[發明專利]CZT偏壓測試系統及其測試方法、控制裝置和存儲介質

在審

• 申請號: 202310217052.3
• 申請日: 2023-03-08
• 公開（公告）號: CN116068608A
• 公開（公告）日: 2023-05-05
• 發明（設計）人: 辛元娟;郝樹財;韋浩;張保強;王歡;李建;介萬奇;席守智
• 申請（專利權）人: 陜西迪泰克新材料有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00;G01R31/26
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 沈軍

本發明涉及探測器技術領域，本發明提供一種CZT偏壓測試系統及其測試方法、控制裝置，存儲介質，CZT偏壓測試系統的測試方法包括以下步驟：控制高壓生成電路向測試CZT晶體上施加多個第一電壓；獲取信號采集電路識別的每一第一電壓對應的第一信號計數率；根據多個第一信號計數率之間的第一變化率，獲取測試CZT晶體的最佳偏壓。在本發明提供的測試方法中，通過高壓生成電路向測試CZT晶體上施加高壓電壓，然后通過信號采集電路，對測試CZT晶體產生的電子進行收集，得到在此高壓下的CZT晶體的信號計數率，獲取不同高壓狀態下的信號計數率，根據信號計數率之間的變化率的大小，判斷測試CZT晶體最佳偏壓。

技術領域

本發明涉及探測器技術領域，尤其涉及一種CZT偏壓測試系統及其測試方法、控制裝置，存儲介質。

背景技術

CZT探測器（碲鋅鎘探測器）作為新的化合物半導體探測器，其需要工作在一定偏壓環境下，在偏壓作用下，探測器內部產生電場，在被具有電離能力的射線輻射時，會產生電子和空穴對，最終形成電壓脈沖。

然而，在現有技術中，CZT偏壓均采用經驗值，即按照晶體厚度的不同給探測器加上不同的偏壓，但實際最佳偏壓對于不同探測器會有差異，如果偏壓過小會導致信號收集不完全，偏壓過大會出現漏電流過大造成噪聲過大的情況。綜上所述，現有技術中，無法準確獲取不同CZT晶體的最佳偏壓。

發明內容

本發明提供一種CZT偏壓測試系統及其測試方法、控制裝置和存儲介質，用以解決無準確獲取不同CZT晶體的最佳偏壓問題，實現精確獲取CZT晶體的最佳偏壓。

本發明提供一種CZT偏壓測試系統的測試方法，CZT偏壓測試系統包括用以產生電壓的高壓生成電路以及用以收集信號的信號采集電路；

CZT偏壓測試系統的測試方法包括以下步驟：

控制高壓生成電路向測試CZT晶體上施加多個第一電壓；

獲取信號采集電路識別的每一第一電壓對應的第一信號計數率；

根據多個第一信號計數率之間的第一變化率，獲取測試CZT晶體的最佳偏壓。

根據本發明提供的CZT偏壓測試系統的測試方法，控制高壓生成電路向測試CZT晶體上施加多個第一電壓的步驟包括：

根據第一步進電壓值，依次施加多個第一電壓。

根據本發明提供的CZT偏壓測試系統的測試方法，根據第一步進電壓值，依次施加多個第一電壓的步驟包括：

根據第一步進電壓值，依次施加步進增大的多個第一電壓。

根據本發明提供的CZT偏壓測試系統的測試方法，根據多個第一信號計數率之間的第一變化率，獲取測試CZT晶體的最佳偏壓的步驟包括：

根據小于預設變化率的第一變化率，獲取第一變化率對應的多個第一信號計數率；

根據多個第一信號計數率獲取對應的多個第一電壓；

獲取多個第一電壓所處的電壓區間，在對應的電壓區間內獲取最佳偏壓。

根據本發明提供的CZT偏壓測試系統的測試方法，在對應的電壓區間內獲取最佳偏壓的步驟包括：

在電壓區間內，以第二步進電壓值依次施加多個第二電壓；

獲取多個第二電壓對應的第二信號計數率；

根據多個第二信號計數率，獲取最佳偏壓；

其中，第二步進電壓值小于第一步進電壓值。

根據本發明提供的CZT偏壓測試系統的測試方法，根據多個第二信號計數率，獲取最佳偏壓的步驟包括：

獲取多個相鄰的第二信號計數率之間的第二變化率；

獲取第二變化率最小的兩個第二信號計數率對應的第二電壓；

將兩個第二電壓作為最佳偏壓