[發(fā)明專利]一種陶瓷制品的深度圖補(bǔ)全方法、設(shè)備及存儲設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310362652.9 | 申請日: | 2023-04-06 |
| 公開(公告)號: | CN116385511A | 公開(公告)日: | 2023-07-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳鑫;陳金戈;梅義勝;黃貝諾;胡宸昱;李誠宇 | 申請(專利權(quán))人: | 中國地質(zhì)大學(xué)(武漢) |
| 主分類號: | G06T7/33 | 分類號: | G06T7/33;G06T7/73;G06T7/80;G06T7/90;G06T5/00;G06T5/20;G06V10/74 |
| 代理公司: | 武漢知產(chǎn)時代知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42238 | 代理人: | 魏波 |
| 地址: | 430000 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 陶瓷制品 深度 圖補(bǔ)全 方法 設(shè)備 存儲 | ||
1.一種陶瓷制品的深度圖補(bǔ)全方法,其特征在于:包括以下步驟:
S1、利用彩色相機(jī)和雙目相機(jī)分別獲取陶瓷制品的彩色圖和深度圖;
S2、將彩色圖和深度圖進(jìn)行圖像配準(zhǔn),將深度圖圖像坐標(biāo)下的點轉(zhuǎn)換到彩色坐標(biāo)下,使兩幅圖像在同一場景的像素位置一一對應(yīng);
S3、計算坐標(biāo)轉(zhuǎn)換后深度圖的每個像素點的濾波鄰域范圍Ω;
S4、計算像素空間距離權(quán)重中的參數(shù)σr;
S5、計算像素顏色相似度權(quán)重中的參數(shù)σc;
S6、將補(bǔ)全前的深度圖、鄰域范圍Ω、像素空間距離權(quán)重中的參數(shù)σr、像素顏色相似度權(quán)重中的參數(shù)σc輸入聯(lián)合雙邊濾波算子,得到補(bǔ)全后的深度圖。
2.如權(quán)利要求1所述的一種陶瓷制品的深度圖補(bǔ)全方法,其特征在于:步驟S2中圖像配準(zhǔn)的過程如下:
S21、將深度圖的圖像坐標(biāo)轉(zhuǎn)換成深度圖空間坐標(biāo),如公式(1):
式(1)中為深度圖空間坐標(biāo)系下的像素點,為深度圖圖像坐標(biāo)系下的像素點;Z=S×f/d,S為雙目相機(jī)兩光軸間的距離,f為雙目相機(jī)焦距,d為雙目相機(jī)的視差;Kd為雙目相機(jī)內(nèi)參;
S22、將深度圖空間坐標(biāo)系下的像素點轉(zhuǎn)換至世界坐標(biāo)系下,如式(2):
式(2)中,Pw為世界坐標(biāo)系下的像素點;Tw2d為雙目相機(jī)的外參,通過張正友標(biāo)定法利用棋盤格標(biāo)定得出;
S23、將世界坐標(biāo)系的深度點Pw轉(zhuǎn)換到彩色坐標(biāo)系下的點如式(3):
式(3)中Tw2c為彩色攝像頭外參,通過張正友標(biāo)定法利用棋盤格標(biāo)定得出;
S24、將彩色相機(jī)坐標(biāo)系下的深度點映射到Z=1的彩色平面上點如公式(4):
式(4)中,Kc為彩色相機(jī)的內(nèi)參,通過相機(jī)內(nèi)部的sdk獲取,表示按z軸歸一化。
3.如權(quán)利要求1所述的一種陶瓷制品的深度圖補(bǔ)全方法,其特征在于:步驟S3具體為:在深度圖像中計算每個空洞像素點m×m鄰域內(nèi)非零像素點的占比T,若TQ,其中Q為預(yù)設(shè)閾值,則濾波鄰域Ω設(shè)為m×m;否則m=m+Δm,Δm為預(yù)設(shè)步長,并再次判斷T和Q的大小,直到求出最佳濾波鄰域Ω。
4.如權(quán)利要求3所述的一種陶瓷制品的深度圖補(bǔ)全方法,其特征在于:步驟S4像素空間距離權(quán)重中的參數(shù)σr的計算公式如下:
式(5)中,σr(max)為參數(shù)σr允許的最大值,m為鄰域的邊長,m0為鄰域邊長的初始預(yù)設(shè)值;參數(shù)σr是在最佳濾波鄰域Ω的邊長m下得出最佳距離權(quán)重。
5.如權(quán)利要求4所述的一種陶瓷制品的深度圖補(bǔ)全方法,其特征在于:步驟S5中引入結(jié)構(gòu)相似度SSIM評價標(biāo)準(zhǔn)計算像素顏色相似度權(quán)重中的參數(shù)σc,其計算式如(6)所示:
式(6)中,σc(max)為參數(shù)σc允許的最大值;SSSIM(r,g,b)表示彩色圖像RGB3個通道各自的SSIM值;
其中SSIM值為亮度、對比度和結(jié)構(gòu)3個因素的乘積,其中亮度、對比度和結(jié)構(gòu)分別采用每個空洞點鄰域內(nèi)像素均值ux?uy、標(biāo)準(zhǔn)差σxσy和協(xié)方差σxy表示,其計算公式如式(7):
SSSIM(x,y)為單項通道的結(jié)構(gòu)相似度,計算深度圖與彩色圖的結(jié)構(gòu)相似度時,取RGB?3個通道的平均值作為最后結(jié)果;ux為圖像坐標(biāo)x的像素均值;uy為圖像坐標(biāo)y的像素均值;σx為圖像坐標(biāo)x的像素標(biāo)準(zhǔn)差;σy為圖像坐標(biāo)y的像素標(biāo)準(zhǔn)差。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國地質(zhì)大學(xué)(武漢),未經(jīng)中國地質(zhì)大學(xué)(武漢)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202310362652.9/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





