[發明專利]存儲成品的可靠性評價方法、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202310147769.5
• 申請日: 2023-02-21
• 公開（公告）號: CN116434820A
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發明（設計）人: 潘玉茜;張浩明;蔡康偉;周全元;肖軍
• 申請（專利權）人: 武漢置富半導體技術有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56;G06F18/214;G11C16/34
• 代理公司: 北京中強智尚知識產權代理有限公司 11448
• 代理人: 劉麗穎

本申請公開了一種存儲成品的可靠性評價方法、裝置、電子設備及存儲介質，涉及閃存技術領域，解決了目前存在重復的編程和擦除操作使得閃存芯片氧化層變薄以及閾值電壓偏移，造成固態硬盤的可靠性難以評價的問題。該方法包括：響應于閃存測試請求，生成閃存測試指令文件，將閃存測試指令文件發送至閃存測試請求指示的存儲成品；接收測試數據集，采用預設篩選模型對測試數據集進行處理，得到可靠性數據；獲取多個可靠性評價，將可靠性數據與每個可靠性評價對應的數值區間進行比對，確定目標可靠性評價并輸出。

技術領域

本申請涉及閃存技術領域，更具體地，涉及一種存儲成品的可靠性評價方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

固態硬盤(Solid?State?Disk，SSD)由控制單元和存儲單元組成，其中，存儲單元包括閃存(FLASH)芯片或動態隨機存取內存(DRAM)芯片，基于閃存的固態硬盤是固態硬盤的主要類別，其主體為PCB(Printed?Circuit?Board，印制電路板)板，PCB板上集成有控制芯片和用于存儲數據的閃存芯片。

在實際應用的過程中，需要不斷對固態硬盤中的閃存芯片進行編程和擦除操作，重復的編程和擦除操作會使得閃存芯片氧化層變薄以及閾值電壓偏移，導致閃存芯片損壞，造成數據丟失，因此，固態硬盤的可靠性問題成為固態硬盤持續發展亟待解決的難題。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種存儲成品的可靠性評價方法、裝置、電子設備及存儲介質，主要目的在于解決目前存在重復的編程和擦除操作使得閃存芯片氧化層變薄以及閾值電壓偏移，造成固態硬盤的可靠性難以評價的問題。

依據本申請第一方面，提供了一種存儲成品的可靠性評價方法，所述存儲成品包括控制單元和閃存芯片，包括：

響應于閃存測試請求，生成閃存測試指令文件，將所述閃存測試指令文件發送至所述閃存測試請求指示的存儲成品，其中，所述閃存測試指令文件攜帶多個待執行操作信息；

接收測試數據集，采用預設篩選模型對所述測試數據集進行處理，得到可靠性數據，所述測試數據集是所述控制單元接收到所述閃存測試指令文件時，按照所述多個待執行操作信息對所述閃存芯片進行閃存操作并在閃存操作的過程中生成的；

獲取多個可靠性評價，將所述可靠性數據與每個可靠性評價對應的數值區間進行比對，確定目標可靠性評價并輸出。

可選地，所述響應于閃存測試請求，生成閃存測試指令文件，包括：

響應于所述閃存測試請求，定義與所述存儲成品中主控單元之間的信息傳輸指令格式；

獲取多個原始操作信息，以及按照所述信息傳輸指令格式對所述多個原始操作信息進行轉換，得到所述多個待執行操作信息；

基于所述多個待執行操作信息生成所述閃存測試指令文件，所述閃存測試指令文件包括編程操作指令、擦除操作指令、讀操作指令、讀ID操作指令和讀狀態指令中的多種，且每個待執行操作信息對應一指令。

可選地，所述采用預設篩選模型對所述測試數據集進行處理，得到可靠性數據，包括：

在所述測試數據集中識別用于可靠性預測的測試數據作為目標測試數據；

對所述目標測試數據進行線性運算或非線性運算，得到所述目標測試數據對應的目標運算數據；

將所述測試數據集和所述目標運算數據進行組合，得到待運算數據集；

獲取芯片篩選參數，并從所述待運算數據集中提取所述芯片篩選參數指示的待運算數據；

基于所述待運算數據將所述閃存芯片包括的多個閃存塊劃分為多個等級，統計劃分到每個等級的閃存塊的數量；