[發(fā)明專利]一種岸邊起重機的對位校準方法和系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310374791.3
• 申請日: 2023-04-10
• 公開（公告）號: CN116239025A
• 公開（公告）日: 2023-06-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙波;葉湛昌;閔青松;劉經(jīng)維;吳映穗;陳珠友;林日生;衛(wèi)濤;葉瑞生;竇琴
• 申請（專利權(quán)）人: 蛇口集裝箱碼頭有限公司;北京精衡偉視科技有限公司
• 主分類號: B66C13/48
• 分類號: B66C13/48;B66C13/46;B66C13/16;B66C13/08
• 代理公司: 深圳市博太聯(lián)眾專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 44354
• 代理人: 任轉(zhuǎn)英

本發(fā)明公開了一種岸邊起重機的對位校準方法和對位校準系統(tǒng)，對位校準方法包括：控制吊具運動到校準位置，使所述吊具在所述校準位置懸停；啟動激光掃描儀對吊具進行掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)；對所述掃描數(shù)據(jù)進行計算，獲得吊具的新對位基準信息；用所述新對位基準信息替換原來的對位基準信息。該對位校準方法和對位校準系統(tǒng)可自動完成校準，無需人工測量，安全性好，準確度高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及岸邊起重機領(lǐng)域，具體而言，涉及一種岸邊起重機的對位校準方法和對位校準系統(tǒng)。

背景技術(shù)

為提升岸邊起重機作業(yè)效率，岸邊起重機對位引導(dǎo)系統(tǒng)已經(jīng)得到廣泛應(yīng)用，對位基準位置的修正一般采用的是人工測量方法，由系統(tǒng)維護人員定期進行現(xiàn)場測量，并在系統(tǒng)中手工設(shè)定。

由于岸邊起重機作業(yè)繁忙，作業(yè)現(xiàn)場環(huán)境復(fù)雜，人工測量方法需要完成大量的現(xiàn)場協(xié)調(diào)工作，在安全性、實時性和準確性方面都無法滿足要求，亟需一種切實可行的對位校準方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此，本發(fā)明提出一種岸邊起重機的對位校準方法，該對位校準方法可自動完成校準，無需人工測量，安全性較好。

本發(fā)明的岸邊起重機的對位校準方法，包括：控制吊具運動到校準位置并在所述校準位置懸停；啟動激光掃描儀對吊具進行掃描，獲得掃描數(shù)據(jù)；對所述掃描數(shù)據(jù)進行計算，獲得吊具的新對位基準信息；用所述新對位基準信息替換原來的對位基準信息。

本發(fā)明的岸邊起重機的對位校準方法，采用激光掃描儀，可自動獲得吊具的對位基準信息，無需人工測量，節(jié)省人力成本，安全性好，準確性高，進而可提高岸邊起重機的作業(yè)效率。

進一步地，所述吊具為空載吊具，所述校準位置的離地高度為4.3米至4.6米。

進一步地，所述吊具在所述校準位置懸停時來回擺動，所述激光掃描儀的掃描總時長大于或等于所述吊具的兩個擺動周期。

進一步地，對所述掃描數(shù)據(jù)進行計算，獲得吊具的新對位基準信息，具體包括：

A、獲取所述激光掃描儀的一次測量的測量數(shù)據(jù)，并從所述一次測量的測量數(shù)據(jù)中提取吊具的截面輪廓數(shù)據(jù)；

B、根據(jù)所述截面輪廓數(shù)據(jù)計算所述吊具的所述一個側(cè)立面位置信息；

C、根據(jù)所述一個側(cè)立面位置信息計算所述一次測量的吊具的中軸面位置信息；

D、在激光掃描儀的一個掃描總時長內(nèi)，重復(fù)上述步驟A、B和C，獲得多個中軸面位置信息；

E、根據(jù)一個掃描總時長內(nèi)的所有中軸面位置信息計算吊具的新對位基準信息。

進一步地，所述一個側(cè)立面為左側(cè)立面。

進一步地，所述吊具的左側(cè)立面位置信息采用如下公式計算：

LXhst(k)＝minX(ΩZX(LD,k))

其中，ΩZX(LD,k)為激光掃描儀第k次測量得到的截面輪廓數(shù)據(jù)，k為自然數(shù)。

進一步地，所述一次測量的吊具的中軸面位置信息采用如下公式計算：

Xhst*(k)＝LXhst(k)+CL20/2

其中，LXhst(k)是第k次計算的吊具的左側(cè)立面位置，CL20是吊具的左側(cè)立面到右側(cè)立面的距離，k為自然數(shù)。

進一步地，吊具的對位基準位置信息采用如下公式計算：

Xhst*＝(min(Xhst*(k))+max(Xhst*(k)))/2

k為自然數(shù)。

進一步地，所述激光掃描儀為二維激光掃描儀。