[發明專利]一種測量帶氣膜孔高溫合金樣件表面等效發射率的實驗裝置

在審

• 申請號: 202310118226.0
• 申請日: 2023-02-15
• 公開（公告）號: CN116295848A
• 公開（公告）日: 2023-06-23
• 發明（設計）人: 牛夷;姜晶;張澤展;張子龍;王超
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00;G01J5/53;G01N25/00;G01N21/31;G01N21/01
• 代理公司: 電子科技大學專利中心 51203
• 代理人: 陳一鑫

1.一種測量帶氣膜孔高溫合金樣件表面等效發射率的實驗裝置，該裝置包括：計算機、光譜儀、聚焦系統、加熱系統，所述加熱系統用于加熱合金樣件，光譜儀通過聚焦系統采集合金樣件表面的輻射光，并將采集數據傳輸給計算機進行分析計算，得到合金樣件表面等效發射率；

所述加熱系統包括：電磁加熱主機、電磁加熱線圈、固定套筒、樣件壓圈、套筒固定座、冷氣接頭；所述電磁加熱線圈由電磁加熱主機控制，所述固定套筒一端開口另一端密封設置冷氣接頭，固定套筒開口的一端內部設置樣件壓圈，樣件壓圈用于固定合金樣件，所述固定套筒設置于套筒固定座上；

所述合金樣件外圓柱形，上下表面開設有貫通的氣膜孔，合金樣件固定于樣件壓圈內時，冷氣從固定套筒一端的冷氣接頭吹入，從合金樣件的氣膜孔吹出；側面開設有熱電偶測溫插孔，熱電偶測溫插孔的深度為圓柱形的半徑；所述固定套筒、樣件壓圈上同樣開設有與合金樣件配合的熱電偶測溫插孔。

2.如權利要求1所述的一種測量帶氣膜孔高溫合金樣件表面等效發射率的實驗裝置，其特征在于，所述固定套筒與套筒固定座接觸的位置，設置一個相互配合的平面，用于放置固定套筒相對套筒固定座轉動。

3.如權利要求1所述的一種測量帶氣膜孔高溫合金樣件表面等效發射率的實驗裝置，其特征在于，所述電磁加熱線圈為銅質空心單層線圈，線圈內通入循環冷卻水。