[發(fā)明專利]一種利用三維熒光光譜瑞利散射信號估算紫外-可見吸收光譜的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310413636.8 | 申請日: | 2023-04-18 |
| 公開(公告)號: | CN116223414A | 公開(公告)日: | 2023-06-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 俞漢青;陳潔潔;錢晨;杜蒙 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學技術(shù)大學 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31;G01N21/33;G01N21/64 |
| 代理公司: | 安徽省合肥新安專利代理有限責任公司 34101 | 代理人: | 盧敏 |
| 地址: | 230026 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 利用 三維 熒光 光譜 瑞利散射 信號 估算 紫外 可見 吸收光譜 方法 | ||
1.一種利用三維熒光光譜瑞利散射信號估算紫外-可見吸收光譜的方法,其特征在于,包括如下步驟:
1)準備待測樣本溶液和與待測樣本溶液具有相同散射性質(zhì)的空白對照液;
2)分別采集待測樣本溶液和空白對照液在紫外至可見波長范圍內(nèi)的三維熒光光譜,并分別提取其瑞利散射光譜;
3)依據(jù)待測樣本溶液和空白對照液的瑞利散射光譜,按照式(1)計算待測樣本在每個波長處的吸收值,獲得待測樣本的原始紫外-可見吸收吸收光譜:
式中:λ為波長,A(λ)為待測樣本在波長λ處的吸收值,Sblank(λ)表示空白對照液在波長λ處的瑞利散射值,Ssample(λ)表示待測樣本溶液在波長λ處的瑞利散射值;
4)對計算所得原始紫外-可見吸收光譜進行平滑處理和/或基線矯正,得到待測樣本最終的紫外-可見吸收吸收光譜。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:所述空白對照液中含有所述待測樣本溶液中除待測樣本外的其余物質(zhì)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,步驟2)的具體方法為:
采集待測樣本溶液的三維熒光光譜,取每條熒光發(fā)射譜于其激發(fā)波長λ位置附近的極大值作為所述待測樣本溶液在波長λ處的瑞利散射值Ssample(λ);以λ為橫坐標、以Ssample(λ)為縱坐標,即獲得待測樣本溶液的瑞利散射光譜;
采集空白對照液的三維熒光光譜,取每條熒光發(fā)射譜于其激發(fā)波長λ位置附近的極大值作為所述空白對照液在波長λ處的瑞利散射值Sblank(λ);以λ為橫坐標、以Ssample(λ)為縱坐標,即獲得空白對照液的瑞利散射光譜。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于:待測樣本溶液和空白對照液的三維熒光光譜分別采集多組,去除激發(fā)波長λ位置附近的多組極大值中的離群值后取平均值,作為波長λ處的瑞利散射值。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于:每條熒光發(fā)射譜于其激發(fā)波長λ位置附近的極大值是以該條熒光發(fā)射譜對應(yīng)的激發(fā)波長λ為中心,尋找距離λ大于1nm且小于40nm范圍內(nèi)的極大值。
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G01N21-01 .便于進行光學測試的裝置或儀器
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