[發明專利]一種用于光學膜偏光率測試裝置及測試方法

有效

• 申請號: 202310249021.6
• 申請日: 2023-03-15
• 公開（公告）號: CN116465826B
• 公開（公告）日: 2023-10-24
• 發明（設計）人: 吳思遠;金宇雯;樓哲宇;吳濱揚
• 申請（專利權）人: 東陽市誥源閃光材料有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/59
• 代理公司: 南京常青藤知識產權代理有限公司 32286
• 代理人: 毛洪梅

1.一種用于光學膜偏光率的測試裝置，其特征在于：所述光學膜偏光率的測試裝置包括：

測試操作臺（1），所述測試操作臺（1）上端兩側通過軸承板水平對稱設有兩個控制絲桿（2）；

轉動組件，所述轉動組件通過活動組件設于兩個控制絲桿（2）之間，轉動組件包括轉動盤（6）和轉動蝸桿（8），活動組件包括支撐盤（4）；

調節組件，所述調節組件活動設于轉動盤（6）內，調節組件包括調節座（11）和導向塊（13）；

待測光學膜（23），所述待測光學膜（23）通過抓取組件設于轉動盤（6）下端，抓取組件包括若干吸盤（19）；

清潔組件，所述清潔組件設于測試操作臺（1）上端一側，且清潔組件包括懸挑板（20）和墊臺（21）。

2.根據權利要求1所述的一種用于光學膜偏光率的測試裝置，其特征在于：所述支撐盤（4）兩側對稱設有絲桿螺紋塊（5），兩個絲桿螺紋塊（5）分別活動套接兩個控制絲桿（2）設置。

3.根據權利要求2所述的一種用于光學膜偏光率的測試裝置，其特征在于：所述支撐盤（4）內水平開設有轉槽，轉動盤（6）通過軸承水平插接置于轉槽內，轉動盤（6）置于轉槽內外圓周面對稱設有若干蝸齒牙（7），支撐盤（4）內位于轉槽一側連通開設有桿槽，轉動蝸桿（8）通過軸承水平貫穿插接桿槽設置，且轉動蝸桿（8）一側與轉動盤（6）一側蝸齒牙（7）嚙合相連。

4.根據權利要求3所述的一種用于光學膜偏光率的測試裝置，其特征在于：所述轉動盤（6）上端中心豎直設有抵接筒（27），轉動盤（6）下端中心開設有調節槽（29），抵接筒（27）中心連通調節槽（29）中心設置，調節槽（29）內兩側對稱開設有軸連槽（30），調節座（11）兩側對稱設有兩個調節軸（3），調節座（11）水平活動設于調節槽（29），且兩個調節軸（3）分別活動插接兩個軸連槽（30）設置。

5.根據權利要求4所述的一種用于光學膜偏光率的測試裝置，其特征在于：所述轉動盤（6）下端兩側豎直對稱設有加長塊（9），轉動盤（6）位于加長塊（9）一側均開設有導向槽（10），導向槽（10）呈弧形結構設置，導向槽（10）的虛擬軸線與調節軸（3）同軸設置，調節座（11）靠近導向槽（10）一側均水平設有導向塊（13），且兩個導向塊（13）分別活動插接兩個導向槽（10）設置。

6.根據權利要求5所述的一種用于光學膜偏光率的測試裝置，其特征在于：所述導向塊（13）的外側均設有弧形調節板（14），弧形調節板（14）呈弧形結構設置，弧形調節板（14）的虛擬軸線與調節軸（3）同軸設置，轉動盤（6）內靠近導向槽（10）一側均連通開設有齒輪槽（31），齒輪槽（31）內均豎直插接設有調節齒輪（15），弧形調節板（14）靠近調節齒輪（15）一側均對稱設有若干調節齒牙，調節齒輪（15）一側與弧形調節板（14）一側調節齒牙嚙合相連，導向槽（10）內貫穿轉動盤（6）上端開設有伸縮槽（32），且弧形調節板（14）上端活動貫穿伸縮槽（32）設置。

7.根據權利要求6所述的一種用于光學膜偏光率的測試裝置，其特征在于：所述調節座（11）水平開設有分流槽（17），調節座（11）下端連通分流槽（17）開設有若干吸盤接頭，若干吸盤（19）上端分別密封插接吸盤接頭下端設置，待測光學膜（23）水平設于若干吸盤（19）下端，抵接筒（27）內一側豎直開設有負壓接管槽（18），負壓接管槽（18）呈L形結構設置，負壓接管槽（18）一側水平插接設有負壓抽吸管，調節座（11）靠近負壓接管槽（18）一側連通分流槽（17）貫穿開設有對接槽，且對接槽與負壓接管槽（18）之間插接設有密封軟管（28）。