[發明專利]一種同軸式雙組元噴嘴原材料致密性檢測裝置在審
| 申請號: | 202310346418.7 | 申請日: | 2023-04-03 |
| 公開(公告)號: | CN116359095A | 公開(公告)日: | 2023-06-30 |
| 發明(設計)人: | 馬勝;杜疆;朱笑睿;張勤練;張文博;張文強;范文強 | 申請(專利權)人: | 西安航天發動機有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/08 | 分類號: | G01N15/08;G01M3/06 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 賈文婷 |
| 地址: | 710100 陜西省*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 同軸 式雙組元 噴嘴 原材料 致密 檢測 裝置 | ||
本申請公開了一種同軸式雙組元噴嘴原材料致密性檢測裝置,涉及航天運載器發動機制造領域,包括密封套筒、橡膠塞,橡膠塞卡設于同軸式雙組元噴嘴的一端,密封套筒套設于橡膠塞和同軸式雙組元噴嘴外部,同軸式雙組元噴嘴的外壁與密封套筒內壁之間密封連接,密封套筒的一端開設有中心孔,中心孔與同軸式雙組元噴嘴未連接橡膠塞的一端連通,中心孔用于向同軸式雙組元噴嘴內灌入液體;密封套筒設有用于向密封套筒內通入氣體的進氣口。實現對同軸式雙組元噴嘴原材料致密性的檢測。
技術領域
本發明屬于航天運載器發動機制造技術領域,具體涉及一種用于同軸式雙組元噴嘴原材料致密性檢測的裝置。
背景技術
目前,國內外對于原材料致密性無損檢測方法主要有三種:第一種是超聲波探傷,其特征是用超聲波檢測材料和工件、并以超聲波檢測儀作為顯示方式的一種無損檢測方法;第二種是射線探傷,其特征是用射線透過材料和工件,并用接受儀器感光程度確定內部結構的一種無損檢測方法;第三種是滲透探傷,其特征是用滲透液滲入表面開口缺陷中,并用顯像劑顯示缺陷的一種無損檢測方法。第一種超聲波探傷,具有穿透力強、靈敏度高、儀器輕便、探傷靈活等特色,但因探傷結果的可靠性過分依賴于探頭型號、規格和技術指標等,且并無相應的檢測標準,不適于同軸式雙組元噴嘴原材料致密性檢測。第二種射線探傷,可以直觀顯示缺陷的形狀和大小,但對于復雜結構當工件結構重疊時,則無法準確判斷處缺陷。第三種滲透探傷,只能檢測缺陷較大,且長度較小的缺陷,不適于具有貫穿與零件的長、且表面較小的缺陷。
發明內容
本發明解決的技術問題是:克服現有技術的不足,提供一種同軸式雙組元噴嘴原材料致密性檢測裝置,實現對同軸式雙組元噴嘴原材料致密性的檢測。
本發明的技術解決方案是:
一種同軸式雙組元噴嘴原材料致密性檢測裝置,包括密封套筒、橡膠塞,
橡膠塞卡設于同軸式雙組元噴嘴的一端,密封套筒套設于橡膠塞和同軸式雙組元噴嘴外部,同軸式雙組元噴嘴的外壁與密封套筒內壁之間密封連接,密封套筒的一端開設有中心孔,中心孔與同軸式雙組元噴嘴未連接橡膠塞的一端連通,中心孔用于向同軸式雙組元噴嘴內灌入液體;
密封套筒設有用于向密封套筒內通入氣體的進氣口。
所述密封套筒包括左套筒和右套筒,左套筒和有套筒之間螺紋連接;中心孔開設于右套筒端部,進氣孔開設于左套筒。
所述同軸式雙組元噴嘴包括小端、以及與小端相接的斜面部,沿著遠離小端的方向、斜面部的外徑的直徑逐漸增大;右套筒的內壁設有與斜面部配合的錐面部,以使同軸式雙組元噴嘴的外壁與密封套筒內壁之間密封。
所述斜面部套設有第一橡膠圈,第一橡膠圈卡設于斜面部和錐面部之間。
所述右套筒的端部設有連接部,連接部插入到左套筒的內部并與左套筒螺紋連接,左套筒的端部與右套筒的端部之間為多臺階對接結構,沿著遠離密封套筒軸線方向、多臺階對接結構逐漸向靠近中心孔的方向傾斜。
所述左套筒的端部與右套筒的端部之間設置有第二橡膠圈。
所述第二橡膠圈位于多臺階對接結構的中部位置。
所述橡膠塞插入同軸式雙組元噴嘴內的一端呈錐臺形。
所述進氣口連接有進氣管嘴。
綜上所述,本申請至少包括以下有益技術效果:
(1)實現同軸式雙組元噴嘴原材料致密性檢測;
(2)因氣體分子直徑較小,故能夠檢測特別微小原材料缺陷;
(3)通過灌入酒精溶液,可以直觀檢測出原材料是否致密,且能夠直接確定不致密位置及缺陷表面大小。
附圖說明
圖1本發明的結構示意圖。
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