[發明專利]一種檢測電芯異常狀態的方法和裝置

在審

• 申請號: 202310286959.5
• 申請日: 2023-03-22
• 公開（公告）號: CN116400243A
• 公開（公告）日: 2023-07-07
• 發明（設計）人: 郝平超;馮媛;楊洲;嚴曉;趙恩海
• 申請（專利權）人: 上海玫克生儲能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/392
• 分類號: G01R31/392;G01R31/389;G01R31/378;G01R31/367
• 代理公司: 上海碩力知識產權代理事務所(普通合伙) 31251
• 代理人: 童素珠

1.一種檢測電芯異常狀態的方法，其特征在于，包括：

采集預設時間內同一電池組的所有電芯的充電/放電電壓序列；

根據所有所述電芯的充電/放電電壓序列，計算得到每個所述電芯的充電/放電電壓序列的標準分；

當所述充電電壓序列的標準分大于第一預設值，且所述放電電壓序列的標準分小于第二預設值，分析判斷所述電芯發生老化；所述第一預設值大于所述第二預設值；

當所述充電電壓序列的標準分和所述放電電壓序列的標準分都低于第三預設值，分析判斷所述電芯發生內短路。

2.根據權利要求1所述的一種檢測電芯異常狀態的方法，其特征在于，

所述的根據所有所述電芯的充電/放電電壓序列，計算得到每個所述電芯的充電/放電電壓序列的標準分；

其計算公式為其中，V_std為每個所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值的標準分，V為每個所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值，為所有所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值的平均值，σ_t為所有所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值的標準差；t為在所述預設時間內任一預設采樣時間點的時刻；

根據每個所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值的標準分，計算得到每個所述電芯的充電/放電電壓序列的標準分。

3.根據權利要求2所述的一種檢測電芯異常狀態的方法，其特征在于，

所述的根據每個所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值的標準分，計算得到每個所述電芯的充電/放電電壓序列的標準分；

其計算公式為其中，

為每個所述電芯的充電/放電電壓序列的標準分，V_std,n為所有所述電芯的充電/放電電壓序列在第k個所述預設采樣時間點的標準分，n為所述預設采樣時間點的數量,k為小于或等于n的正整數。

4.根據權利要求1-3任意一項所述的一種檢測電芯異常狀態的方法，其特征在于，

所述充電電壓序列包括：所述電芯的充電電壓序列、所述電芯的充電弛豫電壓序列；所述放電電壓序列包括：所述電芯的放電電壓序列、所述電芯的放電弛豫電壓序列。

5.根據權利要求1-3任意一項所述的一種檢測電芯異常狀態的方法，其特征在于，所述的采集預設時間內同一電池組的所有電芯的充電/放電電壓序列，包括：

采集所述預設時間內所述同一電池組的所有所述電芯的電壓序列；

對所述電壓序列進行數據清洗，得到所有所述電芯的充電/放電電壓序列。

6.一種檢測電芯異常狀態的裝置，其特征在于，包括：

采集單元，用于采集預設時間內同一電池組的所有電芯的充電/放電電壓序列；將所述充電/放電電壓序列發送至計算單元；

所述計算單元，用于根據所有所述電芯的充電/放電電壓序列，計算得到每個所述電芯的充電/放電電壓序列的標準分；將所述標準分發送至分析單元；

所述分析單元，用于當所述充電電壓序列的標準分大于第一預設值，且所述放電電壓序列的標準分小于第二預設值，分析判斷所述電芯發生老化；所述第一預設值大于所述第二預設值；當所述充電電壓序列的標準分和所述放電電壓序列的標準分都低于第三預設值，分析判斷所述電芯發生內短路。

7.根據權利要求6所述的一種檢測電芯異常狀態的裝置，其特征在于，

所述計算單元，利用計算公式計算得到每個所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值的標準分；

其中，V_std為每個所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值的標準分，V為每個所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值，為所有所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值的平均值，σ_t為所有所述電芯的充電/放電電壓序列在t時刻的電壓值的標準差；t為在所述預設時間內任一預設采樣時間點的時刻。