[發(fā)明專利]基于溫控的電芯容量測試方法及裝置、計算機存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310239285.3 | 申請日： | 2023-03-07 |
| 公開（公告）號： | CN116338490A | 公開（公告）日： | 2023-06-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 張恒宜 | 申請（專利權(quán)）人： | 湖北億緯動力有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/387 | 分類號： | G01R31/387;G01R31/378;H01M10/42;H01M10/60 |
| 代理公司： | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人： | 肖郁豐 |
| 地址： | 448000 湖北省*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 溫控 容量 測試 方法 裝置 計算機 存儲 介質(zhì) | ||
1.一種基于溫控的電芯容量測試方法，其特征在于，所述方法包括：
調(diào)整待測電芯的電芯溫控參數(shù)，以使所述電芯溫控參數(shù)滿足預(yù)設(shè)的測試條件，所述電芯溫控參數(shù)包括所述待測電芯的極柱溫度和電芯表面溫度；
確定對所述待測電芯執(zhí)行容量測試操作對應(yīng)的測試類型，所述測試類型包括測試所述待測電芯的充電容量對應(yīng)的充電類型或測試所述待測電芯的放電容量對應(yīng)的放電類型；
調(diào)整所述待測電芯至與所述測試類型匹配的電芯狀態(tài)，并在所述電芯狀態(tài)下，按照預(yù)設(shè)測試時長、預(yù)設(shè)倍率的測試電流對所述待測電芯重復(fù)執(zhí)行與所述測試類型匹配的容量測試操作直至所述待測電芯滿足測試截止參數(shù)，得到多個所述待測電芯對應(yīng)的容量測試數(shù)據(jù)；
分析所述充電類型對應(yīng)的所述容量測試數(shù)據(jù)以及所述放電類型對應(yīng)的所述容量測試數(shù)據(jù)，得到所述待測電芯對應(yīng)的目標(biāo)容量；
其中，與所述測試類型匹配的電芯狀態(tài)包括所述待測電芯的當(dāng)前電儲量等于預(yù)設(shè)截止電量以及所述待測電芯的所述電芯溫控參數(shù)與所述待測類型對應(yīng)的測試溫度相匹配。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于溫控的電芯容量測試方法，其特征在于，當(dāng)所述測試類型為所述充電類型時，所述測試截止參數(shù)為該待測電芯對應(yīng)的上限截止電壓和/或截止時長；與所述測試類型匹配的容量測試操作為充電操作以及降溫擱置操作；
當(dāng)所述測試類型為所述充電類型時，所述測試截止參數(shù)為該待測電芯對應(yīng)的下限截止電壓和/或截止時長；與所述測試類型匹配的容量測試操作為放電操作以及降溫擱置操作；
其中，所述測試截止參數(shù)用于判斷是否需要對所述待測電芯繼續(xù)執(zhí)行所述容量測試操作。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于溫控的電芯容量測試方法，其特征在于，所述按照預(yù)設(shè)測試時長、預(yù)設(shè)倍率的測試電流對所述待測電芯重復(fù)執(zhí)行與所述測試類型匹配的容量測試操作直至所述待測電芯滿足測試截止參數(shù)，得到多個所述待測電芯對應(yīng)的容量測試數(shù)據(jù)，包括：
在對所述待測電芯執(zhí)行所述容量測試操作的循環(huán)測試流程中，根據(jù)預(yù)設(shè)倍率的測試電流以及預(yù)設(shè)測試時長，對所述待測電芯執(zhí)行與所述測試類型匹配的容量測試操作，得到所述待測電芯對應(yīng)的單次量變數(shù)據(jù)以及溫升數(shù)據(jù)，所述單次量變數(shù)據(jù)為所述待測電芯在該循環(huán)測試流程中電芯容量的變化數(shù)據(jù)，所述溫升數(shù)據(jù)包括最高溫度以及擱置時長，所述最高溫度為所述待測電芯在該循環(huán)測試流程中所述電芯溫控參數(shù)發(fā)生升溫的最高溫度，所述擱置時長為對所述待測電芯執(zhí)行降溫操作以使其從所述最高溫度調(diào)整至所述測試溫度耗費的時間；
重復(fù)執(zhí)行所述循環(huán)測試流程直至確定所述待測電芯滿足測試截止參數(shù)時，將所有所述循環(huán)測試流程得到的所述單次量變數(shù)據(jù)以及所述溫升數(shù)據(jù)確定為所述待測電芯對應(yīng)的容量測試數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于溫控的電芯容量測試方法，其特征在于，每一所述循環(huán)測試流程得到的所述溫升數(shù)據(jù)還包括升溫時長，所述升溫時長為該循環(huán)測試流程中所述電芯溫控參數(shù)變化至所述最高溫度對應(yīng)的變化時長；
針對任一所述循環(huán)測試流程，所述對所述待測電芯執(zhí)行降溫操作，包括：
根據(jù)所述測試溫度、所述升溫時長以及所述最高溫度，確定所述待測電芯在當(dāng)前測試環(huán)境下的溫度變化信息，并根據(jù)所述溫度變化信息計算所述待測電芯從所述最高溫度下降至所述測試溫度對應(yīng)的降溫時長，作為擱置時長；
根據(jù)所述擱置時長對所述待測電芯執(zhí)行降溫操作，以使所述待測電芯從所述最高溫度調(diào)整至所述測試溫度。
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