[發明專利]裝調基準平面的構建方法

在審

• 申請號: 202310251927.1
• 申請日: 2023-03-15
• 公開（公告）號: CN116224579A
• 公開（公告）日: 2023-06-06
• 發明（設計）人: 趙記彤;程路超;張健;閆佳鈺;張春林;劉震宇;余毅
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G02B27/00
• 分類號: G02B27/00;G02B27/32;G02B27/62
• 代理公司: 長春中科長光知識產權代理事務所(普通合伙) 22218
• 代理人: 郭婷

1.一種裝調基準平面的構建方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、測量待測平臺的平面度；

S11、將徠卡經緯儀的俯仰角度調整至90度0分0秒，利用所述徠卡經緯儀建立一個與大地平行的90度平面；

S12、在待測平臺上均勻劃分多個相同的小平面區域，并在每個小平面區域上均勻設置至少三個點位，利用所述徠卡經緯儀測量每個點位與所述徠卡經緯儀的90度平面之間的夾角θ，通過激光測距測量每個點位與所述徠卡經緯儀之間的距離Y；

S13、利用夾角θ和距離Y計算每個點位與90度平面之間的高度差Z；

S2、依據高度差Z數據確定待測平臺的最高點位，以最高點位為基準，利用徠卡經緯儀依次掃其他點位，并利用墊片的方式調整其他點位與最高點位等高，則由墊片和待測平臺組成的新平面即為裝調基準平面。

2.如權利要求1所述的裝調基準平面的構建方法，其特征在于，利用所述徠卡經緯儀的掃平功能，建立與大地平行的90度平面。

3.如權利要求1所述的裝調基準平面的構建方法，其特征在于，通過激光測距儀實現S12中的激光測距。

4.如權利要求1所述的裝調基準平面的構建方法，其特征在于，高度差Z的計算公式如下：

Z＝tanθ×Y。

5.如權利要求1所述的裝調基準平面的構建方法，其特征在于，墊片采用銅皮。

6.如權利要求1所述的裝調基準平面的構建方法，其特征在于，還包括：

S3、大面積平面鏡的拼接；

S31、在由墊片和待測平臺組成的新平面上放置拼接框架，拼接框架的底部帶有可調支點，將可調支點放置于各點位上，將平面鏡放入拼接框架，在平面鏡上表面放置等高塊；

S32、在等高塊的上表面均勻設置至少三個復測點，再通過徠卡經緯儀依次掃描所有復測點，并通過調整可調支點的高度調整每塊平面鏡的安置角度，則完成大面積平面鏡的拼接。

7.如權利要求6所述的裝調基準平面的構建方法，其特征在于，可調支點通過旋轉螺紋改變高度。