[發(fā)明專利]一種利用強(qiáng)散射介質(zhì)進(jìn)行激光抗振動(dòng)聚焦裝置及使用方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202310193030.8 | 申請(qǐng)日: | 2023-03-03 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN116068784A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃峰;彭霏;劉宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 福州大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G02B27/42 | 分類(lèi)號(hào): | G02B27/42;G02B27/44;G02B27/09;G02B27/40 |
| 代理公司: | 福州元?jiǎng)?chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡學(xué)俊;薛金才 |
| 地址: | 350108 福建省福州市*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 利用 散射 介質(zhì) 進(jìn)行 激光 振動(dòng) 聚焦 裝置 使用方法 | ||
本發(fā)明提供了一種利用強(qiáng)散射介質(zhì)進(jìn)行激光抗振動(dòng)聚焦裝置及使用方法,依次包括激光器、反射式旋轉(zhuǎn)衰減片、第一可調(diào)圓形光闌、激光擴(kuò)束器、第二可調(diào)圓形光闌、半波片、立方體偏振分束器、空間光調(diào)制器、第一透鏡、第三可調(diào)圓形光闌、第二透鏡、第一物鏡、散射介質(zhì)、第二物鏡、COMS光電探測(cè)器;應(yīng)用本技術(shù)方案可實(shí)現(xiàn)利用散射介質(zhì)相鄰入射光通道之間的強(qiáng)相關(guān)性,抵消振動(dòng)導(dǎo)致的入射光相位平移過(guò)程中的焦點(diǎn)位置變化。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及激光聚焦技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種利用強(qiáng)散射介質(zhì)進(jìn)行激光抗振動(dòng)聚焦裝置及使用方法。
背景技術(shù)
激光聚焦在工藝加工、生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、大氣光學(xué)等領(lǐng)域都有著重要的作用。如激光切割、激光焊接、共聚焦顯微成像、激光導(dǎo)星技術(shù)等都需要聚焦。傳統(tǒng)的激光聚焦光路由激光源、透鏡等光學(xué)元件組成。光路對(duì)振動(dòng)非常敏感,往往光源發(fā)生很小的位移或旋轉(zhuǎn),焦點(diǎn)也會(huì)隨之移動(dòng)甚至不復(fù)存在,所以傳統(tǒng)激光聚焦光路的穩(wěn)定性和抗振性較差。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種利用強(qiáng)散射介質(zhì)進(jìn)行激光抗振動(dòng)聚焦裝置及使用方法,該裝置和方法能夠在光源或系統(tǒng)振動(dòng)時(shí),利用散射介質(zhì)相鄰入射光通道之間的強(qiáng)相關(guān)性,抵消振動(dòng)導(dǎo)致的入射光相位平移過(guò)程中的焦點(diǎn)位置變化。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:一種利用強(qiáng)散射介質(zhì)進(jìn)行激光抗振動(dòng)聚焦裝置,依次包括激光器、反射式旋轉(zhuǎn)衰減片、第一可調(diào)圓形光闌、激光擴(kuò)束器、第二可調(diào)圓形光闌、半波片、立方體偏振分束器、空間光調(diào)制器、第一透鏡、第三可調(diào)圓形光闌、第二透鏡、第一物鏡、散射介質(zhì)、第二物鏡、COMS光電探測(cè)器;
所述激光器作為光源發(fā)射激光,經(jīng)過(guò)反射式旋轉(zhuǎn)衰減片和第一可調(diào)圓形光闌后將激光整形為圓形光斑;隨后經(jīng)過(guò)激光擴(kuò)束器實(shí)現(xiàn)入射光的準(zhǔn)直和擴(kuò)束;擴(kuò)束后的激光經(jīng)過(guò)第二可調(diào)圓形光闌、半波片、立方體偏振分束器后,以水平偏振狀態(tài)入射到空間光調(diào)制器的調(diào)制平面上;調(diào)制后的入射光經(jīng)過(guò)第一透鏡、第三可調(diào)圓形光闌、第二透鏡組成的4f濾波系統(tǒng),由第一物鏡收集聚焦到散射介質(zhì)前表面上;經(jīng)過(guò)散射介質(zhì)作用后的出射光由第二物鏡收集,最后被COMS光電探測(cè)器接收并記錄光強(qiáng)信息。
本發(fā)明還提供了一種利用強(qiáng)散射介質(zhì)進(jìn)行激光抗振動(dòng)聚焦裝置的使用方法,采用了上述的一種利用強(qiáng)散射介質(zhì)進(jìn)行激光抗振動(dòng)聚焦裝置,包括以下步驟:
步驟S1:打開(kāi)激光器和空間光調(diào)制器,在空間光調(diào)制器上加載相位矯正圖和閃耀光柵灰度圖,搭建抗振光路,同時(shí)該光路作為后續(xù)傳輸矩陣測(cè)量和聚焦光路;
步驟S2;在空間光調(diào)制器上加載不同輸入光對(duì)應(yīng)的相位灰度圖,使用四步相移法調(diào)制輸入光的相位,并通過(guò)COMS光電探測(cè)器采集各個(gè)相移下的輸出散斑圖;
步驟S3;將采集的散斑圖轉(zhuǎn)換為矩陣數(shù)據(jù),并帶入計(jì)算公式,即可得到被測(cè)散射介質(zhì)的傳輸矩陣;
步驟S4;使用相位共軛方法計(jì)算得到相位掩膜,加載到空間光調(diào)制器上實(shí)現(xiàn)在指定位置的抗振動(dòng)聚焦。
在一較佳的實(shí)施例中,所述步驟2具體包括在搭建光路的時(shí)候打開(kāi)空間光調(diào)制器,在調(diào)制表面加載相位矯正圖,實(shí)現(xiàn)相位矯正以精準(zhǔn)調(diào)制入射光;同時(shí),在調(diào)制表面加載閃耀光柵灰度圖,將沒(méi)有調(diào)制的零級(jí)衍射光分離出來(lái),再通過(guò)4f濾波系統(tǒng)對(duì)調(diào)制過(guò)的一級(jí)衍射光進(jìn)行選擇和濾波。
在一較佳的實(shí)施例中,步驟3具體包括將空間光調(diào)制器劃分為N個(gè)超像素,每個(gè)超像素由6*6個(gè)小像素組成,并作為散射介質(zhì)測(cè)量系統(tǒng)的輸入自由模式;將輸入光以哈達(dá)瑪基形式入射,對(duì)第n個(gè)輸入光波當(dāng)其相位改變?chǔ)習(xí)r,根據(jù)光的干涉疊加原理,第m個(gè)出射通道上的光強(qiáng)為:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于福州大學(xué),未經(jīng)福州大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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