[發(fā)明專(zhuān)利]基于準(zhǔn)增強(qiáng)型氮化鎵器件的反相器及其制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310403315.X | 申請(qǐng)日: | 2023-04-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN116564965A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-08-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曹平予;崔苗;趙胤超;李帆 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 西交利物浦大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L27/088 | 分類(lèi)號(hào): | H01L27/088;H01L29/778;H01L29/20;H01L21/8236 |
| 代理公司: | 蘇州謹(jǐn)和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 32295 | 代理人: | 葉棟 |
| 地址: | 215123 江蘇省蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 增強(qiáng) 氮化 器件 反相器 及其 制造 方法 | ||
1.一種基于準(zhǔn)增強(qiáng)型氮化鎵器件的反相器,其特征在于,包括:
耗盡型的第一負(fù)載晶體管;
耗盡型的第二負(fù)載晶體管,其漏電極與耗盡型的第一負(fù)載晶體管的源電極和柵電極連接;及
若干二極管,所述若干二極管串聯(lián)在所述耗盡型的第二負(fù)載晶體管的源電極與柵電極之間;
其中,所述耗盡型的第一負(fù)載晶體管、耗盡型的第二負(fù)載晶體管均為常開(kāi)型的氮化鎵高電子遷移率晶體管;
所述耗盡型的第二負(fù)載晶體管與若干二極管構(gòu)成常閉型的準(zhǔn)增強(qiáng)型的氮化鎵高電子遷移率晶體管。
2.一種基于準(zhǔn)增強(qiáng)型氮化鎵器件的反相器,其特征在于,包括依次設(shè)置的基層和鈍化層,所述基層依次包括硅襯底、氮化鎵外延層和鋁鎵氮?jiǎng)輭緦樱龌鶎颖桓綦x形成第一器件區(qū)域和第二器件區(qū)域,其中,第一器件區(qū)域上形成耗盡型的第一負(fù)載晶體管的源電極、柵電極和漏電極,第二器件區(qū)域上形成耗盡型的第二負(fù)載晶體管的源電極、柵電極和漏電極,所述源電極、柵電極和漏電極形成在鈍化層內(nèi),所述鈍化層上形成有金屬連接部,所述金屬連接部電連接耗盡型的第一負(fù)載晶體管的柵電極、源電極和耗盡型的第二負(fù)載晶體管的漏電極;所述第二器件區(qū)域上形成有若干肖特基勢(shì)壘,所述第二器件區(qū)域內(nèi)形成有絕緣部,所述絕緣部將若干肖特基勢(shì)壘所在子區(qū)域相互隔離,所述第二器件區(qū)域上還對(duì)應(yīng)若干肖特基勢(shì)壘形成有歐姆接觸區(qū),所述耗盡型的第二負(fù)載晶體管的源電極與漏電極通過(guò)歐姆接觸區(qū)和肖特基勢(shì)壘在第二器件區(qū)域內(nèi)構(gòu)成電流通路。
3.如權(quán)利要求2所述的基于準(zhǔn)增強(qiáng)型氮化鎵器件的反相器,其特征在于,所述柵電極與鋁鎵氮?jiǎng)輭緦又g形成氧化鋁結(jié)構(gòu)。
4.一種基于準(zhǔn)增強(qiáng)型氮化鎵器件的反相器的制造方法,其特征在于,包括以下具體步驟:
1)提供硅襯底,在所述硅襯底上依次形成氮化鎵外延層、鋁鎵氮?jiǎng)輭緦樱纬苫鶎樱?/p>
2)在所述鋁鎵氮?jiǎng)輭緦优c氮化鎵外延層中形成隔離部以將該隔離部的兩側(cè)隔離形成第一器件區(qū)域和第二器件區(qū)域,并在所述第二器件區(qū)域?qū)?yīng)的鋁鎵氮?jiǎng)輭緦优c氮化鎵外延層內(nèi)形成若干絕緣部;
3)在所述第一器件區(qū)域?qū)?yīng)的鋁鎵氮?jiǎng)輭緦由瞎饪毯谋M型的第一負(fù)載晶體管的源電極、漏電極區(qū)域窗口,在所述第二器件區(qū)域?qū)?yīng)的鋁鎵氮?jiǎng)輭緦由瞎饪毯谋M型的負(fù)載晶體管的源電極、漏電極、歐姆接觸區(qū)域窗口,并采用電子束蒸發(fā)工藝在第一器件區(qū)域的源電極、漏電極區(qū)域窗口及第二器件區(qū)域的源電極、漏電極、歐姆接觸區(qū)域窗口上沉積金屬,形成耗盡型的第一負(fù)載晶體管的源電極和漏電極、耗盡型的第二負(fù)載晶體管的源電極和漏電極以及歐姆接觸區(qū);
4)在所述鋁鎵氮?jiǎng)輭緦由仙L(zhǎng)氧化鋁絕緣層;
5)在所述第一器件區(qū)域光刻耗盡型的第一負(fù)載晶體管的柵電極區(qū)域窗口,在所述第二器件區(qū)域光刻耗盡型的第二負(fù)載晶體管的柵電極區(qū)域窗口,并去除所述第一器件區(qū)域、第二器件區(qū)域除柵電極窗口以外區(qū)域的氧化鋁絕緣層;
6)在在所述第一器件區(qū)域光刻耗盡型的第一負(fù)載晶體管的柵電極區(qū)域窗口,在所述第二器件區(qū)域光刻耗盡型的第二負(fù)載晶體管的柵電極區(qū)域窗口及肖特基區(qū)域窗口,并采用電子束蒸發(fā)工藝在第一器件區(qū)域的柵電極區(qū)域窗口以及第二器件區(qū)域的柵電極、肖特基接觸區(qū)域窗口上沉積金屬,形成耗盡型的第一負(fù)載晶體管的柵電極以及耗盡型的第二負(fù)載晶體管的柵電極,并形成肖特基勢(shì)壘;
7)在所述鋁鎵氮?jiǎng)輭緦由仙L(zhǎng)鈍化層;
8)在所述鈍化層上對(duì)應(yīng)耗盡型的第一負(fù)載晶體管的柵電極、源電極、漏電極的位置處以及對(duì)應(yīng)耗盡型的第二負(fù)載晶體管的柵電極、源電極、漏電極的位置處開(kāi)孔;
9)通過(guò)電子束蒸發(fā)工藝在在所述耗盡型的第一負(fù)載晶體管的柵電極、源電極以及耗盡型的第二負(fù)載晶體管的漏電極上沉積金屬形成金屬連接部以使三者電性連接,構(gòu)成所述反相器。
5.如權(quán)利要求4所述的基于準(zhǔn)增強(qiáng)型氮化鎵器件的反相器的制造方法,其特征在于,在步驟3中,沉積的所述金屬為T(mén)i/Al/Ni/Au的組合、Ti/Al/Ni/TiN的組合、Ti/Al/Ni/W的組合中的一種;步驟4中,沉積的金屬為Ni/TiN的組合或Ni/Au的組合。
6.如權(quán)利要求4所述的基于準(zhǔn)增強(qiáng)型氮化鎵器件的反相器的制造方法,其特征在于,在步驟3中,在電子束蒸發(fā)工藝之后,還包括在氮?dú)猸h(huán)境中退火的步驟。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專(zhuān)門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專(zhuān)門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專(zhuān)門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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