[發(fā)明專利]一種鍺中高N型摻雜淺結(jié)的方法及其應(yīng)用在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202310225688.2 | 申請日: | 2023-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN116313757A | 公開(公告)日: | 2023-06-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王塵;許怡紅;蔡藝軍;左石凱;陳鋮穎;李成 | 申請(專利權(quán))人: | 廈門理工學(xué)院 |
| 主分類號: | H01L21/265 | 分類號: | H01L21/265;H01L21/268;H01L21/285 |
| 代理公司: | 四川省方圓智云知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 51368 | 代理人: | 嚴曉玲 |
| 地址: | 361024 福*** | 國省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 中高 摻雜 方法 及其 應(yīng)用 | ||
1.一種鍺中高N型摻雜淺結(jié)的方法,包括:
清洗p-Ge(100)襯底;
對p-Ge(100)襯底進行磷離子注入;
向摻雜了磷離子注入層的襯底沉積金屬鎳;
對沉積金屬鎳的襯底進行脈沖激光退火,形成鎳鍺化合物;
鎳鍺化合物通過圓形傳輸線模型,即得。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的摻雜淺結(jié)的方法,其中:
所述清洗p-Ge(100)襯底包括:
丙酮、乙醇依次對p-Ge(100)襯底進行10min超聲清洗,隨后以冷去離子水清洗;
清洗后的p-Ge(100)襯底采用酸性溶液分兩次浸泡清洗,最后氮氣吹干,備用。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的摻雜淺結(jié)的方法,其中:
所述p-Ge(100)襯底電阻率為0.088Ωcm。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的摻雜淺結(jié)的方法,其中:
所述酸性溶液分兩次浸泡清洗包括:
首先采用鹽酸溶液浸泡30s,以冷去離子水清洗;重復(fù)清洗及沖洗5次;
隨后再用氫氟酸溶液浸泡15s,以冷去離子水清洗;重復(fù)清洗及沖洗3次。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的摻雜淺結(jié)的方法,其中:
所述鹽酸溶液由質(zhì)量分數(shù)36%的HCl與蒸餾水按照體積比1:4混合制得;
所述氫氟酸溶液由HF與去離子水按照體積比1:50混合制得。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的摻雜淺結(jié)的方法,其中:
所述p-Ge(100)襯底表面摻雜磷離子注入層包括:
在能量為30keV、劑量為5×1015cm-2、注入傾角7°下,進行磷離子的注入。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的摻雜淺結(jié)的方法,其中:
所述金屬鎳的沉積采用磁控濺射進行。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的摻雜淺結(jié)的方法,其中:
所述在沉積金屬鎳的表面進行脈沖激光退火包括:
激光能量密度為300mJ/cm2時,用248nmKrF準分子束激光器對樣品進行掃描式10個脈沖的激光退火。
9.根據(jù)權(quán)利要求1~8任一所述的摻雜淺結(jié)的方法在半導(dǎo)體器件制備中的應(yīng)用。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





