[發(fā)明專利]一種寬光譜InGaAs探測器的光敏元結(jié)構(gòu)及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310252910.8 | 申請日: | 2023-03-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116314426A | 公開(公告)日: | 2023-06-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李雪;顧溢;劉博文;邵秀梅;馬英杰;李淘;龔海梅 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L31/109 | 分類號(hào): | H01L31/109;H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/18 |
| 代理公司: | 上海滬慧律師事務(wù)所 31311 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 200083 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光譜 ingaas 探測器 光敏 結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種寬光譜InGaAs探測器的光敏元結(jié)構(gòu)及其制備方法,所述光敏元結(jié)構(gòu)自下而上依次包含InP腐蝕截止層、Insubgt;0.53/subgt;Gasubgt;0.47/subgt;As吸收層、Insubgt;x/subgt;Gasubgt;1?x/subgt;As組分遞變吸收層、位錯(cuò)阻擋層、高In組分InGaAs吸收層、高In組分InAlAs接觸層。所述Insubgt;x/subgt;Gasubgt;1?x/subgt;As組分遞變吸收層的x自所述Insubgt;x/subgt;Gasubgt;1?x/subgt;As組分遞變吸收層的下端至上端由0.53線性遞變至a,0.53<a≤1,所述高In組分InGaAs吸收層與所述Insubgt;x/subgt;Gasubgt;1?x/subgt;As組分遞變層上端晶格匹配,所述位錯(cuò)阻擋層采用與高In組分InGaAs吸收層晶格匹配的InAlAs或InAsP。還公開了一種制備所述光敏元結(jié)構(gòu)的方法,主要步驟為:InP襯底預(yù)處理,外延材料生長,機(jī)械研磨濕法化學(xué)腐蝕去除InP襯底,選擇性化學(xué)腐蝕去除Insubgt;0.53/subgt;Gasubgt;0.47/subgt;As腐蝕犧牲層。本發(fā)明有利于實(shí)現(xiàn)在可見?短波紅外范圍響應(yīng)的單一寬光譜InGaAs探測器。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體薄膜材料領(lǐng)域,具體涉及一種寬光譜InGaAs探測器的光敏元結(jié)構(gòu)及其制備方法。
背景技術(shù)
以III-V族InP/InGaAs材料體系所制備的短波紅外光電探測器,具有可室溫工作、高靈敏度、高探測率、高可靠性、低功耗、高穩(wěn)定性等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于航天遙感、大氣監(jiān)測、資源探測等多種重要領(lǐng)域。對于大氣監(jiān)測和資源探測領(lǐng)域,近紅外波段含有O2、CO2、CH4、CO、H2O、N2O等多種氣體的大氣吸收譜線,對工作在0.7μm、1.2μm、1.6μm、2.2μm和2.5μm波段的高性能可見-短波紅外寬光譜探測器具有迫切需求;一些礦物質(zhì)如烴類物質(zhì)、粘土礦物、磷酸鹽等資源也在0.4-2.6μm范圍內(nèi)表現(xiàn)出多處特征峰。對于微光夜視和安防監(jiān)控領(lǐng)域,夜天光、月光等微光環(huán)境下光子能量主要分布在可見-短波紅外波段,并且在可見波段具有更強(qiáng)的光子輻射度,為提高探測器夜視環(huán)境下的靈敏度和分辨率,需要增加可見波段的光子探測能力。因此,響應(yīng)波段覆蓋可見-短波紅外的寬光譜探測器具有重要作用。
常規(guī)晶格匹配InP/InGaAs探測器的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)光譜僅能覆蓋900-1700nm短波紅外波段。目前已有大量研究和應(yīng)用展示了通過刻蝕剝離InP襯底制備的可見拓展InGaAs探測器可以實(shí)現(xiàn)400-1700nm的光譜相應(yīng)范圍。2005年美國Sensor?Unlimited公司通過剝離InP基底制備了InGaAs可見拓展焦平面探測器。2019年中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所通過感應(yīng)耦合等離子體刻蝕技術(shù)成功制備了光譜范圍覆蓋500-1700nm的可見拓展InGaAs焦平面探測器。通過增加InGaAs中In的組分可以實(shí)現(xiàn)波長擴(kuò)展的目的,但目前沒有與高In組分InGaAs晶格匹配的襯底,需要通過增加異變緩沖層的方式實(shí)現(xiàn)晶格弛豫,獲得質(zhì)量較好的光譜范圍覆蓋1100-2600nm延伸波長InGaAs探測器材料。然而延伸波長材料不容易實(shí)現(xiàn)可見拓展,這是因?yàn)檩^薄的InP腐蝕截止層可能會(huì)由于晶格失配產(chǎn)生位錯(cuò),失去腐蝕截止作用;而較厚的腐蝕截止層對可見光范圍存在吸收,不能達(dá)到向可見光探測的目的。為實(shí)現(xiàn)響應(yīng)波長范圍覆蓋400~2600nm的可見-短波紅外寬光譜InGaAs探測器,需同時(shí)在InGaAs探測器的可見拓展和延伸波長材料結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上進(jìn)行技術(shù)發(fā)明,實(shí)現(xiàn)既能低損傷去除InP襯底,又可以對延伸波長的光譜范圍產(chǎn)生高效響應(yīng)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的是提供一種寬光譜InGaAs探測器的光敏元結(jié)構(gòu)及其制備方法,旨在解決現(xiàn)有的單一InGaAs探測器光譜范圍較窄的問題。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





