[發明專利]一種基于損耗因子的S參數自動化測量方法及系統

在審

• 申請號: 202310405189.1
• 申請日: 2023-04-17
• 公開（公告）號: CN116430146A
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發明（設計）人: 文獻;孫臘梅;羅麗云
• 申請（專利權）人: 深圳市萬兆通光電技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G06F17/18
• 代理公司: 北京國源中科知識產權代理事務所(普通合伙) 16179
• 代理人: 戈余麗

1.一種基于損耗因子的S參數自動化測量方法，其特征在于：包括如下步驟：

S1、通過矢量網絡分析儀以采集的方式測量S散射參量，并在不同時段下進行多次重復操作；

S2、將每次所采集的S散射參量進行標記，記為測量數據；

S3、建立容納空間，通過容納空間針對上述的測量數據進行儲存，并對容納空間設定儲存容量值；

S4、確立不同時段下分類的測量數據，并將多組測量數據進行比對分析；

S5、分析S散射參量在不同時段下的變化狀況。

2.根據權利要求1所述的基于損耗因子的S參數自動化測量方法，其特征在于：所述矢量網絡分析儀采集S散射參量時，對處于不同時段下的S散射參量進行分別采集。

3.根據權利要求2所述的基于損耗因子的S參數自動化測量方法，其特征在于：所述S散射參量在不同時段下進行采集測量，其中，不同時段包括如下多種時段情況：

①：被測器件在周圍環境下的時段情況；

②：被測器件在一定運行時間下的時段情況。

4.根據權利要求1所述的基于損耗因子的S參數自動化測量方法，其特征在于：所述采集的多個S散射參量通過標記記為測量數據，多個所述測量數據通過統計算法對不同時段下的測量數據進行匯總，其算法公式如下：

P＝[W₁、W₂、W₃、W₄.......W_N]；

H＝[E₁、E₂、E₃、E₄......E_N]；

其中，P為被測器件在周圍環境時段下多種情況的統計數據，W_N為被測器件在周圍環境時段下的測量數據，H為被測器件在一定運行時間時段下的統計數據；E_N為被測器件在一定運行時間時段下的測量數據。

5.根據權利要求4所述的基于損耗因子的S參數自動化測量方法，其特征在于：所述容納空間建立時，通過將矢量網絡分析儀在不同時段下采集的測量數據存入容納空間。

6.根據權利要求5所述的基于損耗因子的S參數自動化測量方法，其特征在于：所述容納空間在存儲測量數據時，針對每次測量數據的存儲容量設定容納空間儲存容量值，當容納空間的存儲容量超過容儲存容量值時，剔除容納空間所存儲的部分測量數據。

7.根據權利要求1所述的基于損耗因子的S參數自動化測量方法，其特征在于：所述容納空間內不同時段的測量數據存儲后，通過對不同時段下多組的測量數據進行對比，并分析S散射參量在不同時段下的變化狀況。

8.根據權利要求7所述的基于損耗因子的S參數自動化測量方法，其特征在于：所述不同時段下多組的測量數據進行對比時，所采用的算法為對比算法，其算法公式如下：

公式一：

公式二：

其中，Y為被測器件在實時環境測量數據W_N與額定測量數據G之間的比值，G為被測器件在周圍環境時段下的額定測量數據，Z為被測器件在一定運行時間時段下的額定測量數據，F為被測器件在運行時間下的實時測量數據E_N與額定測量數據Z之間的比值。

9.一種用于操作權利要求1-8中任一項所述的基于損耗因子的S參數自動化測量方法的測量系統，其特征在于：至少包括：

S參數測量模塊，所述S參數測量模塊用于通過矢量網絡分析儀測量S散射參量；

標記模塊，所述標記模塊用于對每次所采集的S散射參量進行標記，并記為測量數據；

空間建立模塊，所述空間建立模塊用于搭建容納測量數據的容納空間，并限制容納空間內的容納量；

數據分析模塊，所述數據分析模塊用于對不同時段下的測量數據進行比對分析，并分析S散射參量在不同時段下的變化狀況。