[發(fā)明專利]走滑斷層走滑量的確定方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202310200230.1
• 申請日: 2023-03-03
• 公開（公告）號: CN116520416A
• 公開（公告）日: 2023-08-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 袁浩偉;張健;荊鐵亞;劉練波;高文;李文輝;朱明宇
• 申請（專利權(quán)）人: 中國華能集團清潔能源技術(shù)研究院有限公司;華能慶陽煤電有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30;G06T17/00;G06T19/20;G06T7/11
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200
• 代理人: 賀小停

本發(fā)明公開了一種走滑斷層走滑量的確定方法及裝置，該方法包括：在滿足地層傾斜度要求的傾斜地層中確定目標(biāo)斷層；根據(jù)所述傾斜地層的三維數(shù)據(jù)，確定所述目標(biāo)斷層的基礎(chǔ)參數(shù)，所述基礎(chǔ)參數(shù)包括：斷層兩盤地層底面信息、以及所述斷層兩盤地層底面與斷層面之間的信息；基于所述目標(biāo)斷層的滑動類型，根據(jù)所述目標(biāo)斷層的基礎(chǔ)參數(shù)確定與所述滑動類型相應(yīng)的走滑量。通過本發(fā)明，可以有效確定傾斜地層中走滑斷層的走滑量。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及基礎(chǔ)地質(zhì)研究領(lǐng)域，具體涉及一種走滑斷層走滑量的確定方法及裝置。

背景技術(shù)

走滑斷層通常具有規(guī)模大、斷裂深度大、封閉性差等特點，在二氧化碳安全封存過程中，走滑斷層的存在一般會影響封存效果，甚至?xí)?dǎo)致二氧化碳產(chǎn)生泄漏風(fēng)險。通常走滑量是評價走滑斷層泄漏風(fēng)險的重要指標(biāo)之一，但是走滑斷層的走滑量計算一直是基礎(chǔ)地質(zhì)中難以解決的問題。

受到復(fù)雜地質(zhì)條件和走滑斷層特征等因素的影響，很難有一種普適性的走滑量計算方法。目前，在計算走滑斷層走滑量時已注意到了地層效應(yīng)的影響，但是關(guān)于地層效應(yīng)與斷層走滑量之間的關(guān)系還未有定量研究。在傾斜地層中，斷層發(fā)生走滑活動通常與伸展活動或者擠壓活動有明顯的區(qū)別，也就是說傾斜地層可以記錄斷層活動性質(zhì)。

但是目前尚未有能夠有效確定傾斜地層中走滑斷層走滑量的方案，這是亟待需要解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種走滑斷層走滑量的確定方法及裝置，以解決上述提及的至少一個問題。

根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供一種走滑斷層走滑量的確定方法，所述方法包括：

在滿足地層傾斜度要求的傾斜地層中確定目標(biāo)斷層；

根據(jù)所述傾斜地層的三維數(shù)據(jù)，確定所述目標(biāo)斷層的基礎(chǔ)參數(shù)，所述基礎(chǔ)參數(shù)包括：斷層兩盤地層底面信息、以及所述斷層兩盤地層底面與斷層面之間的信息；

基于所述目標(biāo)斷層的滑動類型，根據(jù)所述目標(biāo)斷層的基礎(chǔ)參數(shù)確定與所述滑動類型相應(yīng)的走滑量。

具體地，所述斷層兩盤地層底面信息包括：斷層上盤地層底面信息和斷層下盤地層底面信息，通過如下方式確定所述斷層兩盤地層底面信息：

對所述三維數(shù)據(jù)進行切片處理，所述切片處理包括：與目標(biāo)斷層平行的切片處理、與目標(biāo)斷層垂直的切片處理、以及水平切片處理；

在切片處理后的三維數(shù)據(jù)上，確定斷層上盤地層底面信息和斷層下盤地層底面信息。

具體地，所述斷層兩盤地層底面與斷層面之間的信息包括：斷層上盤地層底面與斷層面之間的交點信息、以及斷層下盤地層底面與斷層面之間的交點信息。

優(yōu)選地，所述滑動類型包括：左旋滑動和右旋滑動，基于所述目標(biāo)斷層的滑動類型，根據(jù)所述目標(biāo)斷層的基礎(chǔ)參數(shù)確定與所述滑動類型相應(yīng)的走滑量包括：基于所述目標(biāo)斷層的滑動類型，根據(jù)斷層上盤和下盤地層頂面與斷層面之間的交點信息、斷層上盤斷面與地層底面之間的交點信息確定與所述滑動類型相應(yīng)的走滑量。

根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供一種走滑斷層走滑量的確定裝置，所述裝置包括：

目標(biāo)斷層確定單元，用于在滿足地層傾斜度要求的傾斜地層中確定目標(biāo)斷層；

基礎(chǔ)參數(shù)確定單元，用于根據(jù)所述傾斜地層的三維數(shù)據(jù)，確定所述目標(biāo)斷層的基礎(chǔ)參數(shù)，所述基礎(chǔ)參數(shù)包括：斷層兩盤地層底面信息、以及所述斷層兩盤地層底面與斷層面之間的信息；

走滑量確定單元，用于基于所述目標(biāo)斷層的滑動類型，根據(jù)所述目標(biāo)斷層的基礎(chǔ)參數(shù)確定與所述滑動類型相應(yīng)的走滑量。

具體地，所述斷層兩盤地層底面信息包括：斷層上盤地層底面信息和斷層下盤地層底面信息，所述裝置還包括：地層底面信息確定單元，用于確定所述斷層兩盤地層底面信息，