[發明專利]一種對光模塊進行自動老化測試的測試系統

在審

• 申請號: 202310355922.3
• 申請日: 2023-04-06
• 公開（公告）號: CN116577576A
• 公開（公告）日: 2023-08-11
• 發明（設計）人: 郭利偉;李江華;杜光云;李連城;魏志堅;過開甲;鄭波
• 申請（專利權）人: 深圳市迅特通信技術股份有限公司;江西迅特通信技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京易捷勝知識產權代理有限公司 11613
• 代理人: 韓國勝

本發明涉及一種對光模塊進行自動老化測試的測試系統，包括控制電腦、承載待測光模塊的測試箱；控制電腦基于預先定義的老化測試配置信息，對測試箱內的待測光模塊和測試箱進行控制，以使測試箱基于預設溫度范圍對待測光模塊進行老化測試；所述測試箱包括測試主板；所述待測光模塊進行分層放置且電連接測試主板，控制電腦通過測試主板控制每個待測光模塊；所述測試箱的一側面設置有用于對待測光模塊進行散熱且保持測試箱體內溫度在預設范圍內的散熱結構。本發明能夠提升光模塊老化測試的測試效率和準確度，同時降低了人工干預的成本和風險。

技術領域

本發明涉及一種對光模塊進行自動老化測試的測試系統。

背景技術

光模塊主要由光電子器件、功能電路和光接口等組成，光電子器件包括發射和接受兩部分，光模塊的作用就是發送端把電信號轉換成光信號，通過光纖傳送后，接收端再把光信號轉換成電信號，光模塊是進行光電和電光轉換的光電子器件，為保證光模塊的產品質量，需要對光模塊進行老化測試，如在測試箱中檢測光模塊在不同溫度中的使用壽命。

傳統的進行老化測試的測試箱，通常只是簡單的提供測試箱供電和監控信息面板顯示的功能，在老化測試中需要操作人員的大量參與，同時無法精確控制老化測試環境，對于大批量的光模塊老化測試，難以滿足效率和準確度的要求。

發明內容

(一)要解決的技術問題

鑒于現有技術的上述缺點、不足，本發明提供了一種對光模塊進行自動老化測試的測試系統。

(二)技術方案

為了達到上述目的，本發明采用的主要技術方案包括：

第一方面，本發明實施例提供一種對光模塊進行自動老化測試的測試系統，包括控制電腦、承載待測光模塊的測試箱；

控制電腦基于預先定義的老化測試配置信息，對測試箱內的待測光模塊和測試箱進行控制，以使測試箱基于預設溫度范圍對待測光模塊進行老化測試；

所述測試箱包括：測試主板；

所述待測光模塊進行分層放置且電連接測試主板，控制電腦通過測試主板控制每個待測光模塊；

所述測試箱的一側面設置有用于對待測光模塊進行散熱且保持測試箱體內溫度在預設范圍內的散熱結構。

可選地，所述測試主板包括層板和背板，

所述背板作為測試主板的支撐結構設置于測試箱的一側面；

所述層板通過可拆卸插拔方式與背板電連接；

每一層板通過可插拔方式插接至少一個待測光模塊。

可選地，所述散熱結構為設置在測試箱一側面且并排放置的多個散熱風扇，每一散熱風扇借助于支撐架固定在測試箱的側面，且電連接測試主板；

所述測試箱為半封閉結構，利用待測光模塊工作發熱做熱源，通過控制電腦獲取待測光模塊工作溫度，并根據預設溫度范圍控制所述散熱風扇轉速，實現兩側對流散熱達到恒溫效果。

可選地，所述測試箱還包括DC程控電源，

所述DC程控電源與測試主板、散熱結構電連接；

所述DC程控電源與控制電腦通信連接，接收控制信號對測試箱及待測光模塊進行供電/斷電。

可選地，所述DC程控電源與控制電腦通過串口通信連接。

可選地，所述控制電腦在測試過程中按照預設時間間隔獲取待測光模塊的狀態信息并展示。

可選地，所述待測光模塊的狀態信息包括并不限于以下一種或多種：

光模塊類型，電壓，電流，溫度，發射功率，接收功率，誤碼率。