[發明專利]一種高精確度的鐵磁共振線寬測量方法

在審

• 申請號: 202310406153.5
• 申請日: 2023-04-17
• 公開（公告）號: CN116482590A
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 張懷武;岳華偉;金立川;傅橙輝;臧百斐
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 電子科技大學專利中心 51203
• 代理人: 甘茂

1.一種高精確度的鐵磁共振線寬測量方法，包括以下步驟：

步驟1、設定測試頻率與粗掃步進ε₁，在測試頻率下進行最大范圍掃場，得到待測樣品的吸收峰；

步驟2、設定第一次細掃步進ε₂、ε₂ε₁，對吸收峰進行掃場，得到待測樣品的采樣點集Q₁＝[(x₁,y₁),(x₂,y₂),...,(x_M,y_M)]，(x_m,y_m)表示第一次細掃的第m個采樣點數據，其中，x為磁場強度，y為S₂₁參數；

步驟3、對采樣數據集Q₁進行洛倫茲擬合，得到待測樣品的共振曲線y，并對共振曲線求導，得到：

其中，x為磁場強度，y為S₂₁參數，A、y₀、x_c為擬合參數，w為鐵磁共振線寬的擬合參數；

步驟4、設定第二次細掃步進ε₃、ε₃ε₂，對吸收峰再次進行掃場，得到待測樣品的采樣點集Q₂＝[(x₁′,y₁′),(x₂′,y₂′),...,(x′_N,y′_N)]，(x_n′,y_n′)表示第二次細掃的第n個采樣點數據；

步驟5、設置插值精度ε，對采樣點集Q₂進行插值，得到插值點集Q₃＝[(x₁″,y₁″),(x₂″,y₂″),...,(x′_N′,y′_N′)]；(x_n″,y_n″)表示第n個插值點數據，具體為：

步驟6、將采樣點集Q₂與插值點集Q₃按照磁場強度由小到大的順序合并構成測試點集，對測試點集再次進行洛倫茲擬合，將鐵磁共振線寬的擬合參數作為鐵磁共振線寬測量結果。

2.按權利要求1所述高精確度的鐵磁共振線寬測量方法，其特征在于，洛倫茲擬合的公式為：

其中，x為磁場強度，y為S₂₁參數，A、y₀、x_c為擬合參數，w為鐵磁共振線寬的擬合參數。

3.按權利要求1所述高精確度的鐵磁共振線寬測量方法，其特征在于，插值精度ε小于磁場強度最小精度。