[發(fā)明專(zhuān)利]一種用于計(jì)算機(jī)顯示器壞點(diǎn)檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310347586.8 | 申請(qǐng)日: | 2023-04-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN116152224B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-10-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韓蔚;張福美 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 萊蕪職業(yè)技術(shù)學(xué)院 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06T7/00 | 分類(lèi)號(hào): | G06T7/00 |
| 代理公司: | 鄭州知倍通知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 41191 | 代理人: | 陳佳麗 |
| 地址: | 271199 山東*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 計(jì)算機(jī) 顯示器 檢測(cè) 方法 | ||
本發(fā)明涉及圖像處理領(lǐng)域,具體涉及一種用于計(jì)算機(jī)顯示器壞點(diǎn)檢測(cè)方法,包括:獲取計(jì)算機(jī)顯示器的屏幕圖像;根據(jù)屏幕圖像的行和變化曲線以及列和變化曲線的趨勢(shì)項(xiàng),得到對(duì)應(yīng)的趨勢(shì)值,進(jìn)而得到干擾區(qū)域以及無(wú)干擾區(qū)域;根據(jù)各個(gè)像素點(diǎn)的灰度值得到各個(gè)像素點(diǎn)的異常點(diǎn)評(píng)估指標(biāo);根據(jù)各個(gè)像素點(diǎn)的異常點(diǎn)評(píng)估指標(biāo)得到各個(gè)異常點(diǎn);根據(jù)干擾區(qū)域以及無(wú)干擾區(qū)域的各個(gè)異常點(diǎn)得到計(jì)算機(jī)顯示器的各個(gè)壞點(diǎn)。本發(fā)明根據(jù)壞點(diǎn)以及摩爾紋的分布特征,對(duì)計(jì)算機(jī)顯示器的壞點(diǎn)缺陷進(jìn)行識(shí)別,且更加準(zhǔn)確、可靠。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及圖像處理領(lǐng)域,具體涉及一種用于計(jì)算機(jī)顯示器壞點(diǎn)檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
計(jì)算機(jī)顯示器的晶面是一塊整體切割的晶狀體,在加工過(guò)程中若有輕微的震動(dòng)或灰塵落入晶體結(jié)構(gòu)中都會(huì)導(dǎo)致計(jì)算機(jī)顯示器表面壞點(diǎn)的產(chǎn)生且不可修復(fù),而計(jì)算機(jī)顯示器上的亮點(diǎn)、暗點(diǎn)和壞點(diǎn)統(tǒng)稱(chēng)為壞點(diǎn)缺陷;當(dāng)壞點(diǎn)缺陷的個(gè)數(shù)超過(guò)一定數(shù)值會(huì)嚴(yán)重影響到用戶(hù)的使用體驗(yàn),因此顯示器的壞點(diǎn)個(gè)數(shù)是衡量當(dāng)前計(jì)算機(jī)質(zhì)量的重要指標(biāo),對(duì)于計(jì)算機(jī)顯示器表面壞點(diǎn)的缺陷檢測(cè)也成為生產(chǎn)過(guò)程中重要的環(huán)節(jié)。
傳統(tǒng)的壞點(diǎn)檢測(cè)常使用工業(yè)相機(jī)對(duì)待檢測(cè)的計(jì)算機(jī)顯示器進(jìn)行圖像采集并采用單色檢驗(yàn)法;將背景調(diào)整成某一單調(diào)顏色,然后對(duì)壞點(diǎn)缺陷進(jìn)行判斷和識(shí)別;但由于拍攝采集過(guò)程中,感光元件像素的空間頻率與影像中條紋的空間頻率會(huì)經(jīng)常出現(xiàn)接近的情況,導(dǎo)致兩者發(fā)生了波形干涉現(xiàn)象,此時(shí)就會(huì)產(chǎn)生一種新的波浪形干擾圖像,即摩爾紋,摩爾紋會(huì)嚴(yán)重影響到計(jì)算機(jī)顯示器中壞點(diǎn)的判斷和檢測(cè),即由于摩爾紋的干擾,傳統(tǒng)的壞點(diǎn)檢測(cè)所得檢測(cè)結(jié)果容易存在較大誤差,因此設(shè)計(jì)一種可以排除摩爾紋干擾的計(jì)算機(jī)顯示器壞點(diǎn)檢測(cè)的方法是非常重要的。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種用于計(jì)算機(jī)顯示器壞點(diǎn)檢測(cè)方法,以解決現(xiàn)有的問(wèn)題。
本發(fā)明的一種用于計(jì)算機(jī)顯示器壞點(diǎn)檢測(cè)方法采用如下技術(shù)方案:
本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供了一種用于計(jì)算機(jī)顯示器壞點(diǎn)檢測(cè)方法,該方法包括以下步驟:
獲取計(jì)算機(jī)顯示器的屏幕圖像;
根據(jù)屏幕圖像中各行以及各列中像素點(diǎn)的灰度值得到行和變化曲線以及列和變化曲線;根據(jù)行和變化曲線以及列和變化曲線的趨勢(shì)項(xiàng),得到行和變化曲線的趨勢(shì)值以及列和變化曲線的趨勢(shì)值;根據(jù)行和變化曲線以及列和變化曲線的趨勢(shì)值得到縱向區(qū)域編號(hào)集合以及橫向區(qū)域編號(hào)集合,根據(jù)橫向區(qū)域編號(hào)集合以及縱向區(qū)域編號(hào)集合得到干擾區(qū)域以及無(wú)干擾區(qū)域;
根據(jù)各個(gè)像素點(diǎn)的灰度值得到各個(gè)像素點(diǎn)的異常點(diǎn)評(píng)估指標(biāo);根據(jù)各個(gè)像素點(diǎn)的異常點(diǎn)評(píng)估指標(biāo)得到各個(gè)異常點(diǎn);根據(jù)無(wú)干擾區(qū)域中各個(gè)異常點(diǎn)得到無(wú)干擾區(qū)域的各個(gè)壞點(diǎn);根據(jù)干擾區(qū)域各個(gè)異常點(diǎn)的相鄰像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的異常點(diǎn)評(píng)估指標(biāo),得到各列對(duì)應(yīng)的各個(gè)異常組;根據(jù)各個(gè)異常組中包含像素點(diǎn)的個(gè)數(shù)得到各列對(duì)應(yīng)的第一異常組;根據(jù)各列對(duì)應(yīng)的所有第一異常組的個(gè)數(shù)得到干擾區(qū)域的各個(gè)壞點(diǎn);無(wú)干擾區(qū)域的各個(gè)壞點(diǎn)與干擾區(qū)域中的各個(gè)壞點(diǎn)構(gòu)成了計(jì)算機(jī)顯示器的各個(gè)壞點(diǎn),實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)顯示器壞點(diǎn)檢測(cè)。
優(yōu)選的,所述行和變化曲線以及列和變化曲線的獲取步驟包括:
計(jì)算屏幕圖像的每一行中所有像素點(diǎn)的灰度值的累加和,屏幕圖像的所有行對(duì)應(yīng)的累加和構(gòu)成了行和序列,對(duì)行和序列中的所有數(shù)據(jù)進(jìn)行曲線擬合,得到行和變化曲線;
計(jì)算屏幕圖像的每一列中所有像素點(diǎn)的灰度值的累加和,屏幕圖像的所有列對(duì)應(yīng)的累加和構(gòu)成了列和序列,對(duì)列和序列中的所有數(shù)據(jù)進(jìn)行曲線擬合,得到列和變化曲線。
優(yōu)選的,所述行和變化曲線的趨勢(shì)值的獲取表達(dá)式為:
其中,為行和變化曲線的趨勢(shì)值,、為在行和變化曲線對(duì)應(yīng)的趨勢(shì)項(xiàng)上的兩個(gè)隨機(jī)點(diǎn);、分別為隨機(jī)點(diǎn)、的縱坐標(biāo);、分別為隨機(jī)點(diǎn)、的橫坐標(biāo)。
優(yōu)選的,所述干擾區(qū)域以及無(wú)干擾區(qū)域的獲取方法為:獲取橫向區(qū)域編號(hào)集合與縱向區(qū)域編號(hào)集合之間的交集,將交集中的區(qū)域編號(hào)作為干擾區(qū)域?qū)?yīng)的區(qū)域編號(hào),其他區(qū)域編號(hào)作為無(wú)干擾區(qū)域?qū)?yīng)的區(qū)域編號(hào)。
優(yōu)選的,所述各個(gè)像素點(diǎn)的異常點(diǎn)評(píng)估指標(biāo)的獲取表達(dá)式為:
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于萊蕪職業(yè)技術(shù)學(xué)院,未經(jīng)萊蕪職業(yè)技術(shù)學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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