[發(fā)明專利]一種紅外遙控接收芯片的Multi-Site CP測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310417755.0
• 申請日: 2023-04-19
• 公開（公告）號: CN116338435A
• 公開（公告）日: 2023-06-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 冉啟海;吳德欽;王明江
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市宇思半導(dǎo)體有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G08C23/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明一種紅外遙控接收芯片的Multi?Site?CP測試系統(tǒng)，包括集成電路測試機(jī)、探針卡、微信號處理電路和信號衰減電路，所述集成電路自動測試機(jī)分別連接探針卡、微信號處理電路和信號衰減電路。本發(fā)明的集成電路自動測試機(jī)的測試通道連接紅外遙控接收芯片的輸入引腳并向紅外遙控接收芯片的輸入引腳輸出載波頻率的方波信號，相對于現(xiàn)有技術(shù)，抗干擾性和Site與Site間的一致性更好，既保證了芯片的品質(zhì)，還降低了測試成本。另外，將毫伏級弱載波頻率的方波信號經(jīng)過信號衰減電路輸入到紅外遙控接收芯片，紅外遙控接收芯片的測試引腳輸出交流信號通過微信號處理電路連接集成電路自動測試機(jī)，將對紅外遙控接收芯片輸出的弱交流信號轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷餍盘枩y試，對集成電路自動測試機(jī)的硬件資源要求降低，有更多的集成電路自動測試機(jī)選擇，并能滿足更多的Site測試，所需測試時間更短，測試效率更高，從而測試成本更低。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種紅外遙控接收芯片的Multi-SiteCP測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

晶圓CP(Chip?probing)測試是指芯片在Wafer階段，通過集成電路自動測試機(jī)連接探針卡，探針卡的探針直接與芯片上的焊墊接觸，來完成對芯片的功能和性能的測試。

紅外遙控器成本低廉、功耗低、連接方便、簡單易用，在很多小型移動設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。目前，紅外遙控器是家用電器的標(biāo)準(zhǔn)部件，電視機(jī)、機(jī)頂盒、音頻功放、電風(fēng)扇、空調(diào)等家用電器設(shè)備的所有功能都可以通過紅外遙控器來控制。由于當(dāng)前紅外遙控接收芯片市場競爭激烈，要求對此類芯片的性能更好且更廉價的產(chǎn)品來占領(lǐng)市場，便對此類芯片的測試方案和成本控制有了更高的要求。

該紅外遙控接收芯片具有寬電源電壓、高靈敏度、較好的噪聲抑制以及較強(qiáng)的抗外部光源和電源紋波的干擾能力。該芯片可以選擇4種不同的載波頻率（36.7KHz、37.9KHz、40KHz、56.7KHz），而且為了保證中心頻率的準(zhǔn)確度，在CP測試中，通過芯片內(nèi)部的Fuse位來對中心頻率進(jìn)行Trimming，使中心頻率具有更高的精度和一致性。

現(xiàn)有市面上較成熟的測試方案（CN201910705319.7）為集成電路自動測試機(jī)直接控制紅外發(fā)光二極管發(fā)出紅外光信號，通過光敏二極管將接收到的紅外光信號轉(zhuǎn)化為電信號傳輸給紅外遙控接收芯片，芯片收到信號后通過芯片內(nèi)部電路進(jìn)行解調(diào)，然后將解調(diào)信號波形傳輸給集成電路自動測試機(jī)做出判定，從而區(qū)分出良品和壞品。該技術(shù)方案用到紅外光信號，容易受外界條件干擾，比如環(huán)境中的光線干擾，Site與Site間的紅外光信號相互干擾，此時需要對每個Site的抗干擾屏蔽做的非常好，通常需要專門針對每個Site做一個屏蔽盒進(jìn)行屏蔽外界信號干擾，另外屏蔽盒在探針卡上很占用空間，最多只能實現(xiàn)4?Site測試，而且Site與Site之間的一致性很難保證。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本發(fā)明提供提供一種紅外遙控接收芯片的Multi-Site?CP測試系統(tǒng)，大大提升了紅外遙控接收芯片的CP測試效率，從而降低CP測試成本。

本發(fā)明的測試方案為，經(jīng)過信號衰減電路將毫伏級的載波頻率的方波信號傳輸至芯片的輸入引腳IN，然后把信號送到紅外遙控接收芯片內(nèi)部的放大電路進(jìn)行放大，限幅放大電路在放大信號的同時又把脈沖幅度控制在一定的水平。交流信號進(jìn)入帶通濾波器，帶通濾波器濾除中心頻率外頻率的噪聲，出來的信號通過解調(diào)電路和積分電路進(jìn)入比較器，比較器輸出高低電平，還原出發(fā)射端的二進(jìn)制信號波形。最終將二進(jìn)制信號波形傳輸給集成電路自動測試機(jī)做出判定，從而區(qū)分出良品和壞品。

實現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)方案為：

一種紅外遙控接收芯片的Multi-Site?CP測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：集成電路測試機(jī)、探針卡、微信號處理電路和信號衰減電路，所述集成電路自動測試機(jī)分別連接探針卡、微信號處理電路和信號衰減電路。

進(jìn)一步的，所述集成電路測試機(jī)的測試通道連接探針卡的輸入/輸出端口。