[發明專利]基于射線源平移復合掃描的內成像方法在審
| 申請號: | 202310169499.8 | 申請日: | 2023-02-27 |
| 公開(公告)號: | CN116309906A | 公開(公告)日: | 2023-06-23 |
| 發明(設計)人: | 劉豐林;倪松;余海軍;陳杰;劉川江 | 申請(專利權)人: | 重慶大學 |
| 主分類號: | G06T11/00 | 分類號: | G06T11/00;G01N23/046 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識產權代理有限公司 11275 | 代理人: | 方鐘苑 |
| 地址: | 400044 重*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 射線 平移 復合 掃描 成像 方法 | ||
1.一種基于射線源平移復合掃描的內成像方法,其特征在于,該方法具體包括以下步驟:
S1:構建基于射線源平移的復合采樣模式hySTCT,具體為:對ROI采用射線源密集采樣方式獲取高分辨率投影數據,對ROI以外區域采用射線源稀疏采樣方式獲取少量低分辨率投影數據;其中,ROI表示感興趣區域;
S2:基于Radon逆變換的線性特性,構建基于數據插值的V-FBP重建方法iV-FBP和基于兩步V-FBP重建方法tV-FBP,并將其用于hySTCT掃描重建;其中,V-FBP表示基于虛擬投影的濾波反投影算法。
2.根據權利要求1所述的基于射線源平移復合掃描的內成像方法,其特征在于,步驟S1具體包括:在hySTCT采樣模式中,對ROI區域進行密集采樣,同時對ROI以外區域進行稀疏采樣;射線源非等間距采樣方式表示為:
其中,是指在hySTCT掃描方式下,射線源采樣時的位置坐標;l是射線源到物體的距離;是下采樣系數,代表非零自然數;N1=2(s-s0)/κΔλ,以及N0=2s0/Δλ,θ是射線源軌跡和探測器旋轉角度,Δλ是射線源采樣間隔,s表示射線源直線運動軌跡距離的一半;s0是射線源掃描ROI半徑為R0時運動距離的一半;
這種采樣模式產生兩種投影數據:一種是以Δλ為采樣間隔密集采樣獲得的ROI投影數據:|λ|≤s0;以及另一種以κΔλ為采樣間隔稀疏采樣的ROI以外區域的投影數據:s0<|λ|≤s,其中,λ代表射線源采樣點,u代表單個探測器單元。
3.根據權利要求2所述的基于射線源平移復合掃描的內成像方法,其特征在于,步驟S1中,s0是射線源掃描ROI半徑為R0時運動距離的一半,幾何關系表示為:其中,h是探測器到物體的距離,d是探測器寬度的一半。
4.根據權利要求2所述的基于射線源平移復合掃描的內成像方法,其特征在于,步驟S2中,利用hySTC掃描模型獲取的數據重建表示為:
公式(1)簡稱為tV-FBP,即兩步V-FBP重建方法;根據V-FBP(·)線性變換特征,兩步V-FBP重建轉換為一步V-FBP重建,表示為:
5.根據權利要求4所述的基于射線源平移復合掃描的內成像方法,其特征在于,步驟S2中,使用一個插值算子I(·)來對稀疏采樣的數據進行插值,表示為:
然后,公式(2)變成
公式(4)被稱為iV-FBP,即基于數據插值的V-FBP重建方法。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于重慶大學,未經重慶大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202310169499.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





