[發(fā)明專利]一種基于目標(biāo)檢測(cè)的水尺水位識(shí)別方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310242498.1 | 申請(qǐng)日: | 2023-03-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116309780A | 公開(公告)日: | 2023-06-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金世俊;仇宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東南大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T7/60 | 分類號(hào): | G06T7/60;G06T5/00;G06T5/20;G06T7/13;G06T5/30;G06T7/70;G06V30/14;G06V30/146;G06V30/19 |
| 代理公司: | 南京眾聯(lián)專利代理有限公司 32206 | 代理人: | 薛雨妍 |
| 地址: | 210096 *** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 目標(biāo) 檢測(cè) 水尺 水位 識(shí)別 方法 | ||
本發(fā)明提出了一種基于目標(biāo)檢測(cè)的水尺水位識(shí)別方法,利用目標(biāo)檢測(cè)得到的水尺區(qū)域圖像,先進(jìn)行中值濾波,再進(jìn)行均值遷移雙邊濾波。對(duì)處理過的圖像使用canny算子檢測(cè)邊緣,使用直線平均角度旋轉(zhuǎn)圖像,進(jìn)行圖像的校正,對(duì)圖像進(jìn)行二值化操作,先采用面積形態(tài)學(xué)閉運(yùn)算和開運(yùn)算,通過水平投影的連續(xù)閾值判定找出水位線的位置。采用目標(biāo)檢測(cè)算法對(duì)水尺上的數(shù)字進(jìn)行定位,并訓(xùn)練數(shù)字模型識(shí)別數(shù)字?jǐn)?shù)值,結(jié)合水平投影找出數(shù)字的位置,計(jì)算高度。本發(fā)明易于實(shí)現(xiàn)、可靠性強(qiáng)、實(shí)時(shí)性高,可為河流水位監(jiān)測(cè)提供實(shí)時(shí)可靠的信息。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)視覺和圖像領(lǐng)域,具體涉及一種基于目標(biāo)檢測(cè)的水尺水位識(shí)別方法。
背景技術(shù)
圖像處理技術(shù)是實(shí)現(xiàn)水尺水位檢測(cè)的一項(xiàng)重要技術(shù),近年來隨著計(jì)算機(jī)視覺領(lǐng)域的不斷開拓與發(fā)展,深度學(xué)習(xí)與目標(biāo)檢測(cè)技術(shù)更是蓬勃發(fā)展,在很多傳統(tǒng)圖像處理技術(shù)不能夠勝任的場(chǎng)景發(fā)揮出優(yōu)勢(shì)。圖像法水尺水位檢測(cè),利用了攝像機(jī)對(duì)水尺區(qū)域拍攝的圖像,進(jìn)行圖像處理得到水位值。這種圖像處理方法是將算法集成到嵌入式的設(shè)備上,只能針對(duì)單一場(chǎng)景進(jìn)行處理找出水尺位置,不能夠面對(duì)背景更加復(fù)雜的場(chǎng)景。與傳統(tǒng)的圖像處理的方法相比,基于深度學(xué)習(xí)的目標(biāo)檢測(cè)技術(shù)能夠幫助我們很好的自動(dòng)定位目標(biāo)水尺區(qū)域。
對(duì)于目標(biāo)水尺區(qū)域,有很多方法去實(shí)現(xiàn)對(duì)水位的提取,如先對(duì)目標(biāo)水尺進(jìn)行二值化操作,基于二值圖像統(tǒng)計(jì)出刻度線的數(shù)量,從而利用水尺自身的高度,換算出水位值,但是這種情況需要水尺圖像完整,如果拍攝的水尺圖像并不完整就無法得到準(zhǔn)確的水位值;還有大多數(shù)水文監(jiān)測(cè)的水尺位于野外環(huán)境,背景中含有很多的干擾,準(zhǔn)確地將水尺從復(fù)雜的背景中提取出來十分困難。傳統(tǒng)的圖像處理在應(yīng)對(duì)單一,特定的場(chǎng)景效果很好,但是一旦場(chǎng)景切換則會(huì)失效。因此有必要使用深度學(xué)習(xí)去學(xué)習(xí)水尺特征,將其準(zhǔn)確地提取。傳統(tǒng)圖像處理去計(jì)算水位值時(shí)需要借助刻度的條數(shù)信息,需要保證水尺的完整性,對(duì)于水尺存在臟污和遮擋不能很好地解決。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題,本發(fā)明公開了一種基于目標(biāo)檢測(cè)的水尺水位識(shí)別方法,利用目標(biāo)檢測(cè)得到的水尺區(qū)域圖像,先進(jìn)行中值濾波,再進(jìn)行均值遷移雙邊濾波。對(duì)處理過的圖像使用canny算子檢測(cè)邊緣,使用直線平均角度旋轉(zhuǎn)圖像,進(jìn)行圖像的校正,對(duì)圖像進(jìn)行二值化操作,先采用面積形態(tài)學(xué)閉運(yùn)算和開運(yùn)算,通過水平投影的連續(xù)閾值判定找出水位線的位置。采用目標(biāo)檢測(cè)算法對(duì)水尺上的數(shù)字進(jìn)行定位,并訓(xùn)練數(shù)字模型識(shí)別數(shù)字?jǐn)?shù)值,結(jié)合水平投影找出數(shù)字的位置,計(jì)算高度。該算法經(jīng)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,自適應(yīng)性更強(qiáng),識(shí)別的精度較高。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出了目標(biāo)檢測(cè)的水尺水位識(shí)別方法,包括以下步驟:
步驟1:利用目標(biāo)檢測(cè)得到的水尺區(qū)域圖像,進(jìn)行中值濾波,再進(jìn)行均值遷移雙邊濾波,去除噪聲并保留邊緣特征;
步驟2:對(duì)處理過的圖像使用canny算子檢測(cè)邊緣,從邊緣圖像中檢測(cè)直線,計(jì)算直線的平均角度,使用平均角度旋轉(zhuǎn)圖像,進(jìn)行圖像的校正;
步驟3:對(duì)圖像進(jìn)行二值化操作,先采用面積形態(tài)學(xué)閉運(yùn)算,對(duì)遮擋的部分二值化圖像進(jìn)行修復(fù),再使用開運(yùn)算對(duì)邊緣干擾進(jìn)行去除,并將其水平投影,通過連續(xù)閾值判定找出水位線的位置;
步驟4:采用目標(biāo)檢測(cè)算法對(duì)水尺上的數(shù)字進(jìn)行定位,并訓(xùn)練OCR模型識(shí)別數(shù)字?jǐn)?shù)值;
步驟5:利用ROI操作,將數(shù)字以外的圖像像素置為255,再將圖像反轉(zhuǎn)。水平投影找出數(shù)字的位置,計(jì)算高度;
步驟6:結(jié)合數(shù)字位置與水位線位置,運(yùn)用設(shè)計(jì)的計(jì)算方法計(jì)算出水位值;。
具體的,在步驟1中,利用目標(biāo)檢測(cè)得到的水尺區(qū)域圖像,先進(jìn)行中值濾波,再進(jìn)行均值遷移雙邊濾波,去除噪聲并保留邊緣特征的具體步驟如下:
步驟1.1:選用中值濾波對(duì)圖像進(jìn)行平滑濾波,中值濾波的計(jì)算公式為公式(1):
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東南大學(xué),未經(jīng)東南大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202310242498.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 目標(biāo)檢測(cè)裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)及目標(biāo)檢測(cè)方法
- 目標(biāo)監(jiān)測(cè)方法、目標(biāo)監(jiān)測(cè)裝置以及目標(biāo)監(jiān)測(cè)程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測(cè)方法和目標(biāo)檢測(cè)裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





