數確定方法，其特征在于，包括：

降額測試平臺中功率半導體器件電壓電流定額、功率等級、直流電壓等級、交流電壓等級和散熱器等級的參數確定；

根據額定功率下電力電子裝置的功率半導體器件的實際工作點及其額定參數，計算功率半導體器件的電壓比和電流比，選定降額測試平臺用電力電子器件的額定電壓等級，基于相等的電壓比和電流比，得出降額測試平臺功率半導體器件的實際工作時承受的電壓值和流過電流值；并圍繞降額測試平臺功率半導體器件的運行特性，完成直流電壓等級、交流電壓等級和散熱器等級的降額。

2.根據權利要求1所述的降額測試平臺參數確定方法，其特征在于，在功率半導體器件的降額選擇中，包括：

(1)計算實際電力電子裝置額定功率等級P_NR下功率半導體器件的實際工作電壓U_R和實際工作電流I_R，并以功率半導體器件的額定電壓U_NR和額定電流I_NR為基準，計算功率半導體器件的實際工作電壓比(R_UR)和實際工作電流比(R_IR)；

(2)基于商用功率半導體器件的電壓型譜，選定降額測試平臺用電力電子器件的額定電壓等級U^’_NS；

(3)采用電力電子裝置功率半導體器件額定電壓U_NR與降額測試平臺選用的功率半導體器件額定電壓U^’_NS之比R_{UR_S}，計算降額測試平臺所用功率半導體器件的額定電流等級I^’_NS；

(4)利用降額測試平臺用電力電子器件的額定電壓等級U^’_NS和額定電流等級I^’_NS分別除以實際工作電壓比(R_UR)和實際工作電流比(R_IR)，可得降額測試平臺功率半導體器件的實際工作電壓U^’_R和實際工作電流I^’_R。

3.根據權利要求1所述的降額測試平臺參數確定方法，其特征在于，在功率等級的降額選擇中，包括：

(1)利用電力電子裝置功率半導體器件的實際工作電壓U_R和實際工作電流I_R計算單個器件的工作容量S_R；

(2)利用降額測試平臺功率半導體器件的實際工作電壓U^’_R和實際工作電流I^’_R計算單個器件的工作容量S^’_R；

(3)計算降額測試平臺額定功率等級P^’_NR＝P_NR*S^’_R/S_R。

4.根據權利要求1所述的降額測試平臺參數確定方法，其特征在于，在直流電壓等級的降額選擇中，包括：

(1)根據實際電力電子裝置的主功率回路的電路結構，可得降額測試平臺功率半導體器件的電壓應力與降額測試平臺直流側母線電壓的比值k；

(2)利用降額測試平臺用電力電子器件的實際工作電壓U^’_R，計算降額測試平臺直流電壓等級U^’_DC＝U^’_R/k。