[發明專利]一種數據校驗測試方法、裝置及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202310179911.4
• 申請日: 2023-02-28
• 公開（公告）號: CN116149901A
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發明（設計）人: 劉國華;王萌萌;鐘戟
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 牛亭亭

本申請公開了一種數據校驗測試方法、裝置及計算機可讀存儲介質，涉及計算機存儲技術領域。方案具體令固態硬盤根據主機發送的控制指令生成校驗數據，并通過主機發送測試數據至固態硬盤，從而在固態硬盤內部處理測試數據I/O的流程中實現了數據校驗，因此能將校驗錯誤第一時間暴露出來，從而不依賴主機側的讀命令，實現了校驗錯誤位置的準確定位；同時在發生校驗錯誤的第一時間向主機反饋，保護了現場環境，為進一步的問題定位提供了便利。

技術領域

本申請涉及計算機存儲技術領域，特別是涉及一種數據校驗測試方法、裝置及計算機可讀存儲介質。

背景技術

目前，采用非易失性內存主機控制器接口規范(NVM?Express，NVMe)的固態硬盤(Solid?State?Disk，SSD)設備，由于其相對于傳統磁盤所具有的高帶寬和低延遲的良好性能，如今正在被越來越廣泛地應用于企業和消費級存儲設備領域中。作為存儲數據的設備，數據讀寫的一致性功能是其最基本、最重要的功能。一般在產品的研發階段會對SSD設備的數據一致性功能做專項測試，測試方法一般是使用主機側工具構造測試數據并下發給SSD設備，然后對相同的地址做讀操作，對讀上來的數據與之前下發的測試數據進行校驗，來判斷是否有校驗錯誤產生。

但是在此測試場景下，當發生寫校驗錯誤時，往往已錯過了第一現場，校驗動作只能在寫完之后對設備進行讀操作時才能進行；如果數據在寫入閃存(Flash)設備之前已經發生錯誤，此時不但寫流程早已經執行完畢，且新的讀流程也已經執行結束，問題發生的現場很有可能已不復存在，給問題定位造成了很大的困難。

鑒于上述問題，如何實現SSD設備一致性功能測試過程中校驗錯誤位置的準確定位，是該領域技術人員亟待解決的問題。

發明內容

本申請的目的是提供一種數據校驗測試方法、裝置及計算機可讀存儲介質，以實現SSD設備一致性功能測試過程中校驗錯誤位置的準確定位。

為解決上述技術問題，本申請提供一種數據校驗測試方法，應用于主機側；所述方法包括：

通過IO測試工具生成控制命令，并發送控制命令至固態硬盤，以用于所述固態硬盤根據所述控制命令生成校驗數據；其中，所述控制命令中至少包含時間戳、數據地址、測試用例信息和任務線程信息；

根據所述控制命令生成測試數據，并發送所述測試數據至所述固態硬盤，以用于所述固態硬盤通過內部的各處理單元依次比對所述測試數據與所述校驗數據；

當通過所述處理單元確定發生校驗錯誤時，接收所述固態硬盤發送的異步事件信息；

根據所述異步事件信息發送管理命令至所述固態硬盤，以用于通過所述管理命令獲取所述固態硬盤內發生校驗錯誤的現場環境數據。

優選地，所述固態硬盤通過內部的各所述處理單元依次比對所述測試數據與所述校驗數據包括：

依次通過接口處理單元、算法處理單元和介質處理單元比對所述測試數據與所述校驗數據，并存儲所述測試數據至NAND?FLASH中；

若所述接口處理單元、所述算法處理單元和所述介質處理單元中任一所述處理單元確定發生校驗錯誤，則發送所述異步事件信息至所述主機。

優選地，在所述通過所述管理命令獲取所述固態硬盤內發生校驗錯誤的現場環境數據之后，還包括：

輸出根據所述現場環境數據解析出的校驗錯誤原因信息。

優選地，若通過所述處理單元確定未發生校驗錯誤，還包括：

發送停止指令至所述固態硬盤，以用于所述固態硬盤擦除所述校驗數據并停止測試過程。

優選地，在所述發送停止指令至所述固態硬盤之后，還包括：

根據所述控制指令和所述停止指令生成數據校驗測試日志。