[發明專利]InSAR相位時序處理方法、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202310348860.3
• 申請日: 2023-04-03
• 公開（公告）號: CN116482683A
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 穆景涵;張奎;劉書君;龔發明;成子林;成彥達;肖堯禹
• 申請（專利權）人: 重慶大學
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 黃宗波

本申請提供一種InSAR相位時序處理方法、電子設備及存儲介質。方法包括：從N+1幅準好的SAR圖像中選取目標干涉對，每個目標干涉對包括兩幅可干涉且基線值小于等于預設基線閾值的SAR圖像；基于目標干涉對，形成基線子集；對每個基線子集中的每個目標干涉對進行差分干涉處理，得到差分干涉圖；根據預設的解纏算子對從差分干涉圖選取的高相干像元進行相位解纏處理，得到解纏結果；對解纏結果進行濾波；基于濾波后的解纏結果，建立目標干涉對中兩幅SAR圖像的形變模型；通過嶺回歸算法，對形變模型進行數據反演，得到目標干涉對中兩幅SAR圖像的形變結果。如此，有利于提高模型的穩定性和魯棒性，以及提高形變監測的精度和可靠性。

技術領域

本發明涉及圖像處理技術領域，具體而言，涉及一種InSAR相位時序處理方法、電子設備及存儲介質。

背景技術

差分干涉測量短基線集時序分析技術(Small?BAseline?Subset-Interferometric?Synthetic?Aperture?Radar，SBAS-InSAR)是一種時間序列合成孔徑雷達差分干涉測量(DInSAR)技術，該技術是將獲得的所有合成孔徑雷達(SyntheticAperture?Radar，SAR)圖像分成若干個集合。在每個子集內可利用最小二乘(LeastSquares，LS)法來獲得地表形變的時間序列，但是在單個集合內的時間采樣率不夠。目前，可以借助奇異值分解法將多個短基線子集聯合起來求解，得到未知參數的最小二乘最小范數解。但是，奇異值分解法是基于廣義逆求解的一種方式，在形變模型存在復共線性問題時廣義逆求解穩定性較差，因此當所有干涉對序列屬于不同集合時，采用奇異值分解法求解SBAS線性形變模型在實際應用中很難實現高精度的廣義逆求解來保證形變監測結果的精度和可靠性。

發明內容

有鑒于此，本申請實施例的目的在于提供一種InSAR相位時序處理方法、電子設備及存儲介質，能夠改善在利用SAR圖像進行形變監測時存在精度和可靠性不足的問題。

為實現上述技術目的，本申請采用的技術方案如下：

第一方面，本申請實施例提供了一種InSAR相位時序處理方法，所述方法包括：

獲取配準好的N+1幅SAR圖像，其中，所述N+1幅SAR圖像中的每幅圖像存在至少一幅可干涉的SAR圖像，N為大于1的整數；

從所述N+1幅SAR圖像中選取目標干涉對，每個所述目標干涉對包括兩幅可干涉且基線值小于等于預設基線閾值的SAR圖像；

基于所述目標干涉對，形成基線子集，其中，每個所述基線子集包括可接連干涉的多幅SAR圖像；

對每個所述基線子集中的每個目標干涉對進行差分干涉處理，得到差分干涉圖；

根據預設的解纏算子對從所述差分干涉圖選取的高相干像元進行相位解纏處理，得到解纏結果，所述解纏結果包括所述高相干像元解纏后的干涉相位；

對所述解纏結果進行濾波，得到濾波后的解纏結果；

基于所述濾波后的解纏結果，建立所述目標干涉對中兩幅SAR圖像的形變模型；

通過嶺回歸算法，對所述形變模型進行數據反演，得到所述目標干涉對中兩幅SAR圖像的形變結果。

結合第一方面，在一些可選的實施方式中，在獲取配準好的N+1幅SAR圖像之前，所述方法還包括：

根據時間序列依次獲得N+1幅待配準SAR圖像；

從所述N+1幅待配準SAR圖像中選取任一圖像作為主圖像，其他圖像為輔圖像，其中，所述其他圖像為所述N+1幅待配準SAR圖像中除去所述主圖像之外的圖像；

對所述主圖像和所述輔圖像進行圖像配準，得到N+1幅配準好的SAR圖像。