[發明專利]一種測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202310383010.7
• 申請日: 2023-04-06
• 公開（公告）號: CN116578472A
• 公開（公告）日: 2023-08-11
• 發明（設計）人: 陳騰詳
• 申請（專利權）人: 合肥聯寶信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F13/42
• 代理公司: 北京樂知新創知識產權代理事務所(普通合伙) 11734
• 代理人: 秦然

本發明公開了一種測試方法及裝置，應用于測試主持機，包括：接收攜帶測試應用程序的測試指令；利用測試應用程序，判斷測試主持機和待測機是否支持PD偵錯模式；在測試主持機和待測機均支持PD偵錯模式時，根據測試應用程序，向待測機發送偵錯指令；接收待測機響應于偵錯指令返回的偵錯信息；根據偵錯信息，獲得待測機的異常偵錯結果。如此，利用測試主持機和測試機之間的測試指令實現測試，測試方法能夠通用于不同硬件架構，有效節約避免了針對每一套硬件架構設計一套測試方法的情況，顯著提升測試效率，在快速偵錯解決問題的同時明顯降低測試成本。

技術領域

本發明涉及電子產品技術領域，尤其涉及一種測試方法及裝置。

背景技術

在不同的電子產品的項目研發過程中都遇到一些問題，相應的研發團隊需要耗費時間研究問題的觸發原因。在此過程中需要搜集發生問題的相關信息，例如：確定出現問題的器件、確定設備或器件的供電電源的電壓電流是否正常等。這些信息的搜集過程即為項目的測試過程，需要耗費大量的時間和精力，并且每個項目通常是測試方法和測試治具是不通用的。

例如：不同型號的筆記本電腦設計過程中，由于采用不同的芯片、應用不同的硬件設計，因此，針對不同型號筆記本電腦的設計項目，需要設計對應于筆記本型號的測試方法，并進一步設計不同的測試治具。此外，將實體治具(電子產品的測試儀器)與筆記本電腦的連接過程，也需要耗費耗時大量的時間和精力。

發明內容

本發明實施例為了解決項目測試中存在的上述問題，創造性地提供一種測試方法及裝置。

根據本發明第一方面，提供了一種測試方法，應用于測試主持機，所述方法包括：接收測試指令，所述測試指令攜帶測試應用程序；利用所述測試應用程序，判斷測試主持機和待測機是否支持PD偵錯模式；在測試主持機和待測機均支持所述PD偵錯模式時，根據所述測試應用程序，向待測機發送偵錯指令；接收所述待測機響應于所述偵錯指令返回的偵錯信息；根據所述偵錯信息，獲得所述待測機的異常偵錯結果。

根據本發明一實施方式，所述判斷測試主持機和待測機是否支持PD偵錯模式，包括：根據所述測試應用程序，向所述待測機發送確認指令，所述確認指令為廠家自定義消息VDM；在所述待測機響應于所述確認指令返回確認字符ACK指令時，判定所述測試主持機和所述待測機支持PD偵錯模式。

根據本發明一實施方式，所述偵錯指令為廠家自定義消息VDM。

根據本發明第二方面，還提供了一種測試方法，應用于待測機，所述方法包括：接收測試主持機發送的偵錯指令；響應于所述偵錯指令，獲取對應于所述偵錯指令的偵錯信息；發送所述偵錯信息至所述測試主持機。

根據本發明一實施方式，在接收測試主持機發送的偵錯指令之前，所述方法還包括：接收所述測試機發送的確認指令，所述確認指令為廠家自定義消息VDM；響應于所述確認指令，發送確認字符ACK指令至所述測試主持機，所述ACK指令示出所述測試主持機和所述待測機支持PD偵錯模式。

根據本發明第三方面，還提供了一種測試裝置，應用于測試主持機，所述裝置包括：所述裝置包括：接收模塊，用于接收測試指令，所述測試指令攜帶測試應用程序；模式判斷模塊，用于利用所述測試應用程序，判斷測試主持機和待測機是否支持PD偵錯模式；偵錯指令發送模塊，用于在測試主持機和待測機均支持所述PD偵錯模式時，根據所述測試應用程序，向待測機發送偵錯指令；信息接收模塊，接收所述待測機響應于所述偵錯指令返回的偵錯信息；偵錯模塊，用于根據所述偵錯信息，獲得所述待測機的異常偵錯結果。

根據本發明一實施方式，所述模式判斷模塊包括：確認指令發送子模塊，用于根據所述測試應用程序，向所述待測機發送確認指令，所述確認指令為廠家自定義消息VDM；判斷子模塊，用于在所述待測機響應于所述確認指令返回確認字符ACK指令時，判定所述測試主持機和所述待測機支持PD偵錯模式。

根據本發明一實施方式，所述偵錯指令為廠家自定義消息VDM。