[發(fā)明專利]測試方法、電子設(shè)備及儲(chǔ)能設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310361233.3 | 申請(qǐng)日: | 2023-03-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116540118A | 公開(公告)日: | 2023-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭銳暢;陳熙;王雷;月雷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市正浩創(chuàng)新科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/385 | 分類號(hào): | G01R31/385;G01R31/396 |
| 代理公司: | 深圳市力道知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44507 | 代理人: | 溫朝暉 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)石巖*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 方法 電子設(shè)備 設(shè)備 | ||
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測試方法、電子設(shè)備及儲(chǔ)能系統(tǒng),測試方法用于對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行功率穩(wěn)定性測試,方法包括:當(dāng)檢測到被測設(shè)備進(jìn)入開始測試狀態(tài)時(shí),在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi),每隔第一預(yù)設(shè)時(shí)長獲取被測設(shè)備的第一功率采樣值;獲取每一第一功率采樣值對(duì)應(yīng)的功率參考基準(zhǔn)值;將每一第一功率采樣值與其對(duì)應(yīng)的功率參考基準(zhǔn)值進(jìn)行比較,以確定被測設(shè)備的狀態(tài);在確定被測設(shè)備處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),獲取被測設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)的目標(biāo)功率參考基準(zhǔn)值;基于目標(biāo)功率參考基準(zhǔn)值對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行功率校驗(yàn),并輸出校驗(yàn)結(jié)果。上述方法在對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行功率穩(wěn)定性測試時(shí),不需要人工進(jìn)行測試,可實(shí)現(xiàn)測試過程自動(dòng)化,提高測試效率和測試精確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及測試技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種測試方法、電子設(shè)備及儲(chǔ)能設(shè)備。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)在對(duì)設(shè)備進(jìn)行充放電測試時(shí),設(shè)備的功率(充電功率或放電功率)穩(wěn)定性的測試都是依靠人工進(jìn)行,測試過程較為繁瑣,不僅測試效率低下,而且測試的精確性比較差。
因此,現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷,有待改進(jìn)與發(fā)展。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于此,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測試方法、電子設(shè)備及儲(chǔ)能設(shè)備,可以解決由于被測設(shè)備的功率穩(wěn)定性測試都是依靠人工進(jìn)行而導(dǎo)致的測試效率低下且測試精確性差的技術(shù)問題。
本申請(qǐng)第一方面提供一種測試方法,所述方法包括:
當(dāng)檢測到被測設(shè)備進(jìn)入開始測試狀態(tài)時(shí),在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi),每隔第一預(yù)設(shè)時(shí)長獲取所述被測設(shè)備的第一功率采樣值;
獲取每一所述第一功率采樣值對(duì)應(yīng)的功率參考基準(zhǔn)值;
將每一所述第一功率采樣值與其對(duì)應(yīng)的功率參考基準(zhǔn)值進(jìn)行比較,以確定所述被測設(shè)備的狀態(tài);
在確定所述被測設(shè)備處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),獲取所述被測設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)的目標(biāo)功率參考基準(zhǔn)值;
基于所述目標(biāo)功率參考基準(zhǔn)值對(duì)所述被測設(shè)備進(jìn)行功率校驗(yàn),并輸出校驗(yàn)結(jié)果。
本申請(qǐng)第二方面提供一種電子設(shè)備,所述電子設(shè)備包括處理器和存儲(chǔ)器,所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述處理器通過調(diào)用所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的所述計(jì)算機(jī)程序,用于執(zhí)行前述的測試方法。
本申請(qǐng)第三方面提供一種儲(chǔ)能設(shè)備,所述儲(chǔ)能設(shè)備包括電池模組和處理器,所述處理器用于執(zhí)行前述的測試方法,以對(duì)所述電池模組進(jìn)行功率穩(wěn)定性測試。
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N測試方法、電子設(shè)備及儲(chǔ)能設(shè)備,所述測試方法包括:當(dāng)檢測到被測設(shè)備進(jìn)入開始測試狀態(tài)時(shí),在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi),每隔第一預(yù)設(shè)時(shí)長獲取所述被測設(shè)備的第一功率采樣值;獲取每一所述第一功率采樣值對(duì)應(yīng)的功率參考基準(zhǔn)值;將每一所述第一功率采樣值與其對(duì)應(yīng)的功率參考基準(zhǔn)值進(jìn)行比較,以確定所述被測設(shè)備的狀態(tài);在確定所述被測設(shè)備處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),獲取所述被測設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)的目標(biāo)功率參考基準(zhǔn)值;基于所述目標(biāo)功率參考基準(zhǔn)值對(duì)所述被測設(shè)備進(jìn)行功率校驗(yàn),并輸出校驗(yàn)結(jié)果。
本申請(qǐng)實(shí)施例通過根據(jù)被測設(shè)備的每一第一功率采樣值與其對(duì)應(yīng)的功率參考基準(zhǔn)值進(jìn)行比較,確定被測設(shè)備的狀態(tài),以及在被測設(shè)備處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),基于目標(biāo)功率參考基準(zhǔn)值對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行功率校驗(yàn),并輸出校驗(yàn)結(jié)果,則在對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行功率穩(wěn)定性測試時(shí),不需要依靠人工進(jìn)行測試,整個(gè)測試過程自動(dòng)化,有利于提高測試效率。并且,通過被測設(shè)備的狀態(tài)確定以及在被測設(shè)備處于穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),進(jìn)一步對(duì)被測設(shè)備進(jìn)行功率校驗(yàn),有利于提高測試精確性。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種測試方法的流程示意圖;
圖2為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的另一種測試方法的流程示意圖;
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- 專利分類
G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試
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- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





