[發(fā)明專利]一種動生渦流傳感器及金屬構(gòu)件在線缺陷檢測方法

在審

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• 申請日: 2023-03-21
• 公開（公告）號: CN116124880A
• 公開（公告）日: 2023-05-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 于亞婷;楊維;盧雅麗;王豐龍;孫誠
• 申請（專利權(quán)）人: 電子科技大學(xué)
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 成都虹盛匯泉專利代理有限公司 51268
• 代理人: 王偉

1.基于動生渦流的傳感器，其特征在于，包括：一塊長方體永磁鐵、磁傳感器以及夾具；磁傳感器設(shè)置在長方體永磁鐵一側(cè)，所述夾具用于固定長方體永磁鐵與磁傳感器。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于動生渦流的傳感器，其特征在于，磁傳感器設(shè)置在長方體永磁鐵相對金屬構(gòu)件運動的一側(cè)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于動生渦流的傳感器，其特征在于，磁傳感器為霍爾傳感器。

4.一種運動金屬構(gòu)件缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

S1、將權(quán)利要求1至3任意一項所述的基于動生渦流的傳感器平行放置在距離運動金屬構(gòu)件表面e毫米處；

S2、獲取模擬信號：給磁傳感器供電，采集勻速運動狀態(tài)下的金屬構(gòu)件表面X方向的磁場B_x；

S3、獲取信號曲線：通過信號轉(zhuǎn)化電路，對模擬信號進行濾波，通過上位機獲取磁感應(yīng)強度曲線B_x-t，t為時間；

S4、提取特征信號：提取無缺陷時曲線B_x-t的基值B_x1，然后提取對應(yīng)峰值B_x2，得到峰值變化值△B＝B_x2-B_x1；提取曲線B_x-t從基值B_x1開始變化的時間t₁，峰值的到達時間t₂，得到峰值到達時間△t＝t₂-t₁；

S5、確定缺陷位置：t₂為峰值到達時間，即為傳感器檢測到缺陷信號最強時的時刻，根據(jù)里程求得該缺陷所處位置；

S6、根據(jù)峰值變化值△B、峰值到達時間△t分別擬合得到峰值到達時間與裂紋寬度的關(guān)系式、峰值變化值與裂紋深度的關(guān)系式；從而計算未知裂紋寬度與裂紋深度。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種運動金屬構(gòu)件缺陷檢測方法，其特征在于，步驟S6所述計算未知裂紋寬度包括以下分步驟：

A1、設(shè)置多次裂紋深度相同寬度不同的實驗，得到各次實驗對應(yīng)的峰值變化值、峰值到達時間，以峰值到達時間為橫坐標(biāo)，裂紋不同寬度為縱坐標(biāo)，進行線性擬合，得到峰值到達時間與裂紋寬度的關(guān)系式；

A2、提取未知缺陷的峰值到達時間，將未知缺陷的峰值到達時間帶入步驟A1得到的關(guān)系式，從而得到未知缺陷的寬度。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種運動金屬構(gòu)件缺陷檢測方法，其特征在于，步驟S6所述計算未知裂紋深度，具體包括：

B1、設(shè)置多次裂紋寬度相同深度不同的實驗，得到各次實驗對應(yīng)的峰值變化值、峰值到達時間，以峰值變化值為橫坐標(biāo)，裂紋不同深度為縱坐標(biāo)，進行線性擬合，得到峰值變化值與裂紋深度的關(guān)系式；

B2、提取未知缺陷的峰值變化值，將未知缺陷的峰值變化值帶入步驟B1得到的關(guān)系式，從而得到未知缺陷的深度。